公开(公告)号：FR611779A

公开(公告)日：1926-10-11

申请号：FR611779D

申请日：1925-12-28

IPC: G01J3/16

公开(公告)号：KR1020220044694A

公开(公告)日：2022-04-11

申请号：KR1020220038023

申请日：2022-03-28

IPC: G01N21/88 ,  G01J1/04 ,  G01J3/16 ,  G02B27/50 ,  G06T7/00 ,  G09G3/00 ,  G01N21/95

Abstract: 이미징시스템및 방법이, 스마트폰, 태블릿, 등에서발견되는유형의조립형디스플레이모듈과같은, 반사형디스플레이내 불균일성또는불규칙성을평가한다. 시스템은편광및 시준된비간섭성광, 예를들어발광다이오드(LED)를포함한다. 평가대상표면은시준된광에수직이고, 그에따라상기광은표면상에똑바로충돌한다. 광의편광은반사전후에변경되고, 평가중의표면으로부터의반사된광은센서에의해수광된다. 표면의불균일성또는불규칙성은콘트라스트변화로서감지된이미지에서나타날것이다. 평가중 표면으로부터의반사는 180도반사이기때문에, 감지된이미지는전체평가대상표면에걸쳐초점이선명한상태일수 있다. 선택적으로, 시스템은효율및 긴밀화를위해집광렌즈를갖지않는단일시준렌즈를이용할수 있다.

公开(公告)号：KR20210018141A

公开(公告)日：2021-02-17

申请号：KR20200098456

申请日：2020-08-06

IPC: G01N21/88 ,  G01J1/04 ,  G01J3/16 ,  G01N21/95

Abstract: 이미징시스템및 방법이, 스마트폰, 태블릿, 등에서발견되는유형의조립형디스플레이모듈과같은, 반사형디스플레이내 불균일성또는불규칙성을평가한다. 시스템은편광및 시준된비간섭성광, 예를들어발광다이오드(LED)를포함한다. 평가대상표면은시준된광에수직이고, 그에따라상기광은표면상에똑바로충돌한다. 광의편광은반사전후에변경되고, 평가중의표면으로부터의반사된광은센서에의해수광된다. 표면의불균일성또는불규칙성은콘트라스트변화로서감지된이미지에서나타날것이다. 평가중 표면으로부터의반사는 180도반사이기때문에, 감지된이미지는전체평가대상표면에걸쳐초점이선명한상태일수 있다. 선택적으로, 시스템은효율및 긴밀화를위해집광렌즈를갖지않는단일시준렌즈를이용할수 있다.

公开(公告)号：TWI434029B

公开(公告)日：2014-04-11

申请号：TW097129801

申请日：2008-08-06

Applicant: 富士軟片股份有限公司 ,  FUJIFILM CORPORATION

Inventor： 三澤岳志 ,  MISAWA, TAKESHI ,  高橋周 ,  TAKAHASHI, SHUU ,  岩田充 ,  IWATA, MITSURU ,  小田和也 ,  ODA, KAZUYA ,  大田基在 ,  OTA, MOTOARI ,  伊藤一良 ,  ITO, KAZUYOSHI ,  小關泰之 ,  OZEKI, YASUYUKI ,  小林由卓 ,  KOBAYASHI, YOSHITAKA

IPC: G01J3/14 ,  G01J3/16 ,  G01J3/02