公开(公告)号：EP0412653A3

公开(公告)日：1991-06-26

申请号：EP90307517.4

申请日：1990-07-10

Applicant: DONNELLY CORPORATION

Inventor： Schierbeek, Kenneth Lee ,  O'Farrell, Desmond James

IPC: B60S1/08

CPC classification number: B60S1/0822 ,  B60S1/0833 ,  B60S1/0881 ,  B60S1/0888 ,  G01N21/43 ,  G01N2201/0813

Abstract: A moisture sensing assembly (10), adapted for mounting on the inner surface (14) of a vehicle window or windshield (12) to control vehicle accessories such as windshield wipers (30), maximizes the window area being sensed while minimizing the size of the overall assembly. In the preferred embodiment, moisture on the outer window surface (14) is detected by stacked rows of infrared energy receiving sensors (170) spaced in angular relationship from stacked rows of infrared energy emitting diodes (39). The emitter diodes (39) and sensors (170) are preferably carried in separate emitter and detector mounting blocks (100,140) slidably fitted in a rigid carrier (52). The sensor (170) row closest to the window (12) receives energy from the diode emitter row (39) farthest from the window (12) and vice versa. Energy barrier walls (122,150) are provided in the diode and sensor support (100,140) for blocking energy reflected by the inside window surface (14). The assembly (10) is adapted for use with an electrical circuit (34) which operates one emitter diode row (39) and its corresponding sensor row (170) while the other emitter and sensor rows (39,170) are deactivated to prevent interference and false reflected signals from the other emitter row (39). Removable attachment to the window (12) with a circular member (210) provides ease of installation and improved positioning and orientation of the sensing assembly (10).

公开(公告)号：EP0412653A2

公开(公告)日：1991-02-13

申请号：EP90307517.4

申请日：1990-07-10

Applicant: DONNELLY CORPORATION

Inventor： Schierbeek, Kenneth Lee ,  O'Farrell, Desmond James

IPC: B60S1/08

CPC classification number: B60S1/0822 ,  B60S1/0833 ,  B60S1/0881 ,  B60S1/0888 ,  G01N21/43 ,  G01N2201/0813

Abstract: A moisture sensing assembly (10), adapted for mounting on the inner surface (14) of a vehicle window or windshield (12) to control vehicle accessories such as windshield wipers (30), maximizes the window area being sensed while minimizing the size of the overall assembly. In the preferred embodiment, moisture on the outer window surface (14) is detected by stacked rows of infrared energy receiving sensors (170) spaced in angular relationship from stacked rows of infrared energy emitting diodes (39). The emitter diodes (39) and sensors (170) are preferably carried in separate emitter and detector mounting blocks (100,140) slidably fitted in a rigid carrier (52). The sensor (170) row closest to the window (12) receives energy from the diode emitter row (39) farthest from the window (12) and vice versa. Energy barrier walls (122,150) are provided in the diode and sensor support (100,140) for blocking energy reflected by the inside window surface (14). The assembly (10) is adapted for use with an electrical circuit (34) which operates one emitter diode row (39) and its corresponding sensor row (170) while the other emitter and sensor rows (39,170) are deactivated to prevent interference and false reflected signals from the other emitter row (39). Removable attachment to the window (12) with a circular member (210) provides ease of installation and improved positioning and orientation of the sensing assembly (10).

Abstract translation: 适于安装在车窗或挡风玻璃（12）的内表面（14）上以控制诸如挡风玻璃刮水器（30）的车辆附件的湿度感测组件（10）使得所检测的窗口面积最大化，同时最小化 整体装配。 在优选实施例中，通过与堆叠的红外能量发射二极管（39）的角度间隔开的堆叠的红外能量接收传感器（170）行来检测外窗表面（14）上的水分。 发射二极管（39）和传感器（170）优选地携带在可滑动地装配在刚性载体（52）中的分离的发射器和检测器安装块（100,140）中。 最靠近窗口（12）的传感器（170）行从距离窗口（12）最远的二极管发射器排（39）接收能量，反之亦然。 能量阻挡壁（122,150）设置在二极管和传感器支撑件（100,140）中，用于阻挡由内窗表面（14）反射的能量。 组件（10）适于与电路（34）一起使用，该电路操作一个发射二极管排（39）及其对应的传感器行（170），而另一发射器和传感器行（39,170）被去激活以防止干扰和假 来自另一发射器列（39）的反射信号。 具有圆形构件（210）的可拆卸地附接到窗（12）提供了易于安装和改进的感测组件（10）的定位和取向。

公开(公告)号：EP0299606A1

公开(公告)日：1989-01-18

申请号：EP88304708.6

申请日：1988-05-25

Applicant: Hochstein, Peter A.

Inventor： Hochstein, Peter A.

IPC: B60S1/08

CPC classification number: B60S1/0822 ,  B32B17/10036 ,  B32B17/10651 ,  B32B17/10761 ,  B60S1/0837 ,  G01N2201/0813 ,  Y10S15/15

Abstract: The invention is a moisture sensor which includes an emitter (18) to emit pulses of radiant energy toward the inside surface (14) of a window (12) at an incident angle (9). The radiant energy is refracted into the window (12) at the air-inside window surface (14) and reflected off the air-­outside window surface (16) back through the window (12). The radiant energy is then detected by a detector (20) at a reflection angle (ϑ′) equal to the incident angle (ϑ). A support (22) spaces the emitter (18) and detector (20) a distance D betveen the intersection (I) of the axis (A) of the emitter (18) with the inside window surface (14) and the intersection (E) of the axis (B) oi the detector (20) with the inside window surface (14) which is determined by the formula:

D = 2 T cos ϑ(n² - cos² ϑ)⁻ 1/2

The detector (20) includes a collimator (36) to prevent non-parallel radiant energy from entering the detector (20) and an optical filter (40) to filter out radiant energy wavelengths below a predetermined wavelength in order to detect the emitted radiant energy.

Abstract translation: 本发明是一种湿度传感器，其包括以入射角（9）朝向窗口（12）的内表面（14）发射辐射能的脉冲的发射器（18）。 辐射能量在空气内窗表面（14）处折射到窗口（12）中，并通过窗口（12）从空气外表面（16）反射回。 然后由检测器（20）以等于入射角（θ）的反射角（θmin）检测辐射能。 支撑件（22）将发射器（18）和发射器（18）的轴线（A）的交点（I）与内侧窗口表面（14）和交点（E）之间的距离D设置在发射器（18）和检测器（20） 检测器（20）的轴线（B）的内部窗口表面（14）由下式确定：D = 2 Tcosθ（n 2 - cosθ2） 检测器（20）包括准直器（36），用于防止不平行的辐射能量进入检测器（20）和滤光器（40）以过滤低于预定波长的辐射能量波长，以便检测 发射的辐射能量。

公开(公告)号：EP0110262A3

公开(公告)日：1984-12-27

申请号：EP83111545

申请日：1983-11-18

Applicant: MILES LABORATORIES, INC.

Inventor： Brunsting, Albert

IPC: G01N21/47

CPC classification number: G01J3/02 ,  G01J3/0262 ,  G01N21/474 ,  G01N2021/478 ,  G01N2201/064 ,  G01N2201/0813

Abstract: Reflectance apparatus is disclosed for obtaining the measurement of reflected light in which a light trap is positioned in the light path between the specimen and the detector to minimize stray light reflected from the specimen being analyzed as light from the light source is reflected from the specimen to the detector.

公开(公告)号：TWI334925B

公开(公告)日：2010-12-21

申请号：TW094121909

申请日：2005-06-29

Applicant: 牛尾電機股份有限公司

Inventor： 松本茂樹 ,  野澤繁典

IPC: G01N

CPC classification number: G01N21/0303 ,  B01L3/502715 ,  B01L9/527 ,  B01L2300/0654 ,  B01L2300/0816 ,  B01L2300/0867 ,  G01N2201/0813

Abstract: 【課題】提供有使用放電燈於測定用光源，進行微晶片的吸光度測定，且測定誤差小的微晶片用的吸光度測定單元。
【解決手段】一種吸光度測定單元，使用：由已黏合的2片的板構件所構成，在黏合面具有空洞部，成為具備構成了連通該空洞部且沿著分析液導入部、試藥積蓄部、試藥混合部與該板構件的一端面，配設為直線狀的吸光度測定部之微晶片；和安裝微晶片的晶片夾具所構成之微晶片；在晶片夾具，形成吸光度測定部與光軸一致、具有比起對吸光度測定部的光軸垂直的剖面徑還要窄的開口徑的光導入用的毛細管部之吸光度測定單元。

Abstract in simplified Chinese: 【课题】提供有使用放电灯于测定用光源，进行微芯片的吸光度测定，且测定误差小的微芯片用的吸光度测定单元。 【解决手段】一种吸光度测定单元，使用：由已黏合的2片的板构件所构成，在黏合面具有空洞部，成为具备构成了连通该空洞部且沿着分析液导入部、试药积蓄部、试药混合部与该板构件的一端面，配设为直线状的吸光度测定部之微芯片；和安装微芯片的芯片夹具所构成之微芯片；在芯片夹具，形成吸光度测定部与光轴一致、具有比起对吸光度测定部的光轴垂直的剖面径还要窄的开口径的光导入用的毛细管部之吸光度测定单元。

公开(公告)号：TW200508592A

公开(公告)日：2005-03-01

申请号：TW093104867

申请日：2004-02-26

Applicant: 濱松赫德尼古斯股份有限公司 HAMAMATSU PHOTONICS K.K.

Inventor： 山內一德 YAMAUCHI, KAZUNORI

IPC: G01N

CPC classification number: G01N30/90 ,  G01N21/474 ,  G01N21/78 ,  G01N21/8483 ,  G01N2201/064 ,  G01N2201/0813

Abstract: 測定頭41包含有第1、第2構件51、61以及筒狀構件71。第1構件51中係連續地形成有貫通第1構件51之第1～第5孔部52～56。第2構件61中係連續地形成有貫通第2構件61之第6～第8孔部62～64。第2構件62係內插於第5孔部56而被固定。半導體發光元件23係插入第6孔部62。筒狀構件71具有第1筒部分72和第2筒部分73，係內插於第4孔部55。透鏡27係由形成在第2孔部53與第3孔部54的疆界部之段部和第1筒部分72所夾持固定。光束整形構件25係由形成在第4孔部55與第5孔部56的疆界部之段部和第2構件61所夾持固定。

Abstract in simplified Chinese: 测定头41包含有第1、第2构件51、61以及筒状构件71。第1构件51中系连续地形成有贯通第1构件51之第1～第5孔部52～56。第2构件61中系连续地形成有贯通第2构件61之第6～第8孔部62～64。第2构件62系内插于第5孔部56而被固定。半导体发光组件23系插入第6孔部62。筒状构件71具有第1筒部分72和第2筒部分73，系内插于第4孔部55。透镜27系由形成在第2孔部53与第3孔部54的疆界部之段部和第1筒部分72所夹持固定。光束整形构件25系由形成在第4孔部55与第5孔部56的疆界部之段部和第2构件61所夹持固定。

公开(公告)号：TWI322263B

公开(公告)日：2010-03-21

申请号：TW093104867

申请日：2004-02-26

Applicant: 濱松赫德尼古斯股份有限公司

Inventor： 山內一德

IPC: G01N

CPC classification number: G01N30/90 ,  G01N21/474 ,  G01N21/78 ,  G01N21/8483 ,  G01N2201/064 ,  G01N2201/0813

Abstract: 測定頭41包含有第1、第2構件51、61以及筒狀構件71。第1構件51中係連續地形成有貫通第1構件51之第1~第5孔部52~56。第2構件61中係連續地形成有貫通第2構件61之第6~第8孔部62~64。第2構件62係內插於第5孔部56而被固定。半導體發光元件23係插入第6孔部62。筒狀構件71具有第1筒部分72和第2筒部分73,係內插於第4孔部55。透鏡27係由形成在第2孔部53與第3孔部54的疆界部之段部和第1筒部分72所夾持固定。光束整形構件25係由形成在第4孔部55與第5孔部56的疆界部之段部和第2構件61所夾持固定。 A detection head 41 comprises of a first and second member 51, 61 and a tubby member 71. The first member 51 is penetrated by the first to fifth aperture portions 52 - 56 which are continuously formed in the first member 51. The second member 61 are penetrated the sixth to eighth aperture portions 62 - 64, which are continuously formed in the second member 61. The second member 62 is inserted into the fifth aperture 56 and fixed therein. Semiconductor luminance component 23 is inserted into the sixth aperture 62. The tubby member 71 has first tubby portion 72 and second tubby portion 73, and is inserted into the fourth aperture 55. Lens 27 is pinched by the section portion of the boundary portion between the second aperture portion 52 and the third aperture portion 54 and the first tubby portion 72. Light beam reshape member 25 is pinched by the section portion of the boundary portion between the fourth aperture portion 55 and the fifth aperture portion 56 and the second member 61. 【創作特點】 本發明係鑑於上述問題點而發展成功者，其第1目的在提供一種免疫層析試驗片之測定裝置，其可抑制雜散光之發生，且可提高顯色度之測定精度。
並且，本發明之第2目的在提供一種光源裝置，其可抑制雜散光之發生，且可照射鮮明的狹縫光。
為了達成上述目的，本發明之免疫層析試驗片的測定裝置，係具備有：將測定光照射到免疫層析試驗片上用的照射光學系統，及可檢出由於該測定光的照射、而從免疫層析試驗片上反射的反射光之檢出光學系統，其特徵為：照射光學系統具有：半導體發光元件，及將來自於半導體發光元件的光整形成具有沿著與形成於免疫層析試驗片上之顯色線為略平行之方向延伸之光束剖面的光之光束整形構件，及將來自於光束整形構件的光成像於免疫層析試驗片上用的透鏡，及配置於半導體發光元件與光束整形構件之間、而除去雜散光用之筒狀的第1遮光(baffle)部，及配置於光束整形構件與透鏡之間、而除去雜散光用之筒狀的第2遮光部，及配置於透鏡與免疫層析試驗片之間、而除去雜散光用之筒狀的第3遮光部。
在本發明之免疫層析試驗片的測定裝置中，在半導體發光元件與光束整形構件之間配置有第1遮光部，在光束整形構件與透鏡之間配置有第2遮光部，在透鏡與免疫層析試驗片之間配置有第3遮光部，因此由這些筒狀之各遮光部可抑制雜散光之發生。並且，利用透鏡可將來自光束整形構件的光成像於免疫層析試驗片上。因而，可抑制免疫層析試驗片上所不需要的雜散光之射入，使照射到免疫層析試驗片上的測定光變成鮮明，因此可使顯色度之測定精度大幅地提高。
並且，照射光學系統較佳為又在第1遮光部與光束整形構件之間配置有比第1遮光部更大直徑的筒狀空間部。在此情況下，雜散光被封閉在筒狀空間部中，因此可更進一步地抑制免疫層析試驗片上所不需要的雜散光之射入。
並且，照射光學系統較佳為又在光束整形構件與第2遮光部之間配置有比第2遮光部更大直徑的筒狀空間部。在此情況下，雜散光被封閉在筒狀空間部中，因此可更進一步地抑制免疫層析試驗片上所不需要的雜散光之射入。
並且，照射光學系統較佳為又在透鏡與第3遮光部之間配置有比第3遮光部更大直徑的筒狀空間部。此情況下，雜散光被封閉在筒狀空間部中，因此可更進一步地抑制免疫層析試驗片上所不需要的雜散光之射入。
並且，照射光學系統係裝設於光學頭上，該光學頭包含有：具有預定內徑而做為第3遮光部之功能的第1孔部、及具有比第1孔部更大的內徑之第2孔部、及具有比第2孔部更大的內徑且插入透鏡之第3孔部、及具有比第3孔部更大的內徑之第4孔部、及具有比第4孔部更大的內徑之第5孔部連續地形成之第1構件，及內插於第5孔部中，插入有半導體發光元件的第6孔部及具有預定內徑而做為第1遮光部之功能的第7孔部所連續地形成之第2構件，及內插於第4孔部中，一端側部分具有預定之內徑而做為第2遮光部之功能的筒狀構件，以形成於第2孔部及第3孔部之疆界部上的段部及筒狀構件而將透鏡固定，以形成於第4孔部及第5孔部之疆界部上的段部及第2構件而將光束整形構件固定較佳。在此情況下，可將照射光學系統(半導體發光元件、光束整形構件、透鏡、第1遮光部、第2遮光部、及第3遮光部)組裝到上述光學頭中而單元化，不僅可使構造簡單化，同時使半導體發光元件、光束整形構件及透鏡的組裝很容易。
並且，在第2構件中，較佳為具有比第7孔徑更大的內徑之第8孔徑在該第7孔徑上連續地形成。在此情況下，可將雜散光封閉在由第8孔徑所區劃的空間部中，因此可更進一步地抑制免疫層析試驗片上所不需要的雜散光之射入。
並且，筒狀構件較佳被設定為其另一端側部分的內徑比一端側部分的內徑更大。在此情況下，可將雜散光封閉在由筒狀構件中之另一端側部分所區劃的空間部中，因此可更進一步地抑制免疫層析試驗片上所不需要的雜散光之射入。
並且，較佳為在第1孔部、第7孔部、及筒狀構件中之一端側部分的內側中，形成有陰螺紋。在此情況下，以形成陰螺紋之極簡單的構成，即可更進一步地抑制免疫層析試驗片上所不需要的雜散光之射入。
並且，較佳為更具備有：裝有照射光學系統及檢出光學系統之光學頭，及載置免疫層析試驗片用之載置板，及在橫切顯色線之掃瞄方向上、使載置板及光學頭做相對移動的掃瞄機構。在此情況下，在光學頭上裝有照射光學系統及檢出光學系統之時，構造變成簡單，並且光學頭在掃瞄方向上移動用之掃瞄機構僅須1個系統即可，因此掃瞄機構的構造或其控制系統的構成變成簡單。
並且，半導體發光元件較佳為發光二極體。在此情形下，可使光源的光強度提高。
並且，光束整形構件較佳為做成：形成有：與形成於免疫層析試驗片上之顯色線略平行的方向的方向上延伸之狹縫的板狀構件。在此情形下，可使光束整形構件的構造簡單化。
為了達成上述目的，本發明之光源裝置係將狹縫光照射到測定對象物上之光源裝置，其特徵為：具備有：半導體發光元件，及將來自半導體發光元件的光整形用的光束整形構件，及將來自光束整形構件的光成像於測定對象物上用的透鏡，及配置於半導體發光元件與光束整形構件之間、而除去雜散光用筒狀之第1遮光部，及配置於光束整形構件與透鏡之間、而除去雜散光用筒狀之第2遮光部，及配置於透鏡與測定對象物上之間、而除去雜散光用筒狀之第3遮光部。
本發明之光源裝置之中，在半導體發光元件與光束整形構件之間配置有第1遮光部，在光束整形構件與透鏡之間配置有第2遮光部，在透鏡與測定對象物之間配置有第3遮光部，因此由這些筒狀之各遮光部可抑制雜散光之發生。並且，利用透鏡可將來自光束整形構件的光成像於測定對象物上。因而，可抑制測定對象物上所不需要的雜散光之射入，使照射到測定對象物上的測定光變成鮮明。
較佳為又在第1遮光部與光束整形構件之間配置有比第1遮光部更大直徑的筒狀空間部。在此情況下，雜散光被封閉在筒狀空間部中，因此可更進一步地抑制測定對象物上所不需要的雜散光之射入。
並且，較佳為又在光束整形構件與第2遮光部之間配置有比第2遮光部更大直徑的筒狀空間部。此情況下，雜散光被封閉在筒狀空間部中，因此可更進一步地抑制測定對象物上所不需要的雜散光之射入。
並且，較佳為又在透鏡與第3遮光部之間配置有比第3遮光部更大直徑的筒狀空間部。此情況下，雜散光被封閉在筒狀空間部中，因此可更進一步地抑制測定對象物上所不需要的雜散光之射入。
為了達成上述目的，本發明之免疫層析試驗片的測定裝置之特徵為：具備有：載置免疫層析試驗片的台，及將測定光朝向台照射之照射光學系統，及檢出從台側射入的光的檢出光學系統，照射光學系統及檢出光學系統對台以預定之掃瞄方向而做相對的移動，照射光學系統具備有：半導體發光元件，及將來自半導體發光元件的光整形成具有沿著與上述預定之方向延伸之光束剖面的光之用的光束整形構件，及將來自光束整形構件的光成像用的透鏡，及配置於半導體發光元件與光束整形構件之間、而除去雜散光用筒狀之第1遮光部，及配置於光束整形構件與透鏡之間、而除去雜散光用筒狀之第2遮光部，及配置於透鏡與台之間、而除去雜散光用筒狀之第3遮光部。
在本發明之免疫層析試驗片的測定裝置之中，可抑制免疫層析試驗片上所不需要的雜散光之射入，因此可使照射到免疫層析試驗片上的測定光變成鮮明，因此可使顯色度之測定精度大幅地提高。

Abstract in simplified Chinese: 测定头41包含有第1、第2构件51、61以及筒状构件71。第1构件51中系连续地形成有贯通第1构件51之第1~第5孔部52~56。第2构件61中系连续地形成有贯通第2构件61之第6~第8孔部62~64。第2构件62系内插于第5孔部56而被固定。半导体发光组件23系插入第6孔部62。筒状构件71具有第1筒部分72和第2筒部分73,系内插于第4孔部55。透镜27系由形成在第2孔部53与第3孔部54的疆界部之段部和第1筒部分72所夹持固定。光束整形构件25系由形成在第4孔部55与第5孔部56的疆界部之段部和第2构件61所夹持固定。 A detection head 41 comprises of a first and second member 51, 61 and a tubby member 71. The first member 51 is penetrated by the first to fifth aperture portions 52 - 56 which are continuously formed in the first member 51. The second member 61 are penetrated the sixth to eighth aperture portions 62 - 64, which are continuously formed in the second member 61. The second member 62 is inserted into the fifth aperture 56 and fixed therein. Semiconductor luminance component 23 is inserted into the sixth aperture 62. The tubby member 71 has first tubby portion 72 and second tubby portion 73, and is inserted into the fourth aperture 55. Lens 27 is pinched by the section portion of the boundary portion between the second aperture portion 52 and the third aperture portion 54 and the first tubby portion 72. Light beam reshape member 25 is pinched by the section portion of the boundary portion between the fourth aperture portion 55 and the fifth aperture portion 56 and the second member 61. 【创作特点】 本发明系鉴于上述问题点而发展成功者，其第1目的在提供一种免疫层析试验片之测定设备，其可抑制杂散光之发生，且可提高显色度之测定精度。 并且，本发明之第2目的在提供一种光源设备，其可抑制杂散光之发生，且可照射鲜明的狭缝光。 为了达成上述目的，本发明之免疫层析试验片的测定设备，系具备有：将测定光照射到免疫层析试验片上用的照射光学系统，及可检出由于该测定光的照射、而从免疫层析试验片上反射的反射光之检出光学系统，其特征为：照射光学系统具有：半导体发光组件，及将来自于半导体发光组件的光整形成具有沿着与形成于免疫层析试验片上之显色线为略平行之方向延伸之光束剖面的光之光束整形构件，及将来自于光束整形构件的光成像于免疫层析试验片上用的透镜，及配置于半导体发光组件与光束整形构件之间、而除去杂散光用之筒状的第1遮光(baffle)部，及配置于光束整形构件与透镜之间、而除去杂散光用之筒状的第2遮光部，及配置于透镜与免疫层析试验片之间、而除去杂散光用之筒状的第3遮光部。 在本发明之免疫层析试验片的测定设备中，在半导体发光组件与光束整形构件之间配置有第1遮光部，在光束整形构件与透镜之间配置有第2遮光部，在透镜与免疫层析试验片之间配置有第3遮光部，因此由这些筒状之各遮光部可抑制杂散光之发生。并且，利用透镜可将来自光束整形构件的光成像于免疫层析试验片上。因而，可抑制免疫层析试验片上所不需要的杂散光之射入，使照射到免疫层析试验片上的测定光变成鲜明，因此可使显色度之测定精度大幅地提高。 并且，照射光学系统较佳为又在第1遮光部与光束整形构件之间配置有比第1遮光部更大直径的筒状空间部。在此情况下，杂散光被封闭在筒状空间部中，因此可更进一步地抑制免疫层析试验片上所不需要的杂散光之射入。 并且，照射光学系统较佳为又在光束整形构件与第2遮光部之间配置有比第2遮光部更大直径的筒状空间部。在此情况下，杂散光被封闭在筒状空间部中，因此可更进一步地抑制免疫层析试验片上所不需要的杂散光之射入。 并且，照射光学系统较佳为又在透镜与第3遮光部之间配置有比第3遮光部更大直径的筒状空间部。此情况下，杂散光被封闭在筒状空间部中，因此可更进一步地抑制免疫层析试验片上所不需要的杂散光之射入。 并且，照射光学系统系装设于光学头上，该光学头包含有：具有预定内径而做为第3遮光部之功能的第1孔部、及具有比第1孔部更大的内径之第2孔部、及具有比第2孔部更大的内径且插入透镜之第3孔部、及具有比第3孔部更大的内径之第4孔部、及具有比第4孔部更大的内径之第5孔部连续地形成之第1构件，及内插于第5孔部中，插入有半导体发光组件的第6孔部及具有预定内径而做为第1遮光部之功能的第7孔部所连续地形成之第2构件，及内插于第4孔部中，一端侧部分具有预定之内径而做为第2遮光部之功能的筒状构件，以形成于第2孔部及第3孔部之疆界部上的段部及筒状构件而将透镜固定，以形成于第4孔部及第5孔部之疆界部上的段部及第2构件而将光束整形构件固定较佳。在此情况下，可将照射光学系统(半导体发光组件、光束整形构件、透镜、第1遮光部、第2遮光部、及第3遮光部)组装到上述光学头中而单元化，不仅可使构造简单化，同时使半导体发光组件、光束整形构件及透镜的组装很容易。 并且，在第2构件中，较佳为具有比第7孔径更大的内径之第8孔径在该第7孔径上连续地形成。在此情况下，可将杂散光封闭在由第8孔径所区划的空间部中，因此可更进一步地抑制免疫层析试验片上所不需要的杂散光之射入。 并且，筒状构件较佳被设置为其另一端侧部分的内径比一端侧部分的内径更大。在此情况下，可将杂散光封闭在由筒状构件中之另一端侧部分所区划的空间部中，因此可更进一步地抑制免疫层析试验片上所不需要的杂散光之射入。 并且，较佳为在第1孔部、第7孔部、及筒状构件中之一端侧部分的内侧中，形成有阴螺纹。在此情况下，以形成阴螺纹之极简单的构成，即可更进一步地抑制免疫层析试验片上所不需要的杂散光之射入。 并且，较佳为更具备有：装有照射光学系统及检出光学系统之光学头，及载置免疫层析试验片用之载置板，及在横切显色线之扫瞄方向上、使载置板及光学头做相对移动的扫瞄机构。在此情况下，在光学头上装有照射光学系统及检出光学系统之时，构造变成简单，并且光学头在扫瞄方向上移动用之扫瞄机构仅须1个系统即可，因此扫瞄机构的构造或其控制系统的构成变成简单。 并且，半导体发光组件较佳为发光二极管。在此情形下，可使光源的光强度提高。 并且，光束整形构件较佳为做成：形成有：与形成于免疫层析试验片上之显色线略平行的方向的方向上延伸之狭缝的板状构件。在此情形下，可使光束整形构件的构造简单化。 为了达成上述目的，本发明之光源设备系将狭缝光照射到测定对象物上之光源设备，其特征为：具备有：半导体发光组件，及将来自半导体发光组件的光整形用的光束整形构件，及将来自光束整形构件的光成像于测定对象物上用的透镜，及配置于半导体发光组件与光束整形构件之间、而除去杂散光用筒状之第1遮光部，及配置于光束整形构件与透镜之间、而除去杂散光用筒状之第2遮光部，及配置于透镜与测定对象物上之间、而除去杂散光用筒状之第3遮光部。 本发明之光源设备之中，在半导体发光组件与光束整形构件之间配置有第1遮光部，在光束整形构件与透镜之间配置有第2遮光部，在透镜与测定对象物之间配置有第3遮光部，因此由这些筒状之各遮光部可抑制杂散光之发生。并且，利用透镜可将来自光束整形构件的光成像于测定对象物上。因而，可抑制测定对象物上所不需要的杂散光之射入，使照射到测定对象物上的测定光变成鲜明。 较佳为又在第1遮光部与光束整形构件之间配置有比第1遮光部更大直径的筒状空间部。在此情况下，杂散光被封闭在筒状空间部中，因此可更进一步地抑制测定对象物上所不需要的杂散光之射入。 并且，较佳为又在光束整形构件与第2遮光部之间配置有比第2遮光部更大直径的筒状空间部。此情况下，杂散光被封闭在筒状空间部中，因此可更进一步地抑制测定对象物上所不需要的杂散光之射入。 并且，较佳为又在透镜与第3遮光部之间配置有比第3遮光部更大直径的筒状空间部。此情况下，杂散光被封闭在筒状空间部中，因此可更进一步地抑制测定对象物上所不需要的杂散光之射入。 为了达成上述目的，本发明之免疫层析试验片的测定设备之特征为：具备有：载置免疫层析试验片的台，及将测定光朝向台照射之照射光学系统，及检出从台侧射入的光的检出光学系统，照射光学系统及检出光学系统对台以预定之扫瞄方向而做相对的移动，照射光学系统具备有：半导体发光组件，及将来自半导体发光组件的光整形成具有沿着与上述预定之方向延伸之光束剖面的光之用的光束整形构件，及将来自光束整形构件的光成像用的透镜，及配置于半导体发光组件与光束整形构件之间、而除去杂散光用筒状之第1遮光部，及配置于光束整形构件与透镜之间、而除去杂散光用筒状之第2遮光部，及配置于透镜与台之间、而除去杂散光用筒状之第3遮光部。 在本发明之免疫层析试验片的测定设备之中，可抑制免疫层析试验片上所不需要的杂散光之射入，因此可使照射到免疫层析试验片上的测定光变成鲜明，因此可使显色度之测定精度大幅地提高。

公开(公告)号：TW200610953A

公开(公告)日：2006-04-01

申请号：TW094121909

申请日：2005-06-29

Applicant: 牛尾電機股份有限公司 USHIO DENKI KABUSHIKI KAISHA

Inventor： 松本茂樹 MATSUMOTO, SHIGEKI ,  野澤繁典 NOZAWA, SHIGENORI

IPC: G01N

CPC classification number: G01N21/0303 ,  B01L3/502715 ,  B01L9/527 ,  B01L2300/0654 ,  B01L2300/0816 ,  B01L2300/0867 ,  G01N2201/0813

Abstract: 【課題】提供：將放電燈使用於測定用光源，進行微晶片的吸光度測定，亦測定誤差少的微晶片用的吸光度測定單元。【解決手段】由成為具備：由已黏合的2片的板構件所構成，在黏合面具有空洞部，連通該空洞部而構成分析液導入部、試藥積蓄部、試藥混合部和沿著該板構件的一端面，配設為直線狀的吸光度測定部的微晶片、與安裝微晶片的晶片夾具所構成的使用了微晶片的吸光度測定單元，在晶片夾具，作為形成與吸光度測定部光軸一致，具有比起對吸光度測定部垂直的光軸的剖面徑窄的開口徑的光導入用的毛細管部之吸光度測定單元。

Abstract in simplified Chinese: 【课题】提供：将放电灯使用于测定用光源，进行微芯片的吸光度测定，亦测定误差少的微芯片用的吸光度测定单元。【解决手段】由成为具备：由已黏合的2片的板构件所构成，在黏合面具有空洞部，连通该空洞部而构成分析液导入部、试药积蓄部、试药混合部和沿着该板构件的一端面，配设为直线状的吸光度测定部的微芯片、与安装微芯片的芯片夹具所构成的使用了微芯片的吸光度测定单元，在芯片夹具，作为形成与吸光度测定部光轴一致，具有比起对吸光度测定部垂直的光轴的剖面径窄的开口径的光导入用的毛细管部之吸光度测定单元。