公开(公告)号：TW200804823A

公开(公告)日：2008-01-16

申请号：TW096107122

申请日：2007-03-02

Applicant: 日本發條股份有限公司 NHK SPRING CO., LTD.

Inventor： 永潤 TOMINAGA, JUN ,  石川浩嗣 ISHIKAWA, KOJI ,  力丸泰一 RIKIMARU, TAIICHI

IPC: G01R

CPC classification number: G01R1/07371 ,  G01R1/06716 ,  G01R1/06722 ,  G01R1/06738 ,  G01R31/2808

Abstract: 本發明提供一種導電性接觸子單元,其目的在於減低在導電性接觸子與導件之間產生之摩擦力的參差不齊,並穩定地供給檢查信號。為了達成上述目的,係具備:導電性接觸子保持具,具有複數個第1導引溝及複數個第2導引溝,該第1導引溝係以滑動自如之方式嵌合保持導電性接觸子之寬度方向之一方緣端部,而該第2導引溝係與前述第1導引溝相對向配置且以滑動自如之方式將嵌入於前述第1導引溝之前述導電性接觸子之另一方緣端部予以嵌合保持;呈板狀之複數個導電性接觸子,具有與不同之電路構造之任一者物理性接觸的第1接觸部、與和前述第1接觸部所接觸之電路構造以外之另一電路構造物理性接觸的第2接觸部、介於前述第1接觸部與前述第2接觸部之間且朝長度方向伸縮自如的彈性部、連接前述彈性部與前述第1接觸部之第1連接部、及連接前述彈性部與前述第2接觸部的第2連接部;及排列手段,使複數個前述導電性接觸子排列。

Abstract in simplified Chinese: 本发明提供一种导电性接触子单元,其目的在于减低在导电性接触子与导件之间产生之摩擦力的参差不齐,并稳定地供给检查信号。为了达成上述目的,系具备:导电性接触子保持具,具有复数个第1导引沟及复数个第2导引沟,该第1导引沟系以滑动自如之方式嵌合保持导电性接触子之宽度方向之一方缘端部,而该第2导引沟系与前述第1导引沟相对向配置且以滑动自如之方式将嵌入于前述第1导引沟之前述导电性接触子之另一方缘端部予以嵌合保持;呈板状之复数个导电性接触子,具有与不同之电路构造之任一者物理性接触的第1接触部、与和前述第1接触部所接触之电路构造以外之另一电路构造物理性接触的第2接触部、介于前述第1接触部与前述第2接触部之间且朝长度方向伸缩自如的弹性部、连接前述弹性部与前述第1接触部之第1连接部、及连接前述弹性部与前述第2接触部的第2连接部;及排列手段,使复数个前述导电性接触子排列。

公开(公告)号：TWI290627B

公开(公告)日：2007-12-01

申请号：TW092108968

申请日：2003-04-16

Applicant: 日本發條股份有限公司 NHK SPRING CO., LTD.

Inventor： 風間俊男 TOSHIO KAZAMA

IPC: G01R

CPC classification number: G01R1/06722 ,  G01R1/06711 ,  G01R1/07314

Abstract: 一開孔(5a)形成在一高強度基板(5)中以提供多數導電接觸單元，且一由塑膠材料製成之支承孔形成構件(7)經由一絕緣膜(6)被填入該開孔中。多數支承孔(2)形成在該支承孔形成構件中，且一螺旋彈簧(8)與導電針構件(9)與(10)安裝在各支承孔中。由於補強材料在該支承件之厚度中的比例甚高，使得該接觸探針支承件可以被作成幾乎與該高強度基板一樣強固。因此，相較於包括一僅嵌入模製之金屬構件，即使當該支承件之厚度減至最小時，亦可確保該支承件之機械強度，且甚至該支承件可以作得更薄。

Abstract in simplified Chinese: 一开孔(5a)形成在一高强度基板(5)中以提供多数导电接触单元，且一由塑胶材料制成之支承孔形成构件(7)经由一绝缘膜(6)被填入该开孔中。多数支承孔(2)形成在该支承孔形成构件中，且一螺旋弹簧(8)与导电针构件(9)与(10)安装在各支承孔中。由于补强材料在该支承件之厚度中的比例甚高，使得该接触探针支承件可以被作成几乎与该高强度基板一样强固。因此，相较于包括一仅嵌入模制之金属构件，即使当该支承件之厚度减至最小时，亦可确保该支承件之机械强度，且甚至该支承件可以作得更薄。

公开(公告)号：TWI290626B

公开(公告)日：2007-12-01

申请号：TW092108967

申请日：2003-04-16

Applicant: 日本發條股份有限公司 NHK SPRING CO., LTD.

Inventor： 風間俊男 TOSHIO KAZAMA ,  長屋光浩 MITSUHIRO NAGAYA ,  外間裕康 HIROYASU SOTOMA

IPC: G01R

CPC classification number: G01R1/07314 ,  G01R1/0466 ,  G01R1/0483

Abstract: 一種被一臂支持之支承件包含一金屬補強構件與一填充在一形成於該補強構件中之開孔中的塑膠支承孔形成構件多數支承孔形成在該支承孔形成構件中，且一螺旋彈簧與導電針構件係安裝在各支承孔中以藉此提供一具有兩可移動端之接觸探針。因為該支承件主要是由金屬構件構成，該支承件之機械強度可優於完全由塑膠材料所形成者，因此，該接觸探針支承件將不會有由於測試(在高溫下之測試)之溫度變化所帶來之老化而產生之尺寸變化與殘留應力，因此可避免該等支承孔之間距變化，且可確保高精準度。故，該接觸探針使測試可以一穩定之方式進行一段長時間。

Abstract in simplified Chinese: 一种被一臂支持之支承件包含一金属补强构件与一填充在一形成于该补强构件中之开孔中的塑胶支承孔形成构件多数支承孔形成在该支承孔形成构件中，且一螺旋弹簧与导电针构件系安装在各支承孔中以借此提供一具有两可移动端之接触探针。因为该支承件主要是由金属构件构成，该支承件之机械强度可优于完全由塑胶材料所形成者，因此，该接触探针支承件将不会有由于测试(在高温下之测试)之温度变化所带来之老化而产生之尺寸变化与残留应力，因此可避免该等支承孔之间距变化，且可确保高精准度。故，该接触探针使测试可以一稳定之方式进行一段长时间。

公开(公告)号：TW200739085A

公开(公告)日：2007-10-16

申请号：TW095149159

申请日：2006-12-27

Applicant: 日本發條股份有限公司 NHK SPRING CO., LTD.

Inventor： 風間俊男 KAZAMA, TOSHIO ,  石川重樹 ISHIKAWA, SHIGEKI

IPC: G01R

CPC classification number: G01R1/06722 ,  G01R1/06716 ,  G01R1/07357

Abstract: 本發明的目的在於提供一種接觸探針,係能滿足接觸探針間的期望間距,且能進一步滿足接觸探針所需的荷重特性、耐摩擦特性、以及電氣特性等之各種特性。為了達成本目的,本發明之接觸探針具有:柱塞1,係接觸被檢查物;柱塞2,係接觸檢查裝置側的連接端子31;以及配線3,係設置於各柱塞1、2之間,且組合對應前述被檢查物而選擇的具有期望特性之各柱塞1、2,以及對應前述被檢查物而選擇的具有期望特性之配線3,並使用密捲繞彈簧接頭4、5予以機械性連接。

Abstract in simplified Chinese: 本发明的目的在于提供一种接触探针,系能满足接触探针间的期望间距,且能进一步满足接触探针所需的荷重特性、耐摩擦特性、以及电气特性等之各种特性。为了达成本目的,本发明之接触探针具有:柱塞1,系接触被检查物;柱塞2,系接触检查设备侧的连接端子31;以及配线3,系设置于各柱塞1、2之间,且组合对应前述被检查物而选择的具有期望特性之各柱塞1、2,以及对应前述被检查物而选择的具有期望特性之配线3,并使用密卷绕弹簧接头4、5予以机械性连接。

公开(公告)号：TW200730832A

公开(公告)日：2007-08-16

申请号：TW095149407

申请日：2006-12-28

Applicant: 日本發條股份有限公司 NHK SPRING CO., LTD.

Inventor： 風間俊男 KAZAMA, TOSHIO ,  石川浩嗣 ISHIKAWA, KOJI ,  外間裕康 SOTOMA, HIROYASU

IPC: G01R ,  H01R ,  G02F

CPC classification number: G01R1/06761 ,  G01R1/06722 ,  G01R1/06738

Abstract: 本發明提供一種探針,即使因與被檢查物之反覆接觸導致探針之前端產生耗損時,亦可抑制探針的高電阻化,並促進探針之長壽命化。為達成上述目的,本發明之探針係具備有:多層平板狀之柱塞1,具有接觸被檢查物之一側的前端形成楔狀之大致帶狀平板的中心層11、及以大致帶狀平板形成於中心層11之兩面之至少一面以補强中心層11之補强層12;柱塞2;以及線圈彈簧3。

Abstract in simplified Chinese: 本发明提供一种探针,即使因与被检查物之反复接触导致探针之前端产生耗损时,亦可抑制探针的高电阻化,并促进探针之长寿命化。为达成上述目的,本发明之探针系具备有:多层平板状之柱塞1,具有接触被检查物之一侧的前端形成楔状之大致带状平板的中心层11、及以大致带状平板形成于中心层11之两面之至少一面以补强中心层11之补强层12;柱塞2;以及线圈弹簧3。

公开(公告)号：TW200722760A

公开(公告)日：2007-06-16

申请号：TW095140142

申请日：2006-10-31

Applicant: 日本發條股份有限公司 NHK SPRING CO., LTD.

Inventor： 風間俊男 KAZAMA, TOSHIO ,  石川重樹 ISHIKAWA, SHIGEKI

IPC: G01R ,  G02F

CPC classification number: G01R1/0416 ,  G01R1/06722 ,  G01R3/00 ,  Y10T29/49117 ,  Y10T29/49121 ,  Y10T29/49124 ,  Y10T29/49126 ,  Y10T29/49128 ,  Y10T29/4913

Abstract: 本發明提供一種可一面保持强度一面實現薄型化,具可達成製造時間之縮短及製造成本之降低的導電性接觸子支持具之製造方法。本發明係藉由使用導電性材料來形成基板32,將會形成支持構件31的絕緣性構件30嵌入此基板32所具有的中空部321而固接兩構件,並且對絕緣性構件30的表面以及與該表面相鄰的基板32的表面進行研磨,使彼此的表面順暢連續,並形成貫穿絕緣性構件30且個別收容複數個導電性接觸子2的複數個支持孔311。在固接絕緣性構件30及基板32時係在其間注入具有絕緣性的接著劑33,或是於嵌入絕緣性構件30之前在中空部321的內側面塗布接著劑33,及/或於嵌入時在絕緣性構件30之與中空部321相對向的側面塗布接著劑33。

Abstract in simplified Chinese: 本发明提供一种可一面保持强度一面实现薄型化,具可达成制造时间之缩短及制造成本之降低的导电性接触子支持具之制造方法。本发明系借由使用导电性材料来形成基板32,将会形成支持构件31的绝缘性构件30嵌入此基板32所具有的中空部321而固接两构件,并且对绝缘性构件30的表面以及与该表面相邻的基板32的表面进行研磨,使彼此的表面顺畅连续,并形成贯穿绝缘性构件30且个别收容复数个导电性接触子2的复数个支持孔311。在固接绝缘性构件30及基板32时系在其间注入具有绝缘性的接着剂33,或是于嵌入绝缘性构件30之前在中空部321的内侧面涂布接着剂33,及/或于嵌入时在绝缘性构件30之与中空部321相对向的侧面涂布接着剂33。

公开(公告)号：TW200718948A

公开(公告)日：2007-05-16

申请号：TW094139569

申请日：2005-11-11

Applicant: 日本發條股份有限公司 NHK SPRING CO., LTD.

Inventor： 石川重樹 ISHIKAWA, SHIGEKI ,  仁平崇 NIDAIRA, TAKASHI

IPC: G01R

CPC classification number: G01R31/2891 ,  G01R31/2884

Abstract: 本發明提供一種具有簡易之構成,而且在與檢查對象之間可進行正確對位之接觸單元。在接觸單元(2)所具備之支撐基板(15)之上面,對應於作為檢查對象之電路形成區域(5a)所具備之測試墊(11)之配置形態,配置有接觸探針(13)之同時,對應於虛設墊(7a)至(7d),配置有檢測探針群(14a)至(14d)。檢測探針群(14)係由探針(10、20)所構成,而分別連接於構成位置關係檢測部(22)之發光二極體(12)及電壓源(21)。以接觸單元(2)實施檢查時,經由探針(10、20)與所對應之虛設墊(7)接觸而互為導通時,發光二極體會發光,因此藉由確認發光二極體(12)之發光狀態,即可判定是否正確進行對位。

Abstract in simplified Chinese: 本发明提供一种具有简易之构成,而且在与检查对象之间可进行正确对位之接触单元。在接触单元(2)所具备之支撑基板(15)之上面,对应于作为检查对象之电路形成区域(5a)所具备之测试垫(11)之配置形态,配置有接触探针(13)之同时,对应于虚设垫(7a)至(7d),配置有检测探针群(14a)至(14d)。检测探针群(14)系由探针(10、20)所构成,而分别连接于构成位置关系检测部(22)之发光二极管(12)及电压源(21)。以接触单元(2)实施检查时,经由探针(10、20)与所对应之虚设垫(7)接触而互为导通时,发光二极管会发光,因此借由确认发光二极管(12)之发光状态,即可判定是否正确进行对位。

公开(公告)号：TWI278633B

公开(公告)日：2007-04-11

申请号：TW094143325

申请日：2005-12-08

Applicant: 日本發條股份有限公司 NHK SPRING CO., LTD.

Inventor： 外間裕康 SOTOMA, HIROYASU ,  風間俊男 KAZAMA, TOSHIO

IPC: G01R ,  H01R

CPC classification number: G01R31/2889

Abstract: 本發明之目的在實現：可應付檢查對象之端子的狹小化，同時充分確保與檢查對象的電性連接以及內部的電性連接之檢查裝置。該檢查裝置具備有：探針3、保持探針3之探針保持具4、透過探針3對檢查對象1輸出檢查信號之檢查電路5、以及電性連接探針3與檢查電路5之中繼連接構件6。中繼連接構件6具有：具備有第1配線構造11, 12之第1連接構件8，其中該第1配線構造11, 12係與探針3電性連接且相鄰接者形成於不同的層上；以及具備有第2配線構造16之第2連接構件9，其中該第2配線構造16係與檢查電路5所具備的配線構造7電性連接且形成於同一層上。中繼連接構件6係藉由具備適合與探針3連接之第1連接構件8、以及適合與檢查電路5連接之第2連接構件9，而可實現對於兩者之良好的電性導通。

Abstract in simplified Chinese: 本发明之目的在实现：可应付检查对象之端子的狭小化，同时充分确保与检查对象的电性连接以及内部的电性连接之检查设备。该检查设备具备有：探针3、保持探针3之探针保持具4、透过探针3对检查对象1输出检查信号之检查电路5、以及电性连接探针3与检查电路5之中继连接构件6。中继连接构件6具有：具备有第1配线构造11, 12之第1连接构件8，其中该第1配线构造11, 12系与探针3电性连接且相邻接者形成于不同的层上；以及具备有第2配线构造16之第2连接构件9，其中该第2配线构造16系与检查电路5所具备的配线构造7电性连接且形成于同一层上。中继连接构件6系借由具备适合与探针3连接之第1连接构件8、以及适合与检查电路5连接之第2连接构件9，而可实现对于两者之良好的电性导通。

公开(公告)号：TW200635798A

公开(公告)日：2006-10-16

申请号：TW095103975

申请日：2006-02-07

Applicant: 日本發條股份有限公司 NHK SPRING CO., LTD.

Inventor： 星野秀一 HOSHINO, HIDEKAZU ,  松本弘之 MATSUMOTO, HIROYUKI ,  內宗穗 SAKAUCHI, TOKIO ,  竹內逸雄 TAKEUCHI, ITSUO

IPC: B42D ,  G09F

CPC classification number: B42D25/364 ,  B41M3/14 ,  B42D25/378 ,  B42D2033/26 ,  D06H1/04 ,  D06P1/004 ,  D06P5/001 ,  D06Q1/00 ,  G09F3/00 ,  G09F3/02

Abstract: 本發明之識別媒體為，於織布或不織布之布底上具備含有膽固醇液晶之墨水所形成的識別印刷層。

Abstract in simplified Chinese: 本发明之识别媒体为，于织布或不织布之布底上具备含有胆固醇液晶之墨水所形成的识别印刷层。

公开(公告)号：TW200634312A

公开(公告)日：2006-10-01

申请号：TW094143325

申请日：2005-12-08

Applicant: 日本發條股份有限公司 NHK SPRING CO., LTD.

Inventor： 外間裕康 SOTOMA, HIROYASU ,  風間俊男 KAZAMA, TOSHIO

IPC: G01R ,  H01R

CPC classification number: G01R31/2889

Abstract: 本發明之目的在實現：可應付檢查對象之端子的狹小化，同時充分確保與檢查對象的電性連接以及內部的電性連接之檢查裝置。該檢查裝置具備有：探針3、保持探針3之探針保持具4、透過探針3對檢查對象1輸出檢查信號之檢查電路5、以及電性連接探針3與檢查電路5之中繼連接構件6。中繼連接構件6具有：具備有第1配線構造11,12之第1連接構件8，其中該第1配線構造11,12係與探針3電性連接且相鄰接者形成於不同的層上；以及具備有第2配線構造16之第2連接構件9，其中該第2配線構造16係與檢查電路5所具備的配線構造7電性連接且形成於同一層上。中繼連接構件6係藉由具備適合與探針3連接之第1連接構件8、以及適合與檢查電路5連接之第2連接構件9，而可實現對於兩者之良好的電性導通。

Abstract in simplified Chinese: 本发明之目的在实现：可应付检查对象之端子的狭小化，同时充分确保与检查对象的电性连接以及内部的电性连接之检查设备。该检查设备具备有：探针3、保持探针3之探针保持具4、透过探针3对检查对象1输出检查信号之检查电路5、以及电性连接探针3与检查电路5之中继连接构件6。中继连接构件6具有：具备有第1配线构造11,12之第1连接构件8，其中该第1配线构造11,12系与探针3电性连接且相邻接者形成于不同的层上；以及具备有第2配线构造16之第2连接构件9，其中该第2配线构造16系与检查电路5所具备的配线构造7电性连接且形成于同一层上。中继连接构件6系借由具备适合与探针3连接之第1连接构件8、以及适合与检查电路5连接之第2连接构件9，而可实现对于两者之良好的电性导通。