Abstract:
The invention relates to a measuring system (1) that is suitable in particular for determining reflection characteristics of solar mirror materials, comprising a mirror holder (17) for receiving a mirror material sample (19), a radiation detector (23) having an image sensor (25) and reception optics (27) for receiving light reflected by the mirror material sample (19), a cap (3) having an inner space (5) and a mirrored inner surface (7), wherein the mirrored inner surface (7) is designed in a semi-ellipsoid manner and has a first focal point (11) and a second focal point (13), wherein the first and the second focal point (11, 13) are arranged in the inner space (5) of the cap (3), wherein the mirror material sample (19) can be arranged in the first focal point (11) via the mirror holder (17) and the reception optics (27) of the radiation detector (23) is arranged in the second focal point (13), comprising a light source (35) and a radiation coupler (39) connected to the light source for producing a light beam (31) directed toward the mirror material sample (19), wherein the radiation input coupler (39) is arranged on a guide device (43) for guiding the radiation coupler (39) along a predetermined guide track (45), and wherein the cap (3) has at least one gap (29) or at least one transparent region, via which the light beam (31) can be introduced into the inner space (5) of the cap (3).
Abstract:
Ein Messsystem (1), das insbesondere zur Bestimmung von Reflexionscharakteristiken von Solarspiegelmaterialien geeignet ist, weist einen Spiegelhalter (17) zur Aufnahme einer Spiegelmaterialprobe (19), einen Strahlungsdetektor (23) mit Bildsensor (25) und einer Empfangsoptik (27) zur Aufnahme von von der Spiegelmaterialprobe (19) reflektiertem Licht, eine Haube (3), die einen Innenraum (5) und die eine verspiegelte Innenfläche (7) aufweist, auf, wobei die verspiegelte Innenfläche (7) semi-ellipsoid-förmig ausgebildet ist und einen ersten Brennpunkt (11) und einen zweiten Brennpunkt (13) aufweist, wobei der erste und der zweite Brennpunkt (11, 13) in dem Innenraum (5) der Haube (3) angeordnet sind, wobei die Spiegelmaterialprobe (19) über den Spiegelhalter (17) in dem ersten Brennpunkt (11) anordenbar ist und die Empfangsoptik (27) des Strahlungsdetektors (23) in dem zweiten Brennpunkt (13) angeordnet ist, mit einer Lichtquelle (35) und einem mit der Lichtquelle (35) verbundenen Strahlungseinkoppler (39) zur Erzeugung eines auf die Spiegelmaterialprobe (19) gerichteten Lichtstrahls (31), wobei der Strahlungseinkoppler (39) an einer Führungsvorrichtung (43) zur Führung des Strahlungseinkopplers (39) entlang einer vorgegebenen Führungsbahn (45) angeordnet ist, und wobei die Haube (3) mindestens eine Aussparung (29) oder mindestens einen transparenten Bereich aufweist, über den der Lichtstrahl (31) in den Innenraum (5) der Haube (3) einleitbar ist.
Abstract:
A mode-locked laser system operable at low temperature can include an annealed, frequency-conversion crystal and a housing to maintain an annealed condition of the crystal during standard operation at the low temperature. In one embodiment, the crystal can have an increased length. First beam shaping optics can be configured to focus a beam from a light source to an elliptical cross section at a beam waist located in or proximate to the crystal. A harmonic separation block can divide an output from the crystal into beams of different frequencies separated in space. In one embodiment, the mode-locked laser system can further include second beam shaping optics configured to convert an elliptical cross section of the desired frequency beam into a beam with a desired aspect ratio, such as a circular cross section.
Abstract:
A mode-locked laser system operable at low temperature can include an annealed, frequency-conversion crystal and a housing to maintain an annealed condition of the crystal during standard operation at the low temperature. In one embodiment, the crystal can have an increased length. First beam shaping optics can be configured to focus a beam from a light source to an elliptical cross section at a beam waist located in or proximate to the crystal. A harmonic separation block can divide an output from the crystal into beams of different frequencies separated in space. In one embodiment, the mode-locked laser system can further include second beam shaping optics configured to convert an elliptical cross section of the desired frequency beam into a beam with a desired aspect ratio, such as a circular cross section.
Abstract:
An absorption spectroscopy apparatus including an elliptical mirror centered on the midpoint between a source/detector and a mirror. The cavity between the elliptical mirror and the source/bolometer and mirror defines an interior volume of a sample cell. Electromagnetic radiation from the source/detector travels along a multi-segment path starting from the source/bolometer toward the elliptical mirror, reflecting off of the elliptical mirror and traveling toward the mirror, reflecting off of the mirror and traveling back toward the elliptical mirror and finally reflecting off the elliptical mirror for a second time and returning toward the source/bolometer. The multiple reflections combined with the focusing effects of the elliptical mirrored surface result in an efficient sampling device. Among other aspects and advantages, the apparatus of the present disclosure is able to use incoherent, non-collimated light sources while maintaining high optical throughput efficiencies.
Abstract:
Die Erfindung betrifft eine photoakustische Gassensor-Vorrichtung (30, 50, 60) mit: einem Messraum (16) zur Aufnahme eines zu messenden Mediums, einer Strahlungsquelle (10), einer ersten an den Messraum (16) angeschlossenen photoakustischen Messzelle (32), die zum Erfassen eines ersten Gases (33) eingerichtet ist, und einer optischen Einrichtung zum Leiten von aus der Strahlungsquelle (10) ausgesandter Strahlung durch den Messraum (16) zu der ersten photoakustischen Messzelle (32). Um mit einer kompakten Einheit mehrere Sensoraufgaben lösen zu können, wird vorgeschlagen, dass wenigstens eine zweite photoakustische Messzelle (34), die zum Erfassen wenigstens eines zweiten, unterschiedlichen zu messenden Gases (35) eingerichtet ist, an den Messraum (16) angeschlossen ist und dass die optische Einrichtung von der Strahlungsquelle (10) ausgesandte Strahlung (12) durch den Messraum (16) hindurch hin zu der ersten und zu der zweiten Messzelle (32, 34) leitet.
Abstract:
The present invention discloses an optical measurement and/or inspection device that, in one application, may be used for inspection of semiconductor devices. It comprises a light source for providing light rays; a half-parabolic-shaped reflector having an inner reflecting surface, where the reflector having a focal point and an axis of summary, and a device-under-test is disposed thereabout the focal point. The light rays coming into the reflector that is in-parallel with the axis of summary would be directed to the focal point and reflect off said device-under-test and generate information indicative of said device-under-test, and then the reflected light rays exit said reflector. A detector receives the exited light rays and the light rays can be analyzed to determine the characteristics of the device-under-test.
Abstract in simplified Chinese:本发明揭露一种光学测量及/或检查设备,在一种应用中,其可被用于半导体设备的检查。其包括:一光源,用以提供光线;一半抛物线形反射器,具有一内反射面,其中,反射器具有一焦点及一概要的轴,且待测设备被配置在焦点附近。进入与概要的轴平行之反射器的光线会被导向焦点且反射离开该待测设备并产生表示该待测设备的信息,然后反射的光线离去该反射器。一检测器接收离去的光线且光线可被分析以决定待测设备的特征。
Abstract in simplified Chinese:本发明揭示一种可以低温操作之锁模激光系统,其可包含一退火频率转换晶体及用以在该低温标准操作期间维持该晶体之一退火条件之一外壳。在一实施例中,该晶体可具有一增加长度。第一光束塑形光学器件可经组态以将来自一光源之一光束聚焦至位于该晶体中或该晶体接近处之一光束腰处之一椭圆形横截面。一谐波分离区块可将来自该晶体之一输出分成空间中被分离之不同频率光束。在一实施例中,该锁模激光系统可进一步包含第二光束塑形光学器件,其经组态以将一椭圆形横截面之所要频率光束转换成具有一所要纵横比(诸如一圆形横截面)之一光束。