波长可变干涉滤波器、光模块以及光分析装置

    公开(公告)号:CN102636829A

    公开(公告)日:2012-08-15

    申请号:CN201210033130.6

    申请日:2012-02-14

    CPC classification number: G02B26/001 G01J3/26 G01J3/50 G02B26/06

    Abstract: 本发明涉及波长可变干涉滤波器、光模块和光分析装置。该波长可变干涉滤波器具备:第一反射膜,设置在第一基板的与第二基板相对的面上;第二反射膜,设置在第二基板的与第一基板相对的面上;第一电极,设置在第一基板的与第二基板相对的面上;以及第二电极,设置在第二基板的与第一基板相对的面上;并且第二基板具备设置了第二反射膜的可动部、以及保持可动部并允许可动部在基板的厚度方向移动的连接保持部,连接保持部围绕可动部连续地形成且其厚度尺寸小于可动部的厚度尺寸,第二电极设置在第二基板的厚度尺寸比连接保持部大的部分。

    滤光器、滤光器模块、分析设备及光学设备

    公开(公告)号:CN102628987A

    公开(公告)日:2012-08-08

    申请号:CN201210024540.4

    申请日:2012-02-03

    Inventor: 松下友纪

    CPC classification number: G02B26/02 G01J3/26 G01J3/50 G01N21/251 G02B5/28

    Abstract: 本发明提供了一种滤光器、滤光器模块、分析设备及光学设备。该滤光器包括:第一基板;第二基板;第一反射膜,设置在第一基板上;第二反射膜,设置在第二基板上;第一固定电极及第二固定电极,设置在第一基板上,在俯视图中位于第一反射膜的周围;以及第一可变电极和第二可变电极,设置在第二基板上,与第一固定电极及第二固定电极相向,其中,第一可变电极和第二可变电极以成为以反射膜为中心的中心对称构造的方式形成有第二可变电极的狭缝部。

    光组件以及光分析装置
    113.
    发明公开

    公开(公告)号:CN102621613A

    公开(公告)日:2012-08-01

    申请号:CN201210018178.X

    申请日:2012-01-19

    Inventor: 野泽武史

    CPC classification number: G02B26/001 G01J3/26 G01J3/50

    Abstract: 本发明提供一种光组件以及光分析装置。其中,测色传感器具备:标准具、接收透过了标准具的检查对象光的光接收元件、以及保持标准具的保持部件。该标准具包括:第一基板、与第一基板相对的第二基板、设置在第一基板的与第二基板相对的面上的固定反射镜、以及设置在第二基板上且隔着规定的间隙与固定反射镜相对的可动反射镜。标准具在观察基板厚度方向的俯视图中具备第一基板及第二基板相对的光干涉区域、以及从光干涉区域突出的突出区域。保持部件在突出区域的与光干涉区域相反侧的一端侧保持标准具。

    分光测量装置
    114.
    发明公开

    公开(公告)号:CN102478429A

    公开(公告)日:2012-05-30

    申请号:CN201110262087.6

    申请日:2011-09-06

    Inventor: 舟本达昭

    Abstract: 本发明提供一种分光测量装置,该分光测量装置包括:发射在所述可见光波长区域无峰值波长、并且随着波长由短波向长波的增大光量增大的光的钨灯;发射在可见光波长区域具有峰值波长的光的紫色LED;将钨灯和紫色LED发射的光混合的光混合器;让在所述光混合器混合的光入射、并且使混合的光的入射光中的特定波长的光透过的标准具;接收透过标准具的光的光接收部;转换可透过标准具的光波长,并根据光接收部接收到的光来测量透过标准具的光的分光特性的测量控制部。

    滤光器、使用该滤光器的分析设备以及光学设备

    公开(公告)号:CN102193186A

    公开(公告)日:2011-09-21

    申请号:CN201110064935.2

    申请日:2011-03-14

    Inventor: 松下友纪

    CPC classification number: G02B26/001 G01J3/26 G02B6/29346 G02B6/29395

    Abstract: 本发明涉及滤光器、使用该滤光器的分析设备以及光学设备。该滤光器具有对置的第1反射膜和第2反射膜、第1电极、第2电极、第3电极、第4电极、电位差控制部,第1电极和第3电极隔开第1距离地对置,第2电极和第4电极隔开与第1距离不同的第2距离地对置,通过电位差控制部使第1电极和第3电极之间产生电位差来使第1电极和第3电极抵接,使第2电极和第4电极之间产生电位差来使第2电极和上述第4电极抵接,从而能够高精度地控制第1反射膜和第2反射膜之间的间隙。

    滤光器及其制造方法、分析设备以及光设备

    公开(公告)号:CN102193183A

    公开(公告)日:2011-09-21

    申请号:CN201110049729.4

    申请日:2011-02-28

    Inventor: 山崎成二

    CPC classification number: G01J3/46 G01J3/26 G02B1/105 G02B1/14 G02B26/001

    Abstract: 本发明涉及滤光器及其制造方法、分析设备以及光设备。本发明的滤光器具有对置的第1、第2基板、在第1、第2基板上设置的第1、第2反射膜、在第1、第2基板上设置的第1、第2接合膜、以及在第1、第2反射膜的表面形成的第1、第2阻隔膜,第1阻隔膜的臭氧或紫外线的透射率比第1反射膜低,第2阻隔膜的臭氧或紫外线的透射率比第2反射膜低,在制造或实际使用滤光器时,保护反射膜免受臭氧或紫外线的影响,不会使滤光器特性变差。

    适配于光谱分析的装置
    120.
    发明公开

    公开(公告)号:CN102132144A

    公开(公告)日:2011-07-20

    申请号:CN200980133231.7

    申请日:2009-06-10

    Inventor: H.G.E.马丁

    Abstract: 一种适配于光谱分析的装置(“A1”),具有:光发射构件(10,2a);界定空间(11),具有空腔形式,用作测量单元且限定光学测量距离(“L”);光感测构件(12),用于检测从所述光发射构件(10)经过所述光学测量距离(“L”)的辐射(4);以及至少连接到所述光感测构件(12)且执行光谱分析的单元(13)。使来自光发射构件的辐射射束以不同的入射角经过光学带通滤波器(3f)。该滤波器构建为使得依赖于入射角的波长经过。把第一选择波长成分与第二波长成分分离,该第一和第二波长成分均在其光电构件(3b,3b’)中接收。所述单元适配于检测和计算每个这种波长成分的发生的辐射强度。

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