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公开(公告)号：CN102135447B
公开(公告)日：2013-05-22
申请号：CN201110002447.9
申请日：2011-01-07
Applicant: 佳能株式会社
Inventor： 盐田道徳
CPC classification number: G01J5/10 , G01J3/28 , G01N21/3581 , G06K9/00516 , G06K9/6228
Abstract: 本发明涉及用于测量电磁波的方法和装置。波形获取单元获取电磁波的时间波形。通过小波变换将时间波形分解成小波展开系数。计算各个小波展开系数对于频谱的影响程度。至少基于小波展开系数对于频谱的影响程度将小波展开系数加权。通过逆小波变换将加权的小波展开系数转换成时间波形。因此，保持频谱分析所需要的频谱信息并具有减少的噪声的时间波形被提供。
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公开(公告)号：CN103109176A
公开(公告)日：2013-05-15
申请号：CN201180044642.6
申请日：2011-07-08
Applicant: 霍夫曼-拉罗奇有限公司
CPC classification number: G01N21/75 , G01J3/28 , G01J3/42 , G01N21/255
Abstract: 本发明涉及确定样品（10）中分析物的存在和/或浓度的光学设备（100），所述光学设备（100）包含检测单元（50），所述检测单元（50）包含光路部件和检测器（70），所述检测单元（50）具有波长相关响应性（Rdu(λ)）；所述光学设备（100）进一步包含发出不同的各自可用波长范围的光（67）的光源（60），其中来自光源的光通过光路（51）引导到检测器（70），以便生成基线信号、和指示处在光路中的样品（10）中分析物的存在和/或浓度的相对于所述基线信号的响应信号，其特征在于至少对两个各自可用波长范围以与检测单元（50）的波长相关响应性成反比的方式调整到达检测器（70）的光线的强度，以便获得所选可用波长范围之一上的最大基线信号与另一个所选可用波长范围上的最小基线信号之间的比值的至少50%的降低。
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公开(公告)号：CN102893137A
公开(公告)日：2013-01-23
申请号：CN201180024411.9
申请日：2011-03-17
IPC: G01J3/28 , A61B1/04 , A61B1/05 , A61B1/06 , A61B1/07 , A61B5/1455 , G01J3/36 , G01J3/42 , G01J3/51 , G01J3/10 , H04N5/372
CPC classification number: H04N9/045 , A61B1/00009 , A61B1/00057 , A61B1/00186 , A61B1/043 , A61B1/05 , A61B1/0607 , A61B1/063 , A61B1/0638 , A61B1/0646 , A61B1/0676 , A61B1/0684 , A61B5/0059 , A61B5/0071 , A61B5/0086 , G01J3/10 , G01J3/28 , G01J3/36 , G01J2003/2866 , G01N21/35 , H04N5/332 , H04N9/646 , H04N2005/2255
Abstract: 用于根据可见光/NIR光谱图像以视频速率或近视频速率对组织生理和形态属性量化地成像的方法和设备，该方法和设备通过用一系列包含多个窄波长波段的光谱照射获得快速的多光谱反射图像。基于迭代光传输的反演算法可被用于根据几何形状/耦合影响以及根据散射幅度变形来修正光谱图像的强度。该方法可以产生视频速率的吸收和散射光谱图像，可以使用基于矩阵的快速反演算法进一步非常快地分析该光谱图像以产生包含与组织的生理和形态相关的信息的更详细的量化图像。
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公开(公告)号：CN102792136A
公开(公告)日：2012-11-21
申请号：CN201180013345.5
申请日：2011-03-09
Applicant: 佳能株式会社
Inventor： 井辻健明
CPC classification number: G01J3/42 , G01J3/027 , G01J3/28 , G01N21/274 , G01N21/3586
Abstract: 本发明提供能够改善获得的频谱信息的定量性的太赫波测量装置和测量方法。在使用太赫波测量装置的测量方法中，太赫波测量装置测量与已获知校准谱形状的校准样品有关的太赫波的时间波形，并通过变换时间波形来获得测量谱。比较校准谱和测量谱，并基于比较结果来调整形成时间波形的测量数据的时间间隔，以便校准太赫波测量装置。
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公开(公告)号：CN102656441A
公开(公告)日：2012-09-05
申请号：CN201180002000.X
申请日：2011-02-15
Applicant: 光学传感器公司
CPC classification number: G01J3/28 , G01J3/42 , G01N21/031 , G01N21/274 , G01N21/31 , G01N21/3504 , G01N21/3518 , G01N21/39 , G01N2021/399
Abstract: 可通过确定第一光强度数据偏离存储的数据集合未超出预定的阈值偏差，来验证包括光源和探测器的分析系统的有效状态，其中所述第一光强度数据量化了来自光源的光在至少一次通过验证单元中的参考气体和零气体中的每一个之后，在探测器接收的所述光的第一强度。存储的数据集合表示在分析系统上进行的先前的仪器验证过程中采集的至少一个先前的测量。参考气体可包括已知量的分析物。可通过校正第二光强度数据来确定样本气体中的分析物的浓度，所述第二光强度数据量化了光至少一次通过验证单元中的参考气体和包含未知浓度的分析物化合物的样本气体中的每一个之后在探测器接收到的所述光的第二强度。还描述了相关的系统、方法和制造的产品。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN102652254A
公开(公告)日：2012-08-29
申请号：CN201080055744.3
申请日：2010-11-29
Applicant: 纳幕尔杜邦公司
Inventor： W·克特勒
IPC: G01J3/28
Abstract: 本发明涉及用于生成测量对象的校准颜色数据的方法，所述方法使用分布于网络中的颜色测量仪器，所述方法包括以下步骤：A)生成用于分布于所述网络中颜色测量仪器的至少一个标准仪器量变曲线，以校正光度和波长标度差，以及B)生成用于分布于所述网络中的颜色测量仪器的至少一个几何仪器量变曲线，以校正几何标度差。所述方法能够被用于使用颜色测量仪器网络的应用中，尤其是用于集成了颜色测量仪器的机器人系统中。
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公开(公告)号：CN102483323A
公开(公告)日：2012-05-30
申请号：CN201080032638.3
申请日：2010-05-21
Applicant: 立那工业股份有限公司
Inventor： 穆尼布·沃贝尔
IPC: G01B11/14
CPC classification number: H01L22/20 , G01B11/08 , G01J3/28 , G01J3/465 , G01J3/513 , G01J2003/1213 , H01L27/14607 , H01L27/14645 , H01L27/14683
Abstract: 本发明揭示优化纳米线光电二极管光传感器的直径的方法。该方法包含：比较具有预定直径的纳米线光电二极管像素的回应与标准光谱回应曲线；及决定光电二极管像素的光谱回应与标准光谱回应曲线之间的差异。亦包含具有优化纳米线直径的纳米线光电二极管光传感器及场景重建的方法。
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公开(公告)号：CN1783956B
公开(公告)日：2012-02-15
申请号：CN200510109583.2
申请日：2005-10-26
Applicant: 安华高科技ECBUIP(新加坡)私人有限公司
Abstract: 本发明公开了用于识别所检测光环境的方法和装置。在一个实施例中，检测数据集包括由已曝光到光环境的多个光传感器所产生的数据。检测数据集的数据对应于不同范围的光，并且所述多个范围的光中之一的至少一部分在可见(VIS)光谱之外。将检测数据集与表示已知光环境的多个已知数据集进行比较，并且识别与检测数据集相似的至少一个已知数据集。响应于此，提供检测光环境的指示。还公开了用于实现此和相关方法的装置。在某些实施例中，光传感器是紫外、可见光和红外传感器，并且使用所检测光环境的指示来控制由图像传感器所获取的数据的颜色、或显示器背光的颜色。
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公开(公告)号：CN102297856A
公开(公告)日：2011-12-28
申请号：CN201010219542.X
申请日：2010-06-25
Applicant: 清华大学 , 同方威视技术股份有限公司
IPC: G01N21/65
CPC classification number: G01N21/65 , G01J3/28 , G01J3/44 , G01J3/4412 , G01N21/274 , G01N21/276
Abstract: 本发明涉及一种拉曼光谱检测系统，包括光源，用于发射激发被检物发出拉曼光的激发光；外光路系统，用于将光源发射的光照射到被检物上并收集被检物发出的拉曼光；光检测装置，用于接收外光路系统收集的拉曼光，并检测该拉曼光以获得该拉曼光的光谱数据；控制装置，用于控制所述激发光源提供所述激发光，控制光检测装置对拉曼光的检测，接收从光检测装置输出的光谱数据并对该光谱数据进行分析以识别所述被检物；以及自动校准装置，用于放置标准样品以用于自动校准该系统。本发明还涉及利用拉曼光谱检测系统对物体进行检测的方法，以及对拉曼光谱检测系统进行自动校准的方法。
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公开(公告)号：CN102135447A
公开(公告)日：2011-07-27
申请号：CN201110002447.9
申请日：2011-01-07
Applicant: 佳能株式会社
Inventor： 盐田道徳
CPC classification number: G01J5/10 , G01J3/28 , G01N21/3581 , G06K9/00516 , G06K9/6228
Abstract: 本发明涉及用于测量电磁波的方法和装置。波形获取单元获取电磁波的时间波形。通过小波变换将时间波形分解成小波展开系数。计算各个小波展开系数对于频谱的影响程度。至少基于小波展开系数对于频谱的影响程度将小波展开系数加权。通过逆小波变换将加权的小波展开系数转换成时间波形。因此，保持频谱分析所需要的频谱信息并具有减少的噪声的时间波形被提供。
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