公开(公告)号：US20150115176A1

公开(公告)日：2015-04-30

申请号：US14516798

申请日：2014-10-17

Applicant: Sony Corporation

Inventor： Shinji Watanabe ,  Kazuki Aisaka

IPC: G01N21/64

CPC classification number: G01N21/6458 ,  G01N21/6428 ,  G01N2021/6439 ,  G01N2201/025 ,  G01N2201/12

Abstract: A method of setting a laser-light intensity value includes: emitting laser light, the laser light being excitation light, a fluorescent-dyed biological sample being irradiated with the excitation light and emitting light; detecting fluorescence emitted by the biological sample, and outputting a signal corresponding to a brightness value; prestoring relation information, the relation information including the plurality of laser-light intensity values, and information on at least one possible correlation between a phototoxicity degree and the brightness value in relation to each of the laser-light intensity values, the phototoxicity to the biological sample resulting from the laser light; generating a fluorescence image having the brightness value based on the output signal; calculating a brightness value representative of a ROI area based on the generated fluorescence image; and referring to the relation information, and determining a laser-light intensity value satisfying tolerance of the phototoxicity based on the calculated representative brightness value.

Abstract translation: 设置激光强度值的方法包括：发射激光，激光作为激发光，荧光染色的生物样品被激发光照射并发射光; 检测由生物样品发出的荧光，并输出与亮度值对应的信号; 预定关系信息，包括多个激光光强度值的关系信息，以及关于每个激光强度值的光毒性度和亮度值之间的至少一个可能的相关性的信息，对生物学的光毒性 由激光产生的样品; 产生具有基于输出信号的亮度值的荧光图像; 基于所生成的荧光图像计算代表ROI区域的亮度值; 并且参考关系信息，并且基于计算的代表亮度值来确定满足光毒性的容许度的激光光强度值。

公开(公告)号：US20150007638A1

公开(公告)日：2015-01-08

申请号：US14493853

申请日：2014-09-23

Applicant: Picarro, Inc.

Inventor： Chris W. Rella ,  Eric R. Crosson ,  Michael R. Woelk ,  Sze Meng Tan ,  Yonggang He ,  David Steele

IPC: G01M3/04 ,  G01N33/00

CPC classification number: G01N33/0009 ,  G01M3/20 ,  G01M3/38 ,  G01N21/01 ,  G01N21/3504 ,  G01N21/39 ,  G01N2021/0314 ,  G01N2201/025

Abstract: Improved gas leak detection from moving platforms is provided. Automatic horizontal spatial scale analysis can be performed in order to distinguish a leak from background levels of the measured gas. Source identification can be provided by using isotopic ratios and/or chemical tracers to distinguish gas leaks from other sources of the measured gas. Multi-point measurements combined with spatial analysis of the multi-point measurement results can provide leak source distance estimates. Qualitative source identification is provided. These methods can be practiced individually or in any combination.

Abstract translation: 提供了从移动平台改进的气体泄漏检测。 可以进行自动水平空间尺度分析，以区分泄漏与被测气体的背景水平。 可以通过使用同位素比率和/或化学示踪剂来提供源识别，以区分气体泄漏与测量气体的其他来源。 多点测量结合多点测量结果的空间分析可以提供泄漏源距离估计。 提供定性来源识别。 这些方法可以单独或以任何组合实施。

公开(公告)号：US07883669B2

公开(公告)日：2011-02-08

申请号：US11408612

申请日：2006-04-20

Applicant: Gang Sun ,  Greg Harris ,  Andy May ,  Kyle Self ,  Kevin Farrell ,  Paul Wyatt

Inventor： Gang Sun ,  Greg Harris ,  Andy May ,  Kyle Self ,  Kevin Farrell ,  Paul Wyatt

IPC: B01L3/02

CPC classification number: G01N35/00029 ,  B01L3/5027 ,  B01L3/502715 ,  B01L2200/10 ,  B01L2300/06 ,  B01L2300/0654 ,  B01L2300/0829 ,  C12Q1/686 ,  G01N15/1475 ,  G01N21/6428 ,  G01N35/00732 ,  G01N35/00871 ,  G01N35/0092 ,  G01N35/0099 ,  G01N35/1065 ,  G01N2035/00148 ,  G01N2035/00237 ,  G01N2035/00752 ,  G01N2035/0091 ,  G01N2035/1034 ,  G01N2201/025 ,  G01N2201/0446 ,  Y10S901/01 ,  Y10T436/11

Abstract: Systems for managing workflows to perform chemical or biological reactions using microfluidic devices.

Abstract translation: 用于管理使用微流体装置进行化学或生物反应的工作流的系统。

公开(公告)号：US07214346B2

公开(公告)日：2007-05-08

申请号：US10467242

申请日：2002-02-06

Applicant: James Douglas Harper ,  Richard Hart Mathews ,  Bernadette Johnson ,  Martha Susan Petrovick ,  Ann Rundell ,  Frances Ellen Nargi ,  Timothy Stephens ,  Linda Marie Mendenhall ,  Mark Alexander Hollis ,  Albert M. Young ,  Todd H. Rider ,  Eric David Schwoebel ,  Trina Rae Vian

Inventor： James Douglas Harper ,  Richard Hart Mathews ,  Bernadette Johnson ,  Martha Susan Petrovick ,  Ann Rundell ,  Frances Ellen Nargi ,  Timothy Stephens ,  Linda Marie Mendenhall ,  Mark Alexander Hollis ,  Albert M. Young ,  Todd H. Rider ,  Eric David Schwoebel ,  Trina Rae Vian

IPC: G01N21/00 ,  G01N21/01 ,  G01N21/62 ,  G01N21/63 ,  G01N21/64 ,  G01N33/52

CPC classification number: G01N33/554 ,  G01N15/0205 ,  G01N21/07 ,  G01N21/64 ,  G01N21/6428 ,  G01N21/75 ,  G01N21/76 ,  G01N33/54373 ,  G01N33/54393 ,  G01N33/56983 ,  G01N33/582 ,  G01N2021/6439 ,  G01N2201/025 ,  G01N2201/061 ,  Y10S435/808 ,  Y10S436/805

Abstract: The invention relates to optoelectronic systems for detecting one or more target particles. The system includes a reaction chamber, a specimen collector, an optical detector, and a reservoir containing cells, each of the cells having receptors which are present on the surface of each cell and are specific for the target particle to be detected, where binding of the target particle to the receptors directly or indirectly activates a reporter molecule, thereby producing a measurable optical signal.

Abstract translation: 本发明涉及用于检测一个或多个目标颗粒的光电子系统。 该系统包括反应室，样品收集器，光学检测器和含有细胞的储存器，每个细胞具有存在于每个细胞表面上并且对待检测的靶颗粒是特异性的受体，其中结合 受体的目标颗粒直接或间接激活报告分子，从而产生可测量的光信号。

公开(公告)号：WO2017109781A1

公开(公告)日：2017-06-29

申请号：PCT/IL2016/051364

申请日：2016-12-21

Applicant: MUGRABI, Adir ,  ROSENBERG, Ariel

Inventor： MUGRABI, Adir ,  ROSENBERG, Ariel

IPC: G01N21/87 ,  B24B9/16 ,  A44C17/02

CPC classification number: G01N21/87 ,  G01N21/01 ,  G01N2201/025

Abstract: A portable small-object holding device, comprising: a housing, movable gripper jaws configured to grip and hold a small object; at least one hinge and at least one cog-wheel configured to enable rotating said at least one hinge around its longitudinal axis; and wherein the portable small-object holding device is adapted to enable illuminating the small object when being held within said portable small-object holding device, by a beam of light at least one wavelength. The inspection of the small-object is carried out after inserting the portable small- object holding device via an aperture comprised in a portable apparatus for inspecting small objects, and preferably engaging the portable small-object holding device with the portable apparatus for inspecting small objects.

Abstract translation: 一种便携式小物体保持装置，包括：壳体，可移动夹爪，被构造为夹持和保持小物体; 至少一个铰链和至少一个齿轮，所述至少一个齿轮构造成能够使所述至少一个铰链绕其纵向轴线旋转; 并且其中所述便携式小物体保持装置适于通过至少一个波长的光束照亮所述小物体在被保持在所述便携式小物体保持装置内时的照亮。 在通过包括在用于检查小物体的便携式设备中的孔插入便携式小物体保持装置并且优选地将便携式小物体保持装置与便携式装置接合以检查小物体之后执行小物体的检查

公开(公告)号：WO2015179233A1

公开(公告)日：2015-11-26

申请号：PCT/US2015/031051

申请日：2015-05-15

Applicant: KLA-TENCOR CORPORATION

Inventor： MALEEV, Ivan ,  KODE, Venkata

IPC: H01L21/66

CPC classification number: G01N21/9503 ,  G01N21/47 ,  G01N21/55 ,  G01N2201/025 ,  G01N2201/061

Abstract: Methods and systems for determining wafer inspection coordinates for fixed location(s) on a wafer are provided. One system includes an illumination subsystem configured to direct light to a spot on an edge of a wafer. The spot extends beyond the edge of the wafer. The system also includes a stage that rotates the wafer thereby causing the spot to be scanned over the edge of the wafer. The system also includes a detector configured to detect light from the spot while the spot is being scanned over the edge and to generate output responsive thereto. The system further includes a computer processor configured to determine wafer inspection coordinates of two or more locations on the edge of the wafer based on the output and to determine wafer inspection coordinates of fixed location(s) on the wafer based on the wafer inspection coordinates of the two or more locations on the edge.

Abstract translation: 提供了用于确定晶片上固定位置的晶片检查坐标的方法和系统。 一个系统包括被配置为将光引导到晶片边缘上的点的照明子系统。 斑点延伸超过晶片的边缘。 该系统还包括使晶片旋转的台，从而使光斑在晶片的边缘上扫描。 该系统还包括检测器，其被配置为在斑点被扫描在边缘上时检测来自斑点的光并且响应于此产生输出。 该系统还包括计算机处理器，其被配置为基于输出来确定晶片边缘上的两个或更多个位置的晶片检查坐标，并且基于晶片的晶片检查坐标来确定晶片上固定位置的晶片检查坐标 边缘上的两个或多个位置。

公开(公告)号：WO2014035348A1

公开(公告)日：2014-03-06

申请号：PCT/SG2013/000383

申请日：2013-09-02

Applicant: SEMICONDUCTOR TECHNOLOGIES & INSTRUMENTS PTE LTD

Inventor： JIN, Jian Ping ,  LEE, Leng Kheam

IPC: H01L21/677 ,  H01L21/68 ,  H01L21/683

CPC classification number: H01L21/681 ,  B25J11/0095 ,  B25J15/0616 ,  B25J15/0658 ,  B25J15/0666 ,  G01B11/27 ,  G01N21/9501 ,  G01N2201/025 ,  H01L21/67144 ,  H01L21/67706 ,  H01L21/6838 ,  H01L21/68757 ,  Y10T29/49826

Abstract: A multifunction wafer and film frame handling system includes a wafer table assembly having a wafer table providing an ultra-planar wafer table surface configured for carrying a wafer or a film frame, and at least one of: a flattening apparatus configured for automatically applying a downward force to portions of a warped or non-planar wafer in a direction normal to the wafer table surface; a displacement limitation apparatus configured for automatically constraining or preventing uncontrolled lateral motion of a wafer relative to the wafer table surface after cessation of an applied negative pressure and application of a positive pressure to the underside of the wafer via the wafer table; and a rotational misalignment compensation apparatus configured for automatically compensating for a rotational misalignment of a wafer mounted on a film frame.

Abstract translation: 一种多功能晶片和薄膜框架处理系统，包括晶片台组件，该晶片台组件具有提供用于承载晶片或薄膜框架的超平面晶片台表面的晶片台，以及至少一个：平坦化装置，其被配置为自动施加向下 在垂直于晶片台表面的方向上对翘曲或非平面晶片的部分施力; 位移限制装置，被配置为在停止施加的负压之后自动约束或防止晶片相对于晶片台表面的不受控横向运动，并且通过晶片台向晶片的下侧施加正压力; 以及旋转对准补偿装置，被配置为自动补偿安装在胶片框架上的晶片的旋转未对准。

公开(公告)号：WO2014035347A1

公开(公告)日：2014-03-06

申请号：PCT/SG2013/000382

申请日：2013-09-02

Applicant: SEMICONDUCTOR TECHNOLOGIES & INSTRUMENTS PTE LTD

Inventor： LIN, Jing

IPC: H01L21/68 ,  H01L21/677 ,  H01L21/683

CPC classification number: H01L21/681 ,  B25J11/0095 ,  B25J15/0616 ,  B25J15/0658 ,  B25J15/0666 ,  G01B11/27 ,  G01N21/9501 ,  G01N2201/025 ,  H01L21/67144 ,  H01L21/67706 ,  H01L21/6838 ,  H01L21/68757 ,  Y10T29/49826

Abstract: Automatically correcting for rotational misalignment of a wafer improperly mounted on a film frame includes capturing an image of portions of the wafer using an image capture device, prior to initiation of a wafer inspection procedure by an inspection system; digitally determining a rotational misalignment angle and a rotational misalignment direction of the wafer relative to the film frame and/or a set of reference axes of a field of view of the image capture device; and correcting for the rotational misalignment of the wafer by way of a film frame handling apparatus separate from the inspection system, which is configured for rotating the film frame across the rotational misalignment angle in a direction opposite to the rotational misalignment direction. Such film frame rotation can occur prior to placement of the film frame on the wafer table, without decreasing film frame handling throughput or inspection process throughput.

Abstract translation: 自动校正不正确地安装在胶片框架上的晶片的旋转未对准包括在通过检查系统启动晶片检查过程之前使用图像捕获装置捕获晶片的部分图像; 数字地确定晶片相对于胶片框架的旋转未对准角度和旋转未对准方向和/或图像捕获装置的视场的一组参考轴; 以及通过与检查系统分离的胶片框架处理装置校正晶片的旋转未对准，所述检查系统被配置为沿与旋转未对准方向相反的方向旋转胶片框架跨过旋转未对准角度。 在胶片框架放置在晶片台上之前，胶片框架旋转可能发生，而不会降低胶片框架处理量或检查处理量。

公开(公告)号：WO2014033320A1

公开(公告)日：2014-03-06

申请号：PCT/EP2013/068186

申请日：2013-09-03

Applicant: JOHANN WOLFGANG GOETHE-UNIVERSITÄT

Inventor： PAMPALONI, Francesco ,  STELZER, Ernst H. K. ,  MATTHEYER, Christian

IPC: G01N21/03 ,  G01N21/11 ,  G01N21/64 ,  G02B21/33 ,  G02B21/00 ,  B01L3/00 ,  G02B21/26

CPC classification number: G01N21/03 ,  B01L3/5082 ,  B01L2300/042 ,  B01L2300/0858 ,  G01N21/0303 ,  G01N21/11 ,  G01N21/13 ,  G01N21/6458 ,  G01N21/6486 ,  G01N2021/0307 ,  G01N2021/0346 ,  G01N2021/0378 ,  G01N2021/0389 ,  G01N2201/025 ,  G01N2201/06113 ,  G02B21/0076 ,  G02B21/16 ,  G02B21/26 ,  G02B21/33

Abstract: Die Erfindung betriffteine Kapillarzelle (10a, 10b), eine Anordnung und ein Verfahren zur Aufnahme, zur Positionierung und zur Untersuchungeiner mikroskopischen Probe, insbesondere einer aufgehellten, fluoreszierenden Probe,mithilfe eines Lichtscheiben-Fluoreszenz-Mikroskopes. Die Kapillarzelle (10a, 10b) ist geeignet, in einem Kammervolumen positioniert zu werdenund enthält einen Kapillarabschnitt (12a, 12b), der eine Wand (18a, 18b) umfasst. Die Wand (18a, 18b) umschließtein Probenvolumenundist zumindest abschnittsweise eben und transparent. Weiterhin umfasst die Kapillarzelle (10a, 10b) einen oberen und einen unteren Verschlussabschnitt(16a, 16b und 14a, 14b), die mit dem Kapillarabschnitt (12a, 12b) verbunden sind und die den Kapillarabschnitt (12a, 12b) verschließen. Durch den Kapillarabschnitt (12a, 12b), den oberen Verschlussabschnitt(16a, 16b) und den unteren Verschlussabschnitt(14a, 14b) wird das Probenvolumen von dem Kammervolumen getrennt..

Abstract translation: 本发明betriffteine毛细管池（10A，10B），一个安排和用于接收，用于定位和显微样品，特别是亮，荧光样品的检查，与光盘荧光显微镜的方法。 毛细管单元（10A，10B）适于werdenund定位在腔室容积包含毛细管（12A，12B）具有壁（18A，18B）。 所述壁（18A，18B）umschließteinProbenvolumenundist至少部分平坦且透明的。 此外，毛细管单元包括（10A，10B）具有上和下开闭器部分（16a，16b和14A，14B）与所述毛细管（12A，12B）连接（12A，12B）封闭的毛细管。 由于毛细管（12A，12B），所述上锁定部（16A，16B）和所述下封盖部分（14A，14B）是从腔室容积中分离的样品体积..

公开(公告)号：WO2013006853A1

公开(公告)日：2013-01-10

申请号：PCT/US2012/045942

申请日：2012-07-09

Applicant: CIDRA CORPORATE SERVICES INC. ,  DAVIS, Michael A. ,  CARLSON, Andrew E. ,  WINKOWSKI, David O. ,  VIEGA, John V. ,  KERSEY, Alan D. ,  FERNALD, Mark R.

Inventor： DAVIS, Michael A. ,  CARLSON, Andrew E. ,  WINKOWSKI, David O. ,  VIEGA, John V. ,  KERSEY, Alan D. ,  FERNALD, Mark R.

IPC: G01N33/00

CPC classification number: G01N21/27 ,  G01G19/08 ,  G01N21/31 ,  G01N21/3563 ,  G01N21/84 ,  G01N33/241 ,  G01N2201/025 ,  G01N2201/08 ,  G01N2201/12 ,  G06T7/00 ,  G06T2207/30181 ,  H04N5/332

Abstract: Apparatus is provided featuring a signal processor or signal processing module configured to receive signaling containing information about images of an ore sample; and determine information about a Bitumen Content of the ore sample based at least partly on the signaling, including for use in real time ore blend management in a bitumen recovery process related to mined oil sands. The ore sample may be an ore face, and the signaling may contain information about the images of the ore face. The signal processor or signal processing module may be configured to determine a real time ore face ore grade visualization based at least partly on the signaling, and provide corresponding signaling containing information about the real time ore face ore grade visualization, including a composite overlay image.

Abstract translation: 提供设备，其特征在于信号处理器或信号处理模块，其被配置为接收包含关于矿石样品的图像的信息的信令; 并且至少部分地基于信号确定矿石样品的沥青含量的信息，包括用于与开采的油砂相关的沥青回收过程中的实时矿石混合管理。 矿石样品可以是矿石面，信号可以包含关于矿石图像的信息。 信号处理器或信号处理模块可以被配置为至少部分地基于信令来确定实时矿石等级可视化，并且提供包含关于实时矿石等级可视化的信息的相应信令，包括复合覆盖图像。