光学模块、电子设备及光学模块的驱动方法

    公开(公告)号:CN104749765A

    公开(公告)日:2015-07-01

    申请号:CN201410815698.2

    申请日:2014-12-24

    Abstract: 本发明涉及光学模块、电子设备及光学模块的驱动方法。分光测量装置(1)具备:波长可变干涉滤波器(5),从入射光选择规定的波长的光,且能变更出射的出射光的波长;摄像元件(11),以全局快门方式利用出射光的曝光存储电荷,并输出与存储的电荷对应的检测信号;摄像元件控制单元(受光控制部(22)),设定使电荷存储到摄像元件(11)的受光期间、以及重置被存储的电荷的待机期间;以及分光控制单元(滤波器驱动部(21)),在波长可变干涉滤波器(5)中控制出射光的波长变更驱动,摄像元件控制单元将待机期间的长度设定为波长变更所需的驱动时间以上,分光控制单元在待机期间的开始时开始波长变更驱动。

    波长可变干涉滤波器、滤光器设备、光模块以及电子设备

    公开(公告)号:CN104007499A

    公开(公告)日:2014-08-27

    申请号:CN201410060508.0

    申请日:2014-02-21

    Inventor: 西村晃幸

    Abstract: 本发明提供了一种波长可变干涉滤波器、滤光器设备、光学模块及电子设备。该波长可变干涉滤波器(5)具备一对基板(51、52);设置在这些基板上的一对反射膜(54、55);第一电极(561);第二电极(562);设置在第一基板(51)上、从第一电极起一直设置到第一基板的外周缘侧的第一导通电极(563);设置在第二基板(52)上、与第一导通电极导通的第二导通电极(564);以及接合基板的接合面的接合层。第一基板具有与第一导通电极与第二导通电极接触的接触面相对的第一导通电极面(516),第二基板具有与上述接触面相对的第二导通电极面(564A),从第一导通电极面到第二导通电极面的最小距离D1与从第一接合面(515)到第二接合面(524)的最小距离D2不同。

    分光测定装置、颜色管理系统以及配置文件制作方法

    公开(公告)号:CN103913236A

    公开(公告)日:2014-07-09

    申请号:CN201310723530.4

    申请日:2013-12-24

    Inventor: 佐野朗

    CPC classification number: G01J3/51 G01J3/027 G01J3/0272 G01J3/26 G01J3/506

    Abstract: 本发明涉及分光测定装置、颜色管理系统以及配置文件制作方法。其中,分光测定装置具备波长可变干涉滤波器(5)、拍摄由波长可变干涉滤波器(5)分光的光而取得分光图像的摄像部(摄像元件(32)以及光量取得部(63))、输出用于制作图像显示装置(8)的配置文件的配置文件制作用数据的数据输出部(存储部(61)以及通信部(69)),在利用摄像部对包含从图像显示装置(8)输出的多色色标的色彩图案取得多个分光图像的情况下,数据输出部将使各分光图像的各像素中的光量与该像素的坐标值相对应的测定数据作为配置文件制作用数据进行输出。

    太赫兹光谱测定装置及方法和非线性光学晶体检查装置及方法

    公开(公告)号:CN103674245A

    公开(公告)日:2014-03-26

    申请号:CN201310384997.0

    申请日:2013-08-29

    Inventor: 北村茂

    Abstract: 本发明提供了一种太赫兹光谱测定装置及方法和非线性光学晶体检查装置及方法。当从激励光光源施加的两种不同波长的光束入射在具有固有非线性系数的非线性光学晶体上时,非线性光学晶体生成THz波和其中两种不同波长的光束已经根据非线性系数进行了波长转换的SHG波,THz波是利用与晶体自身具有的非线性系数的差频率生成而获得的。生成的THz波通过样本或从其反射并且由THz检测器检测。SHG波由SHG检测器检测。控制单元从THz检测器获取THz测量值,从SHG检测器获取SHG测量值S,并且使用在没有样本的情况下获取的基线THz测量值TB和基线SHG测量值SB来利用(T/S)/(TB/SB)执行基线校正。

    分光测定装置
    160.
    发明公开

    公开(公告)号:CN103528685A

    公开(公告)日:2014-01-22

    申请号:CN201310276320.5

    申请日:2013-07-03

    Inventor: 西村晃幸

    CPC classification number: G01J3/433 G01J3/0264 G01J3/027 G01J3/26 G02B26/001

    Abstract: 本发明提供能进行快速的分光测定的分光测定装置。分光测定装置(1)具备:波长可变干涉滤波器(5),包括具有固定反射膜的固定基板、具有可动反射膜的可动基板、以及变更固定反射膜和可动反射膜之间的反射膜间间隙的间隙量的静电致动器;检测部(11),检测由波长可变干涉滤波器(5)取出的光的光强度;电压设定部(21)以及电压控制部(15),对静电致动器施加连续变化的模拟电压;电压监视部(22),监视施加给静电致动器的电压;存储部(30),存储V-λ数据;以及光强度取得部(24),根据由电压监视部(24)监视的电压,在透过波长可变干涉滤波器(5)的光成为测定对象波长的定时,取得由检测部(11)检测的光强度。

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