大口径激光偏振特性测量仪

    公开(公告)号:CN111272284A

    公开(公告)日:2020-06-12

    申请号:CN202010165924.2

    申请日:2020-03-11

    Abstract: 本发明属于光学计量与测量技术领域,具体涉及一种大口径激光偏振特性测量仪;所述大口径激光偏振特性测量仪包括:聚焦光学系统、激光偏振特性测量仪探测器和激光偏振特性测量仪控制器;本发明采用了反射式离轴抛物面反射镜聚焦光学系统对大口径激光光束进行聚焦,避免了透射式光学元件由于材料自身的缺陷对测量光束偏振状态的影响,离轴抛物面反射镜采用小角度入射,聚焦光学系统具有自准直系统确保测量光束入射角小于1.3°,反射对测量光束偏振状态的影响非常小,因此,离轴抛物面式反射光学系统不会对测量光束偏振状态造成影响。本发明解决了目前大口径激光偏振特性测量的难题,具有测量准确度高,应用前景广的特点。

    一种利用DMD的实时矢量光纠缠度测量方法及装置

    公开(公告)号:CN111044147A

    公开(公告)日:2020-04-21

    申请号:CN201911395032.5

    申请日:2019-12-30

    Abstract: 本发明提供了一种利用DMD的实时矢量光纠缠度测量方法及装置。线偏振高斯光通过第一四分之波片、二分之一波片和q板转化为CV光,CV光先通过加有数字光栅的DMD,分成八个相同的部分,生成的八束光依次经过第一透镜、滤波器和第二透镜后沿平行路径传播;该八束光各自分别通过相应的元件来获得对应的光强,八束光通过第三透镜会聚到CCD上进行同时测量;利用CCD测量所得的与八束光对应的光强来计算CV光的VQF值。本发明利用偏振无关的DMD的矢量光纠缠度实时测量技术,能够通过DMD将矢量光等能量均分成8束,分别投影到偏振无关基底下进行矢量光实时VQF测量。

    基于光栅耦合的硅基光电子芯片晶圆级在线测试装置

    公开(公告)号:CN110988646A

    公开(公告)日:2020-04-10

    申请号:CN201911346890.0

    申请日:2019-12-24

    Abstract: 本发明公开了一种基于光栅耦合的硅基光电子芯片晶圆级在线测试装置,涉及硅光子与光电子集成领域。该装置用于实现片上器件的晶圆级在线测试与偏振相关损耗测试,该装置包括至少一组测试结构,每组测试结构包括TE偏振光栅、TM偏振光栅、级联TE偏振光栅与TM偏振光栅的偏振旋转合束器、与偏振旋转合束器相连的第一端面耦合器和形成于划片槽中分别与所述第一端面耦合器、片上器件的第二端面耦合器相连的偏振无关模式转换器。本发明能实现片上器件晶圆级在线测试与偏振相关损耗测试,有效降低硅基光电子芯片的测试成本。

    一种任意奇点光束阶数检测装置及方法

    公开(公告)号:CN110836726A

    公开(公告)日:2020-02-25

    申请号:CN201911114063.9

    申请日:2019-11-14

    Applicant: 深圳大学

    Abstract: 本发明公开了一种任意奇点光束阶数检测装置及方法,所述装置包括:用于生成具有正交线偏振分量的任意拓扑荷数和偏振阶数的奇点光的奇点光束产生模块;用于生成沿预设角度线性偏振的参考光的参考光束产生模块;用于使入射的所述奇点光和所述参考光的水平偏振分量和垂直偏振分量进行分离和相互干涉的偏振分离干涉模块;用于对干涉光强分布进行探测的光强检测模块。本发明通过将任意偏振态的光束进行水平偏振分量和垂直偏振分量进行分离和相互干涉,通过分析干涉条纹,实现对任意奇点光束拓扑荷数与偏振阶数的准确检测,具有检测效率高、适用范围广的优点。

    一种磁场中光源光谱线左旋光和右旋光的区分方法及区分装置

    公开(公告)号:CN110617883A

    公开(公告)日:2019-12-27

    申请号:CN201910769356.4

    申请日:2019-08-20

    Inventor: 张建民

    Abstract: 本发明提出了一种磁场中光源光谱线左旋光和右旋光的区分方法及区分装置,属于光谱测量技术领域,其具体包括光源、电磁铁、聚光镜、干涉滤光片、1/4波片、偏振片、F-P标准具、望远镜及可拍照手机。光源置于电磁铁产生的磁场中,聚光镜、干涉滤光片、1/4波片、偏振片、F-P标准具、望远镜及可拍照手机平行于磁场方向按照从前往后的顺序依次设置且均与光源同轴。利用本发明的方法及装置不仅可以区分出左旋光和右旋光,对左旋光和右旋光的进一步分析和研究提供参考,而且区分装置成本低,区分方法过程简单易操作。

    一种基于S波片测量径向偏振光纯度的装置及方法

    公开(公告)号:CN110207825A

    公开(公告)日:2019-09-06

    申请号:CN201910305484.3

    申请日:2019-04-16

    Inventor: 陈檬 彭红攀 周巍

    Abstract: 本发明公开了一种基于S波片测量径向偏振光纯度的装置及方法,包括:沿光线传播方向依次放置的激光源、偏振转换装置、S波片和偏振光检测装置;激光源的水平出射光经偏振转换装置转换为径向偏振光,径向偏振光经S波片转换为线偏振光;偏振光检测装置检测线偏振光的纯度,基于线偏振光的纯度得到径向偏振光的纯度。本发明通过S波片将径向偏振光转换为线偏振光,用偏振检测装置检测线偏振光的纯度,从而得到径向偏振光偏振纯度;本发明具有简单、有效、高速的特点,能够快速检测径向偏振光的纯度。

    检测亚波长尺度多焦点光斑偏振取向的装置及方法

    公开(公告)号:CN107515047B

    公开(公告)日:2019-08-30

    申请号:CN201710854494.3

    申请日:2017-09-20

    Applicant: 鲁东大学

    Abstract: 本发明公开了一种检测亚波长尺度多焦点光斑偏振取向的装置及方法。角向偏振的激光束经过纯相位空间光调制器调制后可以在焦平面产生多个偏振取向不同的光斑。将金膜表面的周期性狭缝微结构放置在焦平面上,当光斑的偏振方向与狭缝的取向相互垂直时,入射光斑可以最有效地耦合成表面等离激元。当光斑的偏振方向与狭缝的取向相互平行时,入射光斑几乎不能激发表面等离激元。当光斑的偏振方向与狭缝的取向形成一个小于九十度夹角时,其耦合效率正比于该夹角的正弦的平方。通过泄漏辐射显微成像系统可以观察多个光斑所在位置的表面等离激元强度,从而实现每个光斑偏振取向的检测。

    一种量子阱红外圆偏振探测器

    公开(公告)号:CN109742173A

    公开(公告)日:2019-05-10

    申请号:CN201910021590.9

    申请日:2019-01-10

    Abstract: 本发明公开了一种量子阱红外圆偏振探测器,其结构包括金属反射镜、量子阱红外光电转换激活层、大周期金属光栅、小周期亚波长金属光栅、二维金属超表面,其中大周期金属光栅、小周期亚波长金属光栅和二维金属超表面嵌埋在对工作波段透明的介质层中。本发明利用二维金属超表面和小周期亚波长金属光栅形成选择转换腔,可选择透射特定类型圆偏振光并将其转换为相应的线偏振光;大周期金属光栅与金属反射镜形成等离激元微腔,将经过选择转换腔的光子电矢量方向由x方向转换为z方向,使其能够被量子阱子带跃迁吸收实现光电转换。同时微腔有效增强量子阱红外光电转换激活区的电场强度,进一步增强对光子的吸收,从而实现探测器对圆偏振光的选择和探测。

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