公开(公告)号：WO2006034065A2

公开(公告)日：2006-03-30

申请号：PCT/US2005/033228

申请日：2005-09-16

Applicant: ZETETIC INSTITUTE ,  HILL, Henry, A.

Inventor： HILL, Henry, A.

IPC: G01B11/02

CPC classification number: G01B9/02028 ,  G01B9/02022 ,  G01B9/02056 ,  G01J1/58 ,  G01J3/04 ,  G01J3/2823 ,  G01N21/45 ,  G01N21/9501

Abstract: An interferometry system including: a first imaging system that directs a measurement beam at an object to produce a return measurement beam from the object, that directs the return measurement beam onto an image plane, and that delivers a reference beam to the image plane; and a beam combining element in the image plane, said beam combining element comprising a first layer containing an array of sagittal slits and a second layer containing an array of tangential slits, wherein each slit of the array of sagittal slits is aligned with a corresponding different slit of the array of tangential slits, wherein the beam combining element combines the return measurement beam with the reference beam to produce an array of interference beams.

Abstract translation: 干涉测量系统包括：第一成像系统，其将物体上的测量光束指向物体以产生来自物体的返回测量光束，将返回测量光束引导到图像平面上，并且将第一成像系统 参考光束到图像平面; 以及在图像平面中的光束组合元件，所述光束组合元件包括含有矢状狭缝阵列的第一层和含有切向狭缝阵列的第二层，其中矢状狭缝阵列的每个狭缝与相应的不同的 切向狭缝阵列的狭缝，其中光束组合元件将返回测量光束与参考光束组合以产生干涉光束阵列。

公开(公告)号：WO2006029890A1

公开(公告)日：2006-03-23

申请号：PCT/EP2005/010002

申请日：2005-09-16

Applicant: ECOLE POLYTECHNIQUE FEDERALE DE LAUSANNE INDUSTRIAL RELATIONS OFFICE (SRI) ,  GANIERE, Jean-Daniel

Inventor： GANIERE, Jean-Daniel

IPC: G01J3/04 ,  G01J3/28

CPC classification number: G01J3/2889 ,  G01J3/04 ,  G01J3/22

Abstract: Light dispersing device comprising a slit element having a slit for exposure to electromagnetic radiation, wherein the slit element is configured and disposed for turning the slit between at least two positions. The light dispersing device is used together with a streak camera, whereby in a first position the slit is adjusted to influence the temporal resolution of the streak camera and in a second postion the slit is adjusted to influence the spectral resolution of the streak camera.

Abstract translation: 光分配装置包括具有用于暴露于电磁辐射的狭缝的狭缝元件，其中，所述狭缝元件构造和设置用于在至少两个位置之间转动狭缝。 光分散装置与条纹相机一起使用，由此在第一位置调整狭缝以影响条纹相机的时间分辨率，并且在第二位置中，调节狭缝以影响条纹相机的光谱分辨率。

公开(公告)号：WO2005106411A1

公开(公告)日：2005-11-10

申请号：PCT/US2005/013910

申请日：2005-04-22

Applicant: HORIBA JOBIN YVON INC. ,  SLUTTER, Warren, S. ,  XIAO, Jian, Ming

Inventor： SLUTTER, Warren, S. ,  XIAO, Jian, Ming

IPC: G01J3/18

CPC classification number: G01J3/18 ,  G01J3/02 ,  G01J3/0229 ,  G01J3/04

Abstract: A spectrograph with a first concave spectrographic diffraction grating is positioned to receive light from an input light source. The first concave spectrographic diffraction grating is configured to provide a diffracted light output dispersing the components of the input light source in a first dispersion direction with a first angular orientation with respect to the plane of the grating. The dispersion forms the input light into an intermediate spectrum. The intermediate spectrum is formed in a focal surface by the once diffracted light. A slit is substantially positioned on the focal surface. A second concave diffraction grating is positioned to receive once diffracted light from the slit and configured to provide a twice diffracted light output, the second concave diffraction grating dispersing the components of the input light source in a second diffraction direction with a second angular orientation with respect to the plane of the grating. The second dispersion angular orientation is different from the first dispersion angular orientation. The second dispersion forms the input light into an output spectrum.

Abstract translation: 具有第一凹面光谱衍射光栅的光谱仪定位成接收来自输入光源的光。 第一凹面光谱衍射光栅被配置为提供衍射光输出，其以相对于光栅的平面的第一角取向在第一色散方向上分散输入光源的分量。 色散将输入光形成中间光谱。 中间光谱由一次衍射光形成在焦面上。 狭缝基本上定位在焦面上。 第二凹面衍射光栅被定位成接收来自狭缝的一次衍射光并且被配置成提供两次衍射光输出，第二凹面衍射光栅相对于第二角度方向在第二衍射方向上分散输入光源的分量 到光栅的平面。 第二色散角度取向不同于第一色散角度取向。 第二次色散将输入光形成输出光谱。

公开(公告)号：WO2004104647A1

公开(公告)日：2004-12-02

申请号：PCT/EP2004/004498

申请日：2004-04-28

Applicant: CARL ZEISS JENA GMBH ,  LASSER, Theo ,  LOPEZ, Antonio ,  SIDLER, Thomas ,  FAVRE, Sebastian ,  GIANOTTI, Ronald

Inventor： LASSER, Theo ,  LOPEZ, Antonio ,  SIDLER, Thomas ,  FAVRE, Sebastian ,  GIANOTTI, Ronald

IPC: G02B5/00

CPC classification number: G01J3/04 ,  G02B5/005 ,  G02B21/0032 ,  G03B9/06

Abstract: Einstellbares Pinhole, insbesondere für den Beleuchtungs- und/ oder Detektionsstrahlengang eines Laser- Scanning- Mikroskopes, bestehend aus mindestens zwei planaren Grundbausteinen, die stegartige Gelenkstellen aufweisen, an denen mindestens eine in einer Richtung verschiebliche Schneidenkante angebracht ist, wobei der Grundbaustein vorteilhaft mindestens ein integriertes vorzugsweise optisches oder elekromagnetischens Positionierungselement enthält, an der Schneide oder mit dieser verbunden eine Einrichtung zur vorzugsweise optischen oder elektromagnetischen Erfassung der Position vorgesehen ist und vorteilhaft zur optischen Erfassung der Position zwei asymmetrische Öffnungen mit entgegengesetzter Orientierung, vorgesehen sind, die von mindestens einer Lichtquelle durchstrahlt werden, wobei vor oder hinter den Öffnungen ein vorzugsweise senkrecht zur Verschieberichtung orientierter Spalt vorgesehen ist und die Lichtmenge durch den Spalt für jede Öffnung separat detektiert wird.

Abstract translation: 具有可调节的针孔，特别是用于激光扫描显微镜的照明和/或检测光束路径，其由至少两个平面基本元件，所述网状铰接点处的方向上切削刃的至少一个可移动的安装，其中，所述基部模块有利地包括至少一个集成的 优选地包括光学或elekromagnetischens提供一种连接到切削刃或用于位置的优选光学或电磁检测的工具定位部件，并且有利地用于与所述方向相反的两个不对称开口的位置的光学检测，提供，其由至少一个光源照射的 其中，优选为垂直取向的间隙的方向之前或开口后面提供光的量分别为通过间隙每个开口检测。

公开(公告)号：WO2003067204A1

公开(公告)日：2003-08-14

申请号：PCT/EP2003/000832

申请日：2003-01-28

Applicant: GESELLSCHAFT ZUR FÖRDERUNG ANGEWANDTER OPTIK, OPTOELEKTRONIK, QUANTENELEKTRONIK UND SPEKTROSKOPIE E.V. ,  GESELLSCHAFT ZUR FÖRDERUNG DER SPEKTROCHEMIE UND ANGEWANDTEN SPEKTROSKOPIE E.V. ,  FLOREK, Stefan ,  BECKER-ROSS, Helmut ,  HEITMANN, Uwe

Inventor： FLOREK, Stefan ,  BECKER-ROSS, Helmut ,  HEITMANN, Uwe

IPC: G01J3/18

CPC classification number: G01J3/04 ,  G01J3/02 ,  G01J3/0229 ,  G01J3/08 ,  G01J3/14 ,  G01J3/1809 ,  G01J3/28 ,  G01J2003/1208 ,  G01J2003/2866

Abstract: Eine Spektrometer-Anordnung (10) enthält eine Strahlungsqeulle (11) mit kontinuierlichem Spektrum, einen Vormonochromator (2) zur Erzeugung eines Spektrums mit relativ geringer Lineardispersion aus welchem ein Spektrenausschnitt selektierbar ist, dessen spektrale Bandbreite kleiner oder gleich der Bandbreite des freien Spektralbereiches derjenigen Ordnung im Echelle-Spektrum ist, in der die Mittenwellenlänge des selektierten Spektrenausschnitts mit maximaler Blazeeffektivität messbar ist, ein Echelle-Spektrometer (4) mit Mitteln zur Wellenlängenkalibrierung, einen Eintrittsspalt (21) an dem Vormonochromator (2), eine Zwischenspalt-Anordnung (3) mit einem Zwischenspalt und einen ortsauflösenden Strahlungsempfänger (5) in der Austrittsebene des Spektrometers zur Detektion von Wellenlängen-Spektren. Die Anordnung ist dadurch gekennzeichnet, daβ die Breite des Zwischenspalts (3) gröβer ist, als das durch den Vormonochromator am Ort des Zwischenspaltes entstehende monochromatische Bild des Eintrittspaltes und Mittel zur Kalibrierung des Vormonochromators vorgesehen sind, durch welche die auf den Detektor abgebildete Strahlung der Strahlungsquelle mit kontinuierlichen Spektrum auf eine Referenzposition kalibrierbar ist.

Abstract translation: 光谱仪组件10包括Strahlungsqeulle 11具有连续光谱，用于生成具有相对小的线性色散的光谱的单色仪2从该光谱间隔选择的，其光谱带宽小于或等于所述自由光谱范围的带宽的顺序在中阶梯光谱， 在所选择的谱切与最大火焰效率的中心波长是可测量的，中阶梯光谱仪4具有用于波长校正，一个入口在预单色仪2，中间狭缝组件3与在光谱仪的出射平面的中间间隙和位置敏感辐射检测器5，用于狭缝21 检测波长光谱。 该装置的特征在于在间隙3比由在入口狭缝的中间狭缝单色图像的位置处的预单色生成gröbetaer以及用于校准所述预单色设置，通过它从所述辐射源的辐射成像到检测器具有连续dabeta宽度 光谱可以被校准到参考位置。

公开(公告)号：WO2003023339A1

公开(公告)日：2003-03-20

申请号：PCT/US2002/004693

申请日：2002-02-12

Applicant: NEW CHROMEX, INC.

Inventor： ALLEN, Fritz, Schreyer ,  ZHAO, Jun

IPC: G01J3/00

CPC classification number: G01J3/28 ,  G01J3/04

Abstract: An apparatus and method for producing a substantially straight instrument image (56) is provided. The apparatus and method for producing a substantially straight instrument image (56), according to the present invention, includes a curved slit (20). The curved slit (20) may be formed in a light beam controller (10). The curved slit (20) is capable of admitting a light beam (42) into the instrument (44). The instrument parameters associated with optical devices (46) located in the instrument (44) in the path of the light beam (42) are determined. One or more formulae are used to transform and process the instrument spectral parameters to determine the shape or curvature of the curved slit (20).

Abstract translation: 提供一种用于生产基本上直的仪器图像（56）的设备和方法。 根据本发明的用于制造基本上直的仪器图像（56）的装置和方法包括弯曲狭缝（20）。 弯曲的狭缝（20）可以形成在光束控制器（10）中。 弯曲的狭缝（20）能够将光束（42）引入到仪器（44）中。 确定与在光束（42）的路径中位于仪器（44）中的光学装置（46）相关联的仪器参数。 一个或多个公式用于变换和处理仪器光谱参数以确定弯曲狭缝（20）的形状或曲率。

公开(公告)号：WO1990005286A1

公开(公告)日：1990-05-17

申请号：PCT/US1989004797

申请日：1989-10-30

Applicant: EASTMAN KODAK COMPANY

Inventor： EASTMAN KODAK COMPANY ,  MILCH, James, Roger

IPC: G01J03/28

CPC classification number: H04N1/00013 ,  G01J3/0205 ,  G01J3/04 ,  G01J3/28 ,  G01J3/40 ,  G01J2003/2866 ,  H04N1/00002 ,  H04N1/00023 ,  H04N1/00034 ,  H04N1/00053 ,  H04N1/00063

Abstract: Spectrometer apparatus (10), for self-calibrating a color image scanner (30) of the line scanner or area scanner type, comprises a member (20), having an optical slit (18), movable into position on an optical axis (14) of the scanner between its polychromatic light source (12) and its focusable lens (16) in a plane occupied by a color image when it is scanned. A diffraction grating (24) is similarly movable onto the optical axis, a given distance from an image sensor (22) of the scanner. The light source illuminates the slit and the diffraction grating disperses transmitted polychromatic light according to its wavelength, forming duplicate spectra off-axis across respective halves of the image sensor, with longer wavelengths being diverted to respectively higher angles.

公开(公告)号：WO1980000189A1

公开(公告)日：1980-02-07

申请号：PCT/JP1979000158

申请日：1979-06-20

Applicant: HITACHI LTD ,  AKITOMO N ,  TOHYAMA S ,  NEMOTO I

Inventor： HITACHI LTD

IPC: G01J03/04

CPC classification number: G01J3/04 ,  G01J2003/2866

Abstract: Apparatus for calibrating a slit width in a calibration system for spectroscopes. In conventional calibration systems, there has been a problem of no provision of slit width calibration function, though the precision of the slit width of spectroscopes is one of the important factors for its performance. In this invention, the bright line spectrum or the zero-order ray is utilized to calibrate the slit width. A peak value of the output signals from a photosensor (20) is detected by means of a peak discriminator (26), and the peak value is stored in a memory (28). The peak value is compared with the output of the photosensor (20) in a comparator (32). The slit width calibration may be performed on the basis of the amount of wave length scanning at which amount the peak value and the output of the photosensor are brought up to the coincidence with each other.

Abstract translation: 用于校准用于光谱仪的校准系统中的狭缝宽度的装置。 在常规校准系统中，存在狭缝宽度校准功能的问题，尽管分光器的狭缝宽度的精度是其性能的重要因素之一。 在本发明中，使用亮线光谱或零级光线来校准狭缝宽度。 通过峰值鉴别器（26）检测来自光电传感器（20）的输出信号的峰值，峰值存储在存储器（28）中。 将峰值与比较器（32）中的光电传感器（20）的输出进行比较。 狭缝宽度校准可以基于波长扫描的量进行，其中峰值和光传感器的输出的量彼此一致。

公开(公告)号：TWI560468B

公开(公告)日：2016-12-01

申请号：TW104113747

申请日：2015-04-29

Applicant: 國立中央大學 ,  NATIONAL CENTRAL UNIVERSITY

Inventor： 陳思妤 ,  CHEN, SZU YU ,  蘇柏宇 ,  SU, POYU ,  呂喬聖 ,  LU, CHIAO SHENG ,  徐鈺 ,  HSU, YU JOHN

IPC: G02B21/06 ,  G01N21/64

CPC classification number: G01N21/6458 ,  G01J3/0208 ,  G01J3/021 ,  G01J3/0229 ,  G01J3/0267 ,  G01J3/04 ,  G01J3/06 ,  G01J3/10 ,  G01J3/12 ,  G01J3/2803 ,  G01J3/2823 ,  G01J3/4406 ,  G01J2003/2813 ,  G01J2003/282 ,  G01N2021/6421 ,  G01N2021/6423 ,  G01N2021/6476 ,  G01N2021/6478

公开(公告)号：TW201321903A

公开(公告)日：2013-06-01

申请号：TW101131710

申请日：2012-08-31

Applicant: 光子晶片有限公司 ,  PHOTON CHIP INC.

Inventor： 柯正浩 ,  KO, CHENG HAO

IPC: G03F7/20

CPC classification number: G01J3/04 ,  G01J3/02 ,  G02B6/12007 ,  G02B6/138 ,  G02B6/29307 ,  G02B6/29308 ,  G02B6/2931 ,  G02B2006/12107 ,  G03F7/0005 ,  G03F7/16 ,  G03F7/2002 ,  G03F7/201 ,  G03F7/2024 ,  G03F7/203 ,  G03F7/2039 ,  G03F7/30

Abstract: 本發明揭露一種光學波長分光裝置，主要由一第一基板、一輸入單元、一光柵以及一第二基板所組成。該輸入單元形成於該第一基板上，並具有一狹縫以接收一光學訊號；該光柵形成於該第一基板上，可根據該光學訊號產生一輸出之第一光束。其中，該輸入單元以及該光柵係利用高能量光源對一光阻層進行曝光所形成。

Abstract in simplified Chinese: 本发明揭露一种光学波长分光设备，主要由一第一基板、一输入单元、一光栅以及一第二基板所组成。该输入单元形成于该第一基板上，并具有一狭缝以接收一光学信号；该光栅形成于该第一基板上，可根据该光学信号产生一输出之第一光束。其中，该输入单元以及该光栅系利用高能量光源对一光阻层进行曝光所形成。