公开(公告)号：CN110595614B

公开(公告)日：2024-05-14

申请号：CN201910807152.5

申请日：2019-08-29

Applicant: 汇乐因斯福环保安全研究院(苏州)有限公司

Inventor： 钟圣俊 ,  李新光 ,  苗楠 ,  王娜娜 ,  陈然 ,  林卫波 ,  王健

IPC: G01J1/08 ,  G01J1/02

Abstract: 本发明涉及一种用于粉尘防爆的火花探测器性能测试装置及其测试方法，包括火花探测器测试位、黑体炉、火花挡板、转盘、转盘电机、测速码盘、控制箱、可调稳压电源、双通道示波器，转盘上开设有孔径大于第一孔的第二孔，转盘用来模拟粉尘爆炸环境的火花移动速度，当第一孔与第二孔重叠时，形成具有一定温度、特定形状及大小、一定移动速度的用于检测火花探测器的模拟火花信号，测速码盘用于计算转盘旋转的角速度从而模拟粉尘爆炸环境中不同的风速，双通道示波器能够用于测量火花探测器信号和转盘转速。本发明为存在的良莠不齐的火花探测器的性能提供了很好的甄别方式，且测试方法简单，使用方便，为提高工贸行业安全、杜绝隐患提供了实质性的帮助。

公开(公告)号：CN117870860A

公开(公告)日：2024-04-12

申请号：CN202311864012.4

申请日：2023-12-29

Applicant: 北京市科学技术研究院

Inventor： 甘芸尔 ,  高凯 ,  李琳 ,  冯世嘉 ,  彭瑞光 ,  蔺涛

IPC: G01J1/42 ,  G01J1/08 ,  G01J1/04 ,  G01J1/44

Abstract: 本公开涉及极紫外光源技术领域，是一种用于多角度测量激光等离子体产生的极紫外光的装置，包括：机械构件，用于安装和设置光学组件和极紫外光发生单元；光学组件，用于产生激光，实现产生的极紫外光的光通量和光斑大小的探测；极紫外光发生单元，用于产生极紫外光；控制单元，用于控制机械构件及安装于机械构件上的光学组件和极紫外光发生单元。利用本公开，固体靶材被激光烧灼产生的等离子体产生的极紫外光通过第一滤光片后再通过一个针孔后到达背照射CCD相机，从而得到极紫外光的光斑大小；转动电动机械转台，等离子体产生的极紫外光通过第二滤光片、极紫外窗口到达光电二极管，从而得到极紫外光的光通量大小。该装置能够实现对不同角度激光入射时等离子体产生的极紫外光的光通量和光斑大小的测量。

公开(公告)号：CN117168610A

公开(公告)日：2023-12-05

申请号：CN202311055306.2

申请日：2023-08-21

Applicant: 西安工程大学

Inventor： 韩小祥 ,  刘洋 ,  王博宇 ,  原林 ,  方青龙 ,  王晓娟 ,  张国青

IPC: G01J1/08 ,  G02B27/10 ,  G01J1/04

Abstract: 本发明公开了基于光纤激光器的核爆光热辐射模拟装置，包括短波超连续谱激光系统和中红外激光系统，短波超连续谱激光系统和中红外激光系统的输出端分别对应短波光纤准直器和中红外光纤准直器的输入端，短波光纤准直器和中红外光纤准直器的输出端均与超连续谱合束器的输入端连接，超连续谱合束器输出端沿光轴方向依次设置有超连续谱扩束准直器、电动光阑和靶台；该装置光源部分采用了基于光纤的器件，光源能量利用率高，且稳定性好；本发明还涉及基于光纤激光器的核爆光热辐射模拟方法，该方法通过调节中短波超连续谱激光系统和中红外激光系统的输出功率，再通过超连续谱合束器、续谱扩束准直器、电动光阑和靶台等器件实现了核爆光热辐射的模拟。

公开(公告)号：CN109959446B

公开(公告)日：2023-11-21

申请号：CN201711408881.0

申请日：2017-12-22

Applicant: 深圳先进技术研究院

Inventor： 鲁远甫 ,  焦国华 ,  佘荣斌 ,  董玉明 ,  刘文权 ,  吕建成 ,  章逸舟 ,  罗阿郁

IPC: G01J1/00 ,  G01J1/08 ,  G01J1/04

公开(公告)号：CN112119289B

公开(公告)日：2023-09-05

申请号：CN201980022256.3

申请日：2019-03-28

Applicant: 蒂希韦

Inventor： H·雪莉

IPC: G01J1/08 ,  G01J1/42

Abstract: 本发明涉及一种用于太赫兹成像系统的传感器，所述传感器包括太赫兹辐射接收器(18)的阵列；以及太赫兹辐射发射器(10)的阵列，其具有所述接收器阵列的间距相同的间距，设置在所述接收器的阵列与位于所述发射器的近场中的分析区域(12)之间，并且被配置为使得每个发射器向所述分析区域和所述接收器阵列的相应接收器两者发射波。

公开(公告)号：CN113447243B

公开(公告)日：2023-03-10

申请号：CN202010453841.3

申请日：2020-05-26

Applicant: 重庆康佳光电技术研究院有限公司

Inventor： 林帅 ,  张彬彬 ,  苟先华 ,  伍凯义 ,  苏财钰

IPC: G01M11/02 ,  G01J1/02 ,  G01J1/08 ,  G01J1/16 ,  G01J3/443 ,  G01J3/02 ,  G01J3/28 ,  H01L21/67 ,  H01L21/66

Abstract: 本发明涉及一种终点检测装置、蚀刻设备及检测方法。所述终点检测装置包括：石英件、第一滤光片、第二滤光片以及光检测模块，本发明提供的终点检测装置通过设置分别用于加工产生的光和检测光源发出的光通过的第一滤光片和第二滤光片，以及用于检测通过所述第一滤光片和所述第二滤光片的光的强度的光检测模块，能够实现加工过程中的终点检测功能，同时能够通过检测通过第二滤光片的光的强度是否与检测光源发出的光的强度一致来实现自检。

公开(公告)号：CN115552205A

公开(公告)日：2022-12-30

申请号：CN202180016686.1

申请日：2021-01-20

Applicant: 百应股份有限公司

Inventor： 蔡明原 ,  吕俊逸 ,  范秉轩 ,  邱柏瑞

IPC: G01J1/08 ,  G01J1/42 ,  G01J1/44

Abstract: 一种用于检测其中的气体和悬浮物的光学检测器(100、200、300)，包括测试腔室(111、113)、至少一个光源(12)、感测物件(131、133)、测试光学传感器(141)和处理器(19)。测试腔室(111、113)容纳待分析的气体。至少一个光源(12)发射进入测试腔室(111、113)的入射光。感测物件(131、133)暴露于测试腔室(111、113)中的气体，接收入射光，并反射或透射入射光的一部分以形成测试光。测试光学传感器(141)接收测试光并产生检测光谱信号。处理器(19)接收检测光谱信号并根据检测光谱信号计算检测结果。

公开(公告)号：CN115371804A

公开(公告)日：2022-11-22

申请号：CN202211013668.0

申请日：2022-08-23

Applicant: 广州磐碟塔信息科技有限公司

Inventor： 郑森龙 ,  潘武斌 ,  罗杨 ,  钟莹莹

IPC: G01J1/02 ,  G01J1/08 ,  G01J1/42 ,  G01J1/44 ,  G06F3/01 ,  G06T15/50

Abstract: 本发明公开了基于虚拟现实技术采光方法，包括以下步骤:步骤一：通过信号采集设备获取采集点的光信号，基带芯片根据采集的光信号生成光照信息指令传送至光还原应用场景；步骤二：根据光照信息指令控制光还原应用场景内的光照设备，实现光还原应用场景与步骤一中光采集区内光照信息的还原，本发明通过在智能头盔上设置多个光敏传感器，实现对外景光照强度的采集，并将采集的光照强度信息传送至光还原应用场景，光还原应用场景通过光源实现对智能头盔的光照强度采集点进行还原，使光源提供的光照强度与智能头盔所存储的外景光照强度相匹配，实现智能头盔采集场景光照强度还原。

公开(公告)号：CN115202030A

公开(公告)日：2022-10-18

申请号：CN202210905036.9

申请日：2022-07-29

Applicant: 深圳英美达医疗技术有限公司

Inventor： 王晓艳 ,  熊乔洲 ,  何强枝 ,  白晓淞

IPC: G02B23/24 ,  H05B47/105 ,  G01J1/08 ,  A61B1/00

Abstract: 本发明提供一种内窥镜光源的校准方法以及装置，方法包括：校验步骤：获取第一电流下内窥镜对标准色样采集的目标图像；对目标图像进行校验，校验用于指示目标图像中R、G及B三像素值的第一比例值与标准色样的R、G及B三像素值的标准比例值之间的差值是否超出预设的差值阈值；若校验的校验结果为第一比例值与标准比例值之间的差值超出预设的差值阈值，根据预存储的映射关系修正第一电流的电流值，并将修正后的第一电流设置为新的第一电流，再次执行校验步骤直至校验的校验结果为第一比例值与标准比例值之间的差值不超出预设的差值阈值。本发明无需设置光功率探测装置或者光谱检测传感器，校准效率高，能够实现高精度校准。

公开(公告)号：CN115014513A

公开(公告)日：2022-09-06

申请号：CN202210676717.2

申请日：2022-06-15

Applicant: 深圳市汇顶科技股份有限公司

Inventor： 王伟峰

IPC: G01J1/42 ,  G01J1/08

Abstract: 本申请实施例提供一种采样方法、接近传感系统以及电子设备，该方法包括：基于第一采样周期T1，采集N个采样值，所述N为采样个数，所述N为大于1的正整数，其中，T1和N为预先设置的采样参数；基于所述N个采样值确定目标采样值，所述目标采样值用于进行物体接近状态的判定；所述基于所述N个采样值确定目标采样值包括：基于所述N个采样值确定第一噪声；若所述第一噪声大于或等于预设第一阈值，则更新所述采样参数，并依据更新后的采样参数进行重新采集；若所述第一噪声小于所述预设第一阈值，所述目标采样值为所述N个采样值的均值。