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公开(公告)号：CN111954796B
公开(公告)日：2023-05-02
申请号：CN201980025027.7
申请日：2019-04-02
Applicant: 京瓷株式会社
Abstract: 电磁波检测装置(10)具有分离部(16)、第一检测部(17)、行进部(18)、第二检测部(20)、以及遮断部(21)。分离部(16)使沿第一方向(d1)行进的电磁波以沿第二方向(d2)和第三方向(d3)行进的方式分离。第一检测部(17)检测沿第二方向(d2)行进的电磁波。行进部(18)具有沿着基准面(ss)设置的多个像素(px)。行进部(18)针对每个像素(px)使向第三方向(d3)行进而入射至基准面(ss)的电磁波的行进方向切换为第四方向(d4)和第五方向(d5)。第二检测部(20)检测沿第四方向(d4)行进的电磁波。遮断部(21)遮断向第五方向(d5)行进的电磁波中的至少一部分。
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公开(公告)号：CN110865431B
公开(公告)日：2022-11-18
申请号：CN201910789353.7
申请日：2019-08-26
Applicant: 瑞士CSEM电子显微技术研发中心
Abstract: 滤光器、滤光器系统、光谱仪及其制造方法根据本发明的实施例，提供了一种纳米结构化光学波长透射过滤器。滤光器包括图案化基底，在所述图案化基底上布置高折射率介质波导。低折射率介电层布置在高折射率介质波导上，在所述低折射率介电层上布置金属纳米结构的阵列。滤光器的各层具有由基底的图案化表面限定的共形形状。本发明还涉及滤光器系统，包括光学透射过滤器和固定到基底的检测器阵列。本发明还涉及包括至少一个光学透射过滤器和/或至少一个所述光学透射过滤器系统的光谱仪，并且对于具有波长在300nm与790nm之间的入射光具有低于30nm的光谱分辨率。本发明还涉及制造滤光器、滤光器系统和光谱仪的方法。
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公开(公告)号：CN115087849A
公开(公告)日：2022-09-20
申请号：CN202180013797.7
申请日：2021-01-04
Applicant: 浜松光子学株式会社
Inventor： 中村共则
Abstract: 测定装置具备：倾斜分色镜，其将来自样品的光对应于波长透过或反射而予以分离，且透过率及反射率对应于波长的变化而变化的波长频带的宽度、即边缘跃迁宽度具有规定的宽度；全反射镜，其将在倾斜分色镜被透过或反射的光的一方予以反射；摄像元件，其由第1摄像区域对在倾斜分色镜被透过或反射的光的另一方进行摄像，且由与第1摄像区域不同的第2摄像区域对在全反射镜被反射的光进行摄像；及控制装置，其基于倾斜分色镜中的透过率及反射率相对于波长的变化所涉及的光学特性，对由第1摄像区域及第2摄像区域摄像的图像进行修正。
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公开(公告)号：CN110771151B
公开(公告)日：2022-08-23
申请号：CN201880041519.0
申请日：2018-06-07
Applicant: 罗伯特·博世有限公司
Abstract: 提供了适合用于在安全相机、安全设备、监视相机、监视设备、消费者数字相机、消费者数字设备、薄客户机、厚客户机、工业机器视觉系统、汽车相机、供给家庭的相机、家居相机、商业相机、物体检测器、以及其它市场和/或应用中使用的多光谱可见光（VL）和红外（IR）成像系统和方法。多光谱VL和红外IR成像系统包括多个VL成像传感器、多个红外（IR）成像传感器、以及操作地连接到CMOS成像传感器和IR成像传感器的读出组件，其中IR成像传感器被配置为生成热信号并且操作CMOS成像传感器。
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公开(公告)号：CN109073460B
公开(公告)日：2022-08-23
申请号：CN201780024955.2
申请日：2017-04-13
Applicant: 苹果公司
Abstract: 本发明公开了用于确定样本的一个或多个属性的系统和方法。所公开的系统和方法可能够沿多个位置进行测量，并且可将样本内的多个光学路径重新成像并解析。所述系统可配置有适用于紧凑型系统的一层或两层光学器件。可以简化所述光学器件以减少经涂覆的光学表面的数量和复杂性、标准具效应、制造公差叠加问题，以及基于干涉的光谱误差。所述光学器件的大小、数量和位置可在整个所述样本上和所述样本内的各个位置处实现多个同时或非同时测量。此外，所述系统可配置有位于所述样本和所述光学器件之间的光学间隔件窗口，并且本发明公开了考虑由于包含所述光学间隔件窗口而导致的光学路径变化的方法。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN110573846B
公开(公告)日：2022-08-19
申请号：CN201780085569.4
申请日：2017-10-24
Applicant: RSP系统公司
Inventor： 斯特凡·奥弗森·班克
Abstract: 本发明提供了一种分析物检测装置和方法，所述装置包括：辐射源，所述辐射源用于照射样本；接收器，所述接收器接收响应于从所述源接收的辐射而从所述样本发送回的辐射的光学拉曼光谱，其中，所述接收器包括多个不同类型的分析设备，每个分析设备布置成接收从所述样本发送回的所接收的光谱的所选部分。
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公开(公告)号：CN114746728A
公开(公告)日：2022-07-12
申请号：CN202080082497.X
申请日：2020-11-27
Applicant: ams传感器德国有限公司
Abstract: 公开了一种图像感测设备，图像感测设备包括多光谱传感器和能够通信地耦合到多光谱传感器的处理器。处理器被配置为基于预定义光谱数据与对应于多光谱传感器的输出的数据的比较来确定环境光源分类。还公开了一种通过以下方式对环境光源进行分类的方法：利用多光谱传感器感测光的光谱；以及基于预定义光谱数据与对应于多光谱传感器的输出的数据的比较来确定环境光源分类。还公开了相关联的计算机程序、计算机可读介质和数据处理装置。
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公开(公告)号：CN114502930A
公开(公告)日：2022-05-13
申请号：CN202080069251.9
申请日：2020-09-30
Applicant: 特里纳米克斯股份有限公司
Abstract: 公开了探测器阵列(112)、包括探测器阵列(112)的光谱仪系统(110)和光谱仪系统(110)的各种用途。光谱仪系统可用于各种研究或监测目的，特别是在红外光谱区域中，尤其是在近红外和中红外光谱区域中。在此，探测器阵列(112)包括基板(212)；以及多个探测器像素(144)，其应用于基板(212)的表面，其中每个探测器像素(144)具有传感器区域(214)，该传感器区域被指定用于接收入射光(114)的部分，其中每个探测器像素(144)被指定用于根据由探测器像素(144)的传感器区域所接收到的入射光(114)的部分的强度而产生传感器信号，其中至少两个相邻的探测器像素(144)共享到公共电势(316)的单个连接，并且其中至少两个探测器像素(144)的传感器区域相对于彼此相差对应的传感器区域(214)的面积(220)。
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公开(公告)号：CN111094918B
公开(公告)日：2022-05-03
申请号：CN201880061180.0
申请日：2018-06-27
Applicant: 罗伯特·博世有限公司
Abstract: 本发明涉及一种显微光谱仪模块（100），其由以下组成：光学谐振器（102），用于对光进行滤波；探测装置（104），用于探测被光学谐振器（102）透射的光；和聚焦元件（106）。光学谐振器（102）关于所要滤出的波长范围方面可调。探测装置（104）具有至少一个第一探测元件（108）和至少一个第二探测元件（110）。聚焦元件（106）成型用来使透射光的在第一入射角范围之内射入的光束偏转到第一探测元件（108）上并且使透射光的在第二入射角范围之内射入的光束偏转到第二探测元件（110）上。
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公开(公告)号：CN114207393A
公开(公告)日：2022-03-18
申请号：CN202080055606.9
申请日：2020-07-16
Applicant: 奥斯兰姆奥普托半导体股份有限两合公司
Inventor： 谢尔盖·库达耶夫
Abstract: 在用于电磁辐射(10)的强度的频率分辨测量的光电测量装置(1)中，具有至少两个测量通道(M1，M2，...，Mm)，其中，测量通道中的第一测量通道(M1)具有第一光谱灵敏度并且测量通道中的另外的测量通道M2，...，Mm具有不同于第一光谱灵敏度的另外的光谱灵敏度，在借助测量通道(M1，...，Mm)检测之前，至少两个准直器(K1，K2，...，Kk)用于准直电磁辐射(10)。在此，单独的光路穿过准直器中的每个准直器(K1，K2，...，Kk)延伸至测量通道中的一个或多个测量通道(Mχ，M2，...，Mm)并且测量通道(M1，M2，...，Mm)中的每个测量通道被布置用于，测量借助准直器中的一个或多个准直器(K1，K2，...，Kk)准直过的电磁辐射(10)的强度。根据本发明，使用比测量通道更多的准直器。
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