복합물들의 열 열화를 측정하기 위한 시스템 및 방법
    107.
    发明公开
    복합물들의 열 열화를 측정하기 위한 시스템 및 방법 审中-实审
    测量复合材料热降解的系统和方法

    公开(公告)号:KR1020170033238A

    公开(公告)日:2017-03-24

    申请号:KR1020160115720

    申请日:2016-09-08

    Abstract: 복합물들의열 열화를측정하기위한시스템은, 개구와내부를갖는하우징― 개구는검사될복합물의검사영역을내부에노출시키도록형성됨―; 주로자외방사선을방사하는발광다이오드― 다이오드는내부로그리고개구를통해자외방사선을전달하도록하우징상에장착됨―; 하우징상에장착되며, 검사영역으로부터방사되어개구를통과해내부로전달되는방사선을받도록내부에개방된이미지센서; 및이미지센서로부터신호를수신하도록접속된이미지프로세서를포함할수 있으며, 이미지프로세서는신호에대한응답으로검사영역의열 열화의유무를결정한다.

    Abstract translation: 1。一种用于测量复合物的热降解的系统,包括:壳体开口,具有开口和内部,形成为暴露待检查的复合材料的检查区域; 主要发射紫外辐射的发光二极管 - 二极管安装在壳体上以将紫外线辐射透射进入并穿过开口; 安装在壳体上并且在内部打开以接收从检查区域通过开口辐射到内部的辐射的图像传感器; 并且图像处理器被连接以接收来自图像传感器的信号,其中图像处理器响应于该信号来确定检查区域的热退化的存在或不存在。

    레이저 유발 표면형광 검출 장치
    108.
    发明授权
    레이저 유발 표면형광 검출 장치 有权
    一种用于检测激光诱导表型的装置

    公开(公告)号:KR100483706B1

    公开(公告)日:2005-04-18

    申请号:KR1020020018728

    申请日:2002-04-04

    CPC classification number: G01N21/6452 G01N2201/0637

    Abstract: 본 발명은 레이저 유발 표면형광 검출 장치에 관한 것으로, 생체시료가 배열되는 시료기판으로 투명 또는 반투명 재질의 기판을 사용하고, 시료에서 반사되는 형광과 입사광의 산란광을 집속하는 반사경을 구비하며, 상기 시료를 투과하는 광을 포집하는 집광수단과, 상기 반사경에 의해 반사된 광 및/또는 집광수단에서 출력되는 광에서 노이즈(noise)를 제거하는 기능을 갖는 공간필터와, 공간필터를 통과한 광을 평행광으로 전환하는 평행광학계와, 평행광학계를 통과한 광 중에서 순수한 형광성분을 추출하는 형광필터 및 형광필터에서 출력되는 광을 전기신호로 변환하는 광검출기를 포함하여 시료를 투과하는 빛을 시료측으로 궤환시키는 광 궤환수단을 더 구비함으로써 시료를 투과하는 여기광을 재활용함으로써 발광 포집 효율을 향상시키도록 � �� 것이다.

    레이저 유발 표면형광 검출 장치
    109.
    发明公开
    레이저 유발 표면형광 검출 장치 有权
    激光诱发检测设备

    公开(公告)号:KR1020030079577A

    公开(公告)日:2003-10-10

    申请号:KR1020020018728

    申请日:2002-04-04

    CPC classification number: G01N21/6452 G01N2201/0637

    Abstract: PURPOSE: A laser-induced detecting device for epifluorescence is provided to improve concentration efficiency by using an elliptical, spherical or cylindrical reflector, and to maximize emission efficiency of fluorescence by using effective energy of incident rays with installing a light feedback module. CONSTITUTION: A laser-induced detecting device for epifluorescence is composed of a light source(21) radiating a laser beam; an incidence filter(22) exciting light from the light source; a sample control unit controlling the position of the sample receiving light from the incidence filter; an elliptical reflector(23) reflecting fluorescence from the sample and diffused light of the incident ray; a condenser(25) collecting light through the sample; a spatial filter(26) having a pinhole for removing noise from light reflected from the elliptical reflector and light from the condenser; a collimator(27) converting light from the spatial filter into the parallel beam; a fluorescence filter(28) filtering excitation light through the collimator and passing the pure fluorescence; and a photo detector(29) converting the light from the fluorescence filter into the electric signal.

    Abstract translation: 目的:提供一种用于落射荧光的激光诱导检测装置,以通过使用椭圆形,球形或圆柱形反射器来提高浓度效率,并通过使用入射光线的有效能量安装光反馈模块来最大化荧光的发射效率。 构成:用于落射荧光的激光诱导检测装置由辐射激光束的光源(21)组成; 入射滤光器(22),激发来自光源的光; 样品控制单元,控制从所述入射过滤器接收光的样品的位置; 反射来自样品的荧光的椭圆反射体(23)和入射光线的扩散光; 收集通过样品的光的冷凝器(25); 空间滤波器(26),其具有用于从所述椭圆反射器反射的光和来自所述冷凝器的光中除去噪声的针孔; 将来自空间滤波器的光转换成平行光束的准直器(27) 荧光过滤器(28)通过准直器过滤激发光并通过纯荧光; 以及将来自荧光滤波器的光转换成电信号的光检测器(29)。

    光学分析装置
    110.
    发明申请
    光学分析装置 审中-公开
    光学分析仪

    公开(公告)号:WO2016117530A1

    公开(公告)日:2016-07-28

    申请号:PCT/JP2016/051366

    申请日:2016-01-19

    Inventor: 湯浅 太一

    Abstract:  シンプルな光学系を用い、高い波長分解能が得られる光学分析装置を得る。 光源であるハロゲンランプ101、ハロゲンランプ101からの光を測定対象物に照射する照射光学系を構成する照射系レンズ104、照射系レンズ104と同軸な位置関係にあり、ハロゲンランプ101と測定対象物の間から検出光を分析部109に導く光学部材であるミラー106、ミラー106を介して受光する光に基づいて測定対象物を構成する材料を分析する分析部である分光器109を備え、ミラー106の位置において、ハロゲンランプ101から測定対象物に向かう光は照射系レンズ104の光軸上の周辺部を通り、分光器109で受光する光は照射系レンズ104の光軸上の中心部を通る。

    Abstract translation: 获得使用简单光学系统获得高分辨率的光学分析仪。 该装置包括:作为光源的卤素灯101; 构成用于照射来自卤素灯101的光的待测物体的照明光学系统的照明系统透镜104; 具有与照明系统透镜104同轴的位置关系的光学构件的反射镜106,用于将来自卤素灯101和被测量物体的检测光导向分析部109; 以及作为分析部分的分光器109,用于基于经由反射镜106接收的光来分析作为被测量物体的材料。在反射镜106的位置处,从卤素灯101向被测量物体行进的光 通过照明系统透镜104的光轴上的周边,并且由分光镜109接收的光通过照明系统透镜104的光轴上的中心部分。

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