一种可切换光路的旋转衍射多光谱成像系统

    公开(公告)号:CN114791321B

    公开(公告)日:2025-02-28

    申请号:CN202210456933.6

    申请日:2022-04-27

    Abstract: 本发明公开了一种可切换光路的旋转衍射多光谱成像系统。本发明系统由透射式液晶空间光调制器、偏振薄膜、特殊设计的折衍射一体透镜以及探测器组成。本系统可以通过透射式液晶空间光调制器和偏振薄膜组合来对成像光路进行切换,当使用折衍射一体透镜中心的旋转衍射编码部分进行成像时,可以获得含有光谱特征的旋转衍射模糊图像;当使用折衍射一体透镜外围的折射透镜部分进行成像时,可以获得含有丰富空间细节信息的图像,利用这两种图像可以有效提升旋转衍射多光谱成像系统的重建光谱图像质量。与其他系统相比,本发明系统采集图像的效率更高,不需要精密移动装置,采集到的图像无需进行裁剪、缩放、配准等操作。

    磁条导航仿真处理方法、装置、设备和存储介质

    公开(公告)号:CN119514210A

    公开(公告)日:2025-02-25

    申请号:CN202411630950.2

    申请日:2024-11-15

    Abstract: 本申请涉及一种磁条导航仿真处理方法、装置、计算机设备、存储介质和计算机程序产品。所述方法包括:获取画布,画布中设置有仿真磁导航传感器和仿真引导磁条,仿真磁导航传感器设置有多个检测点,仿真引导磁条覆盖的画布像素点的颜色值为预设颜色值;在画布内,基于仿真磁导航传感器和仿真引导磁条,对磁导航传感器在引导磁条上方移动的场景进行仿真,在仿真过程中检测每个检测点在画布中的坐标;针对每个检测点,根据检测点的坐标确定检测点在画布中的检测区域;对检测区域覆盖的画布像素点进行颜色值检测,通过对比检测到的颜色值和预设颜色值,确定检测点的仿真引导磁条检测结果。采用本方法能够有效提高磁条导航AGV控制算法的开发效率。

    一种钾长石陶瓷烧结白度检测系统及方法

    公开(公告)号:CN119509700A

    公开(公告)日:2025-02-25

    申请号:CN202411559582.7

    申请日:2024-11-04

    Abstract: 本发明公开了一种钾长石陶瓷烧结白度检测系统及方法,涉及陶瓷检测技术领域,包括:在陶瓷烧结炉中构建空间坐标系,并利用多个高温工业摄像机周期捕获陶瓷图像,通过预处理将图像像素坐标转换为三维坐标,进而筛选出陶瓷像素点;参考历史烧结数据,绘制陶瓷表面白度随时间变化的时间序列图,并确定各监测周期的标准白度值,同时拟合炉内温度与烧结时间的关联函数;对当前监测周期的陶瓷图像数据,提取RGB颜色数据并转换为白度值,建立实时监测白度时间序列图;通过比较实际白度与标准白度,对陶瓷像素点进行分类,识别异常像素,根据异常像素的数量和类型,智能判断是否需要调整温度或检查模型异常,从而确保陶瓷烧结质量的稳定性和一致性。

    一种基于可变滤波器面积调节的多光谱成像系统

    公开(公告)号:CN119509695A

    公开(公告)日:2025-02-25

    申请号:CN202411636721.1

    申请日:2024-11-15

    Abstract: 本发明公开了一种基于可变滤波器面积调节的多光谱成像系统,包括:镜头、可变滤波器、探测器和计算设备;镜头包括前组镜头和后组镜头;前组镜头对目标光信息进行汇聚、准直使其入射到可变滤波器上;可变滤波器通过多次调节每个光谱通道的通光面积对入射的目标光信息中各通道光谱成分进行能量编码,输出各次调制后的目标光信息;后组镜头收集各次调制后的目标光信息使其入射到探测器上;探测器探测各次光强度信息并发送至计算设备;计算设备对多次得到的光强度信息进行线性解码,复原得到目标在每种波长下的光谱分量。本发明能解决光能量利用率低、信噪比不高、光谱通道数与空间分辨率相互制约等问题。

    一种具有散热结构的荧光光谱仪
    105.
    发明公开

    公开(公告)号:CN119509692A

    公开(公告)日:2025-02-25

    申请号:CN202411112755.0

    申请日:2024-08-14

    Inventor: 曹阳 章腾蛟 吴登

    Abstract: 本发明涉及荧光光谱仪技术领域,且公开了一种具有散热结构的荧光光谱仪,包括机体,所述机体的内部固定连接有安装板,所述安装板的底部固定连接有散热翅片,所述机体的内部设置有散热机构,机体的内部设置有吸气机构,散热机构包括第一固定筒和电机。本发明通过启动电机带动扇叶对安装板上的电子部件进行风冷散热,同时电机的启动可带动第一皮带轮进行转动,配合第一皮带和第二皮带轮可使第一转轴进行转动,使其第一转轴上的叶板对安装板底部的散热翅片进行散热,同时第一转轴的转动配合第二皮带可使第二转轴进行转动,采用侧面和底部悬空的风冷散热方式,可提高对荧光光谱仪内部电子部件的散热效果,使其电子部件可更快的被降温下来。

    一种采光光纤调试工装、测试设备及测试方法

    公开(公告)号:CN115291409B

    公开(公告)日:2025-02-25

    申请号:CN202210930358.9

    申请日:2022-08-03

    Inventor: 刘本强 王栋

    Abstract: 本申请公开了一种采光光纤调试工装、测试设备及测试方法,采光光纤调试工装调节采光光纤和标准样品的相对位置,包括安装在标准样品一侧的基座、夹持固定采光光纤的夹持组件和设于所述基座且与所述夹持组件相连的调节组件,调节组件驱动所述夹持组件沿面向和背离所述基座的方向移动,以完成采光光纤相对于标准样品的位置调节。上述采光光纤调试工装有调节精细的特点,可以更准、更快的完成调试。

    一种太赫兹超导阵列探测器特性测量装置及测量方法

    公开(公告)号:CN115096442B

    公开(公告)日:2025-02-25

    申请号:CN202210606312.1

    申请日:2022-05-31

    Abstract: 本发明提出的一种新型的太赫兹超导阵列探测器特性测量装置及测量方法,主要通过电信号控制微波开关的投切,使测量装置处于不同的测量状态,通过公用相同的系统链路完成了测量系统的集成化方法,以及后端自动校准程序的方法来完成相应功能。本发明测量装置及测量方法可以实现:测量KIDs探测器的噪声读出,读出电路系统不平衡度校正参数的测量以及KIDs探测器的S21参数的读出,且易于实施例,减少了系统的不必要操作,提高了系统的稳定度,以及有效的降低了测量的误差。

    分光测定装置、分光测定结果显示方法以及程序产品

    公开(公告)号:CN119492442A

    公开(公告)日:2025-02-21

    申请号:CN202411130795.8

    申请日:2024-08-16

    Inventor: 久利龙平

    Abstract: 本发明提供能够更准确地检测对象物所具有的颜色信息、且以能够直观地理解的方式显示检测出的颜色信息的分光测定装置、分光测定结果显示方法以及程序产品。分光测定装置的特征在于,具备:分光测量部,进行对象物的分光测量,并获取分光图像;显示部;以及控制部,根据所述分光图像生成Lab可视化信息,并使所述显示部显示所述Lab可视化信息。另外,优选所述Lab可视化信息是按每个像素将L值转换为亮度而成的L图像、按每个像素将a值转换为亮度而成的a图像、或者按每个像素将b值转换为亮度而成的b图像。

    一种用于包装袋生产的自动化色差检测装置

    公开(公告)号:CN119469414A

    公开(公告)日:2025-02-18

    申请号:CN202510039787.0

    申请日:2025-01-10

    Abstract: 本发明公开了一种用于包装袋生产的自动化色差检测装置,涉及包装袋色差检测技术领域,包括第一输送组件、第二输送组件和检测组件,所述第一输送组件包括第一外架,所述第一外架内底部固定连接有第一输送带;所述第二输送组件包括第二外架,所述第二外架内底部固定连接有第二输送带,所述第二输送带与第一输送带呈配套设置。本发明中,在电机运行带动皮带完全转动一圈后,第一色度计绕过包装袋完成了完全一圈的覆盖式色差检测,对于包装袋表面能够在从第一输送带位置送入后,经过自动化流程实现包装袋表面的全面色差检测,解决了包装袋平铺状态存在检测死角的问题,有效提升了包装袋色差检测结果的准确性。

    一种适用于线光谱测量的大像场成像光谱仪

    公开(公告)号:CN119469410A

    公开(公告)日:2025-02-18

    申请号:CN202411969249.3

    申请日:2024-12-30

    Abstract: 本发明是一种适用于线光谱测量的大像场成像光谱仪,包括沿着光传播的方向依次设置的入射狭缝、准直透镜组、衍射光栅、聚焦透镜组和探测器;入射狭缝引入复色线光源,准直透镜组将复色光准直为平行光束,入射到衍射光栅,不同波长的光将以不同的衍射角从光栅出射,出射平行光束经聚焦透镜组后,不同波长的光聚焦在探测器水平方向不同位置,随波长递增而依次分布,狭缝方向上不同位置的光源经光谱仪后,依次聚焦在探测器竖直方向不同位置。本发明适合作为线光谱共焦位移传感器的内置光谱仪,具有大线视场,低成本,高空间分辨能力和高光谱分辨能力。

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