一种A干粉溶解充分性检测方法及系统

    公开(公告)号:CN119642969A

    公开(公告)日:2025-03-18

    申请号:CN202510094814.4

    申请日:2025-01-21

    Inventor: 廖磊

    Abstract: 本发明提出一种A干粉溶解充分性检测方法及系统,执行A干粉循环溶解充分性检测过程:在A干粉循环溶解过程中,获取A干粉溶解液的当前时刻光强度变化值;若所述当前时刻光强度变化值等于0,则获取当前时刻溶液电导度变化值;若所述当前时刻溶液电导度变化值等于0,则输出A干粉溶解充分性检测结果,结束A干粉循环溶解充分性检测过程。本发明实现光学检测手段与电导度检测手段相结合,以确保A干粉充分溶解,提高A干粉溶解充分性检测结果的准确性。

    一种汽车驾驶中的强光预警方法、装置、设备及存储介质

    公开(公告)号:CN115416574B

    公开(公告)日:2024-08-13

    申请号:CN202211059895.7

    申请日:2022-08-30

    Inventor: 苏少波

    Abstract: 本发明提供一种汽车驾驶中的强光预警方法、装置、设备及存储介质,包括:获取当前车辆的环境光强参数并记录获取时间,根据环境光强参数和获取时间计算得到光强变化速率,若满足第一预设条件或第二预设条件,则采集当前车辆的当前行驶速度,将当前行驶速度与预设的安全速度阈值进行比较,若当前行驶速度大于或等于安全速度阈值,则采集当前车辆与前方障碍物之间的间隔距离,展示间隔距离并提醒驾驶员减速,解决了现有技术中只将当前车辆的行驶速度和间距作为驾驶安全的评价因素,无法有效避免环境光骤变带来的安全隐患的问题,能够根据环境光的变化情况判断当前车辆的预警需求,极大地提高了安全警示效果。

    用于扫描计量工具的自适应对焦系统

    公开(公告)号:CN115943286B

    公开(公告)日:2024-02-20

    申请号:CN202080102196.9

    申请日:2020-10-08

    Inventor: G·拉雷多

    Abstract: 本发明公开一种自适应对焦系统,其包含:光学模块;光学模块高度定位器(OMHP);位置传感器,其可操作以产生指示所述光学模块的高度的位置输出;预测性高度估计器,其可操作以产生样本在多个位点的每一位点处的估计高度值且针对所述位点中的每一者产生所要光学模块高度输出;调节器,其可操作以至少部分基于所述所要光学模块高度输出及所述光学模块的已知高度产生用于所述多个位点的序列光学模块高度控制指令;驱动器,其可操作以将序列控制输出提供到所述OMHP;以及模型预测控制器(MPC),其可操作以监测所述光学模块的报告高度与所述光学模块的MPC预期高度之间的差,从而产生系统改善值。

    一种城市智慧路灯寿命预测方法及系统

    公开(公告)号:CN117370917A

    公开(公告)日:2024-01-09

    申请号:CN202311668068.2

    申请日:2023-12-07

    Inventor: 林清洪 赵静 邓璇

    Abstract: 本发明涉及数据预测技术领域,具体涉及一种城市智慧路灯寿命预测方法及系统,包括:采集实际光照强度时序数据和额定光照强度时序数据;获取智慧路灯在每个时刻光照强度的异常程度,得到智慧路灯在每个时刻光照强度的第一异常程度和第二异常程度;获取若干个区间,得到智慧路灯在每个时刻数据点的波动周期,得到智慧路灯在每个时刻的异常波动程度和得到智慧路灯在每个时刻光照强度的第三异常程度;根据智慧路灯在每个时刻光照强度的第三异常程度对智慧路灯的实际光照强度时序数据进行修正,得到修正后智慧路灯的实际光照强度时序数据,最后进行对智慧路灯寿命的预测。本发明对实际光照强度时序数据,提高了数据异常检测的准确性。

    一种太赫兹探测阵列校准系统及方法

    公开(公告)号:CN111473862B

    公开(公告)日:2023-06-20

    申请号:CN202010163083.1

    申请日:2020-03-10

    Abstract: 本发明公开了一种太赫兹探测阵列校准系统及方法,属于太赫兹探测校准技术领域,包括校准组件、旋转驱动组件和导电组件,所述校准组件包括常温辐射板与高温辐射板,所述常温辐射板与所述高温辐射板尺寸相同正对设置,所述常温辐射板与所述高温辐射板的两端均对应连接,所述旋转驱动组件与所述常温辐射板、所述高温辐射板的一端连接。本发明利用常温辐射板和高温辐射板辐射的太赫兹波的强度的不同,对太赫兹探测阵列中各个通道单元进行校准,有效的解决现有太赫兹探测阵列定标过程复杂,并且随着温度环境的变化需重复定标等缺点,可在太赫兹安检、太赫兹无损探伤和太赫兹雷达等领域得到广泛的应用。

    用于扫描计量工具的自适应对焦系统

    公开(公告)号:CN115943286A

    公开(公告)日:2023-04-07

    申请号:CN202080102196.9

    申请日:2020-10-08

    Inventor: G·拉雷多

    Abstract: 本发明公开一种自适应对焦系统,其包含:光学模块;光学模块高度定位器(OMHP);位置传感器,其可操作以产生指示所述光学模块的高度的位置输出;预测性高度估计器,其可操作以产生样本在多个位点的每一位点处的估计高度值且针对所述位点中的每一者产生所要光学模块高度输出;调节器,其可操作以至少部分基于所述所要光学模块高度输出及所述光学模块的已知高度产生用于所述多个位点的序列光学模块高度控制指令;驱动器,其可操作以将序列控制输出提供到所述OMHP;以及模型预测控制器(MPC),其可操作以监测所述光学模块的报告高度与所述光学模块的MPC预期高度之间的差,从而产生系统改善值。

    光功率计校正工装、校正方法及装置

    公开(公告)号:CN115655463A

    公开(公告)日:2023-01-31

    申请号:CN202211178496.2

    申请日:2022-09-26

    Inventor: 荣左超

    Abstract: 本申请涉及一种光功率计校正工装、校正方法及装置。一个实施例中,通过在校正工装的机架上设置带有定位孔的定位板以及与定位板相连的锁紧机构,可以使定位板根据光源投射光线的落点进行移动,然后将锁紧机构锁紧。这样,定位板无法移动,光源投射光线总落在定位孔中的指定位置,只需将不同的光功率计探头放入定位孔中,就可以使不同光功率计在进行出光功率测量时能采集到相同的光斑,确保用于测量的标准光功率计和待校正光功率计在工作环境上完全相同,减少了校正过程中其他因素造成的误差,提高了校正的精准度。

    激光器性能的表征方法及装置、光源设计方法和系统

    公开(公告)号:CN115524847A

    公开(公告)日:2022-12-27

    申请号:CN202110707600.1

    申请日:2021-06-24

    Inventor: 吴攸 向少卿

    Abstract: 一种激光器性能的表征方法及装置、光源设计方法和系统,本发明的激光器性能的表征方法在所述完备基底组基础上,通过光场拟合操作获得所述待表征激光器的完备模式组成,并根据所述完备模式组成,获得所述待表征激光器的激发模式组成,所述激发模式组成包括:激发模式组和激发权重组,所述激发模式组包括多个激发模式,所述激发权重组包括多个激发权重因子,所述激发权重因子与所述激发模式一一对应。因此,所述技术方案可以获得所述待表征激光器在工作状态下激发的模式数量、阶数和相对强度信息,因此可从模式的角度对不同的设计进行有效的评估,对于器件的光学性能的进一步设计优化有很强的指导意义。

    一种基于光照度的照明设备故障判断方法

    公开(公告)号:CN114046877B

    公开(公告)日:2022-04-26

    申请号:CN202210014302.9

    申请日:2022-01-07

    Abstract: 本发明提出一种基于光照度的照明设备故障判断方法,包括以下步骤:设置至少2个采集点和若干照明设备,获取对应每个采集点的照明设备的正常照度贡献值;若干照明设备组成光源组,获取光源组所有工作状态,根据正常照度贡献值算出每种工作状态对应初始照度贡献值;利用照度传感器在采集点上获取光源组的实际照度值,选取与实际照度值最接近的初始照度贡献值对应的光源组的工作状态;根据选取的工作状态判断照明设备是否存在故障。本发明实时收集照明环境的照度变化情况,根据照明环境的照度变化情况判断照明灯具是否故障,准确获得照明灯的具体位置。

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