不純物測定方法および装置
    112.
    发明申请
    不純物測定方法および装置 审中-公开
    重量测量方法和装置

    公开(公告)号:WO2004111619A1

    公开(公告)日:2004-12-23

    申请号:PCT/JP2004/008318

    申请日:2004-06-14

    Abstract:  不純物測定装置は、サンプル(S)が破断面(h)を上向きにして配置されるテーブル(T)と、複数の方向から光(L)を破断面(h)に照射する照明手段(7)と、光(L)により照らされた破断面(h)を撮像する撮像手段(10)と、撮像された画像をカラー濃淡処理するカラー濃淡処理手段と、カラー濃淡処理の結果としきい値との比較により画像を2値化処理する2値化処理手段とを備える。  複数の方向から光(L)を破断面(h)に照射することにより、破断面(h)を撮像した画像に、破断面(h)の微細な凹凸による陰影や光ムラなどが生じない。このため、この画像をカラー濃淡処理および2値化処理することにより、破断面(h)からサンプル(S)中の不純物の検出を正確に行うことができる。

    Abstract translation: 一种杂质测量装置,包括:台面(T),样品(S)以其断裂面(h)向上放置在其上;照明装置(7),用于从多个部分用光(L)照射断裂面 的方向的成像装置,用于对由光(L)照射的断裂面(h)进行成像的成像装置(10),用于对成像的图像进行深色和浅色着色的暗色和浅色着色装置,以及用于使图像二值化的二值化装置 通过比较暗和浅色的结果与阈值。 从多个方向用光(L)照射断裂面(h)确保通过对断裂面(h)进行成像而获得的图像由于断裂面(h)中的微小凹凸而不受遮光或光学不规则。 因此,可以通过对图像进行深色和浅色和二值化来精确地检测来自断裂面(h)的样品(S)中的杂质。

    DUAL IMAGE VIDEO INSPECTION APPARATUS
    114.
    发明申请
    DUAL IMAGE VIDEO INSPECTION APPARATUS 审中-公开
    双图像视频检查设备

    公开(公告)号:WO1991004634A1

    公开(公告)日:1991-04-04

    申请号:PCT/US1990005269

    申请日:1990-09-17

    Applicant: PRESSCO, INC.

    Abstract: A video inspection system includes first and second video cameras (36 and 48) mounted along a parallel axes. A lighting array (16) is pulsed, and resultant light is reflected from a specimen to both cameras. Orientation of the specimen is determined in accordance with an image generated from a first camera (36). This data is used to isolate a selected portion of the specimen for analysis by an image generated from the second camera (48).

    Abstract translation: 视频检查系统包括沿着平行轴安装的第一和第二摄像机(36和48)。 照明阵列(16)被脉冲,并且所得到的光从样本反射到两个照相机。 根据从第一相机(36)产生的图像来确定样本的取向。 该数据用于通过由第二照相机(48)产生的图像来隔离样本的选定部分进行分析。

    VORRICHTUNG ZUR EMISSION ELEKTROMAGNETISCHER STRAHLUNG, INSBESONDERE UV-STRAHLUNG
    115.
    发明申请
    VORRICHTUNG ZUR EMISSION ELEKTROMAGNETISCHER STRAHLUNG, INSBESONDERE UV-STRAHLUNG 审中-公开
    DEVICE排放电磁辐射,特别是UV辐射

    公开(公告)号:WO2017046249A1

    公开(公告)日:2017-03-23

    申请号:PCT/EP2016/071833

    申请日:2016-09-15

    Applicant: BREIT, Marc

    Inventor: BREIT, Marc

    Abstract: Die Erfindung betrifft eine Vorrichtung (1) zur Emission elektromagnetischer Strahlung, insbesondere UV-Strahlung, die zumindest ein Strahlungsmittel (2) aufweist, das lediglich Strahlung in sichtbaren Wellenlängen emittiert. Erfindungsgemäß umfasst die Vorrichtung eine Einrichtung zur Erkennung eines Funktionsfehlers des Strahlungsmittels. Zweckmäßigerweise ist das Strahlungsmittel (2) zur Emission von lediglich UV-Strahlung und/oder IR-Strahlung vorgesehen und durch eine Leuchtdiode gebildet. In einer Ausgestaltung der Erfindung ist die Erkennungseinrichtung (3) zur kontinuierlichen Überwachung des Strahlungsmittels (2) auf Funktionsfehler eingerichtet und die Vorrichtung (1) weist eine Steuer- oder/und Regelungseinrichtung (4) auf, die dazu vorgesehen ist, das Strahlungsmittel (2) bei Erkennung des Funktionsfehlers durch die Erkennungseinrichtung (3) automatisch außer Betrieb zu setzen und/oder den Funktionsfehler anzuzeigen.

    Abstract translation: 本发明涉及一种装置(1),用于发射电磁辐射,尤其是具有UV辐射的至少一个辐射装置(2),其中只有发射辐射在可见光波长。 根据本发明,该装置包括用于检测所述辐射装置的功能失效的装置。 方便地,用于发射紫外线辐射和/或IR辐射仅仅提供的辐射的装置(2),并通过发光二极管形成。 在本发明的一个实施方案中,所述检测装置(3)进行连续监测的辐射装置(2)的适于起到误差和装置(1)包括被提供给所述辐射装置的控制和/或调节装置(4)(2 自动由识别装置(3)不工作的设定)在识别出所述误差函数的和/或显示的误差函数。

    LEUCHTE UND VERFAHREN ZUM BETRIEB EINER LEUCHTE
    116.
    发明申请
    LEUCHTE UND VERFAHREN ZUM BETRIEB EINER LEUCHTE 审中-公开
    轻工业,一种用于操作LIGHT

    公开(公告)号:WO2016041994A1

    公开(公告)日:2016-03-24

    申请号:PCT/EP2015/071140

    申请日:2015-09-15

    Applicant: BREIT, Marc

    Inventor: BREIT, Marc

    Abstract: Die Erfindung betrifft eine Leuchte, insbesondere zur Prüfung von Werkstückoberflächen unter Benutzung eines fluoreszierenden Markierungsmittels, die zumindest zwei Leuchtmittel (2, 3) aufweist, die elektromagnetische Strahlung unterschiedlicher Wellenlängenbereiche emittieren. Erfindungsgemäß ist die Leuchte dadurch gekennzeichnet, dass für zumindest eines der Leuchtmittel (2, 3) eine Intensität, mit der das Leuchtmittel (2, 3) strahlt, separat verstellbar ist. Zweckmäßigerweise ist die Leuchte (1) dazu eingerichtet, die Intensität zumindest eines der Leuchtmittel (2, 3) zu vergrößern oder zu verringern und gleichzeitig die Intensität zumindest eines anderen der Leuchtmittel (2, 3) konstant zu halten oder entgegengesetzt zum erstgenannten Leuchtmittel zu verringern bzw. zu vergrößern. In einer Ausgestaltung der Erfindung ist die Leuchte (1) zur Verstellung der Intensität in einer derartigen Geschwindigkeit eingerichtet, dass sich das menschliche Auge während der Verstellung ohne Beeinträchtigung des Sehvermögens an eine Änderung der Intensität anpassen kann.

    Abstract translation: 本发明涉及一种照明器具,特别是用于工件表面的使用荧光标记试剂,所述至少两个光源的测试(2,3)发射不同波长范围的电磁辐射。 根据本发明,照明装置的特征在于,是用于灯中的至少一个(2,3)的发光装置的强度(2,3)辐射单独调节的。 便利地,所述灯(1)被适配为在灯中的至少一个的强度(2,3),以增加或减少,同时保持至少一个其它灯的强度(2,3)保持恒定或相对降低第一次提到的光源 或放大。 在本发明的一个实施例中,灯(1)被适配为以一定的速率,使得人眼能够不视力损伤的调节期间适应强度的变化而调整强度。

    APPARATUS, SYSTEM AND METHOD FOR DETECTING DEFECTS OF METALLIC LIDS
    118.
    发明申请
    APPARATUS, SYSTEM AND METHOD FOR DETECTING DEFECTS OF METALLIC LIDS 审中-公开
    用于检测金属锂缺陷的装置,系统和方法

    公开(公告)号:WO2011055397A4

    公开(公告)日:2011-06-30

    申请号:PCT/IT2010000427

    申请日:2010-10-25

    Inventor: BALDUCCI MASSIMO

    Abstract: The present invention relates to an apparatus for detecting defects of elements to be subjected to examination, particularly metallic lids, comprising means (30) for lighting an element to be subjected to examination, an image acquisition unit for acquisition of images, such as a camera or like, able detecting image of said element to be subjected to examination lightened by said lighting means (30), a unit for processing images acquired by said image acquisition unit, suitable to detect said defects, wherein said lighting means (30) emit radiation beams according two or more frequencies (f1, f2, f3) included within a range set beforehand, each one of said radiation beams lighting said element to be subjected to examination according to an optical path, individuating an incidence angle (a) with respect to the surface of said element to be subjected to examination included between a grazing minimum incidence angle and a scattering maximum incidence angle, said lighting means (30) being provided so that incidence angle (a) realized by the optical path of each one of said radiation beams emitted by lighting means (30) is directly proportional or inversely proportional with respect to the relevant emission frequency (f1, f2, f3).

    Abstract translation: 本发明涉及一种用于检测待检查元件(特别是金属盖)的缺陷的设备,包括用于点亮待检查元件的装置(30),用于获取图像的图像获取单元,诸如照相机 或能够检测由所述照明装置(30)照亮的待检查元件的图像,用于处理由所述图像采集单元采集的图像的单元,适于检测所述缺陷,其中所述照明装置(30)发射辐射 根据包括在预先设定的范围内的两个或更多个频率(f1,f2,f3)的光束,所述辐射束中的每一个照射所述待根据光路进行检查的元件,将入射角(α) 所述待检查元件的表面包括掠入射最小入射角与散射最大入射角之间,所述照明装置(30)为 使得由照明装置(30)发射的每个所述辐射束的光路实现的入射角(α)与相关发射频率(f1,f2,f3)成正比或成反比。

    READING DEVICES FOR TESTSTRIPS
    119.
    发明申请
    READING DEVICES FOR TESTSTRIPS 审中-公开
    阅读设备的测试

    公开(公告)号:WO1995013531A1

    公开(公告)日:1995-05-18

    申请号:PCT/EP1994003700

    申请日:1994-11-08

    Abstract: A method of "reading" the result of an assay effected by concentrating a detectable material in a comparatively small zone of a carrier in the form of a strip, sheet or layer through the thickness of which electromagnetic radiation such as visible light is transmissible, wherein at least a portion of one face of the carrier is exposed to incident electromagnetic radiation which is substantially uniform across the entire portion, the portion including the small zone, and electromagnetic radiation emerging from the opposite face of the carrier is measured to determine the assay result. Preferably the radiation is diffuse light.

    Abstract translation: 通过将可检测材料集中在带状,片状或层状形式的载体的相对小的区域中,通过将可见光的电磁辐射可透射的厚度集中在其中,“读取”测定结果的方法,其中 载体的一个面的至少一部分被暴露于在整个部分上基本均匀的入射电磁辐射,包括小区域的部分和从载体的相对面引出的电磁辐射被测量以确定测定结果 。 优选地,辐射是漫射光。

    ENGINEERED VIDEO INSPECTION LIGHTING ARRAY
    120.
    发明申请
    ENGINEERED VIDEO INSPECTION LIGHTING ARRAY 审中-公开
    工程视频检测照明阵列

    公开(公告)号:WO1991006846A1

    公开(公告)日:1991-05-16

    申请号:PCT/US1990005268

    申请日:1990-09-17

    Applicant: PRESSCO, INC.

    Abstract: An engineered video inspection lighting system includes a three-dimensional array (22) of solid-state light emitting diodes (18) focused to an inspection area. A single high-current, low-duration pulse is applied to selected elements of the array. Light thus generated is passed through a diffuser (26) and to a specimen (D). Light reflected from the specimen is received by a lens (32) of a video camera (34) disposed in an interior of the three-dimensional array (22). Data thus obtained is used to determine acceptability of the specimen in accordance with preselected standards.

    Abstract translation: 工程视频检查照明系统包括聚焦到检查区域的固态发光二极管(18)的三维阵列(22)。 单个大电流,低持续时间脉冲被施加到阵列的选定元件。 由此产生的光通过扩散器(26)和样品(D)。 从样本反射的光被设置在三维阵列(22)的内部的摄像机(34)的透镜(32)接收。 使用如此获得的数据来根据预选标准确定样品的可接受性。

Patent Agency Ranking