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公开(公告)号:KR1019950001620B1
公开(公告)日:1995-02-27
申请号:KR1019910024258
申请日:1991-12-24
IPC: H01L35/00
Abstract: The method includes the steps of growing a SixGe1-x thin film (1) on a silicon substrate (4), growing a Ge thin film (2) on the SixGe1-x thin film (1), and growing a GaAs thin film (3) on the Ge thin film (2), thereby forming the SixGe1-x and Ge thin films (1,2) between the Si substrate and the GaAs layer to reduce the lattice mismatch between Si and GaAs.
Abstract translation: 该方法包括以下步骤:在硅衬底(4)上生长SixGe1-x薄膜(1),在SixGe1-x薄膜(1)上生长Ge薄膜(2),并生长GaAs薄膜 3),从而在Si衬底和GaAs层之间形成SixGe1-x和Ge薄膜(1,2),以减少Si和GaAs之间的晶格失配。
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公开(公告)号:KR1019930015149A
公开(公告)日:1993-07-23
申请号:KR1019910024258
申请日:1991-12-24
IPC: H01L35/00
Abstract: 본 발명은 규소저매늄/저매늄을 완충층으로 하여 규소기판상의 갈륨비소층을 형성하기 위한 박막성장방법에 관한 것이다.
그 제조방법은 규소기판(4)상에 규소저매늄 박막(1)을 성장하되 저매늄의 분자함량을 점증시켜 에너지띠 단격이 규소에서 재매늄값으로 변화될 때 성장하는 공정과, 상기 규소저매늄 박막(1)상에 저매늄 박막(2)을 성장하는 공정과, 상기 저매늄 박막(2)상에 갈륨비소층(3)을 형성하는 공정을 포함하여, 상기 규소기판(4)과 갈륨비소층(3) 사이에 있는 규소저매늄 박막(1)과 저매늄 박막(2)을 완충층으로 한다. -
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