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公开(公告)号:CN104749765A
公开(公告)日:2015-07-01
申请号:CN201410815698.2
申请日:2014-12-24
Applicant: 精工爱普生株式会社
CPC classification number: G01J3/027 , G01J3/0205 , G01J3/26 , G01J3/2803 , G01J3/2823 , G01J3/32 , G01J2003/2826
Abstract: 本发明涉及光学模块、电子设备及光学模块的驱动方法。分光测量装置(1)具备:波长可变干涉滤波器(5),从入射光选择规定的波长的光,且能变更出射的出射光的波长;摄像元件(11),以全局快门方式利用出射光的曝光存储电荷,并输出与存储的电荷对应的检测信号;摄像元件控制单元(受光控制部(22)),设定使电荷存储到摄像元件(11)的受光期间、以及重置被存储的电荷的待机期间;以及分光控制单元(滤波器驱动部(21)),在波长可变干涉滤波器(5)中控制出射光的波长变更驱动,摄像元件控制单元将待机期间的长度设定为波长变更所需的驱动时间以上,分光控制单元在待机期间的开始时开始波长变更驱动。
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公开(公告)号:CN104748846A
公开(公告)日:2015-07-01
申请号:CN201410815568.9
申请日:2014-12-24
Applicant: 精工爱普生株式会社
CPC classification number: G01J3/2823 , G01J3/0202 , G01J3/0235 , G01J3/027 , G01J3/0272 , G01J3/0289 , G01J3/0291 , G01J3/26 , G01J3/28 , G01J3/32
Abstract: 本发明涉及分光测量系统、分光模块以及位置偏离检测方法。分光测量系统具备:拍摄装置(3),具备拍摄图像的拍摄元件(312);以及分光模块(2),具备波长可变干涉滤波器以及安装部(8),安装部(8)保持波长可变干涉滤波器,并装卸自如地安装于拍摄装置(3),在向拍摄装置(3)进行安装时,安装部(8)能够将该波长可变干涉滤波器配置于向拍摄元件(312)入射的入射光的光路上。
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公开(公告)号:CN104718440A
公开(公告)日:2015-06-17
申请号:CN201380035028.2
申请日:2013-07-03
Applicant: 住友电气工业株式会社
CPC classification number: G01J3/0237 , G01J3/0208 , G01J3/027 , G01J3/1804 , G01J3/2803 , G01J3/2823 , G01N21/4795
Abstract: 调整分光成像装置的方法调整准直透镜、衍射光栅、聚光透镜和阵列型光接收部之间的相对布置关系,以在单色光输入至分光成像装置时使以下表达式(1)的值针对来自各个光接收传感器(Pn)的输出值(fn)而最大化,[表达式1](其中,α>1,以及n为等于或大于1且等于或小于N的各整数)。
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公开(公告)号:CN104697951A
公开(公告)日:2015-06-10
申请号:CN201510065514.X
申请日:2007-04-19
Applicant: 光学传感公司
Inventor: X·周
IPC: G01N21/3504 , G01N21/3554 , G01N21/39 , G01J3/433
CPC classification number: G01N21/3554 , G01J3/02 , G01J3/027 , G01J3/42 , G01J3/4338 , G01N21/031 , G01N21/0332 , G01N21/3504 , G01N21/39 , G01N33/0036 , G01N33/22
Abstract: 可以使用差分吸收分光计来检测和量化一种或多种碳氢化合物气体的背景内的低浓度水蒸汽。脱水的样品气体被用作背景样品,其吸收光谱允许排除不是因为气体中的水蒸汽而造成的吸收特征。可以使用可调谐二极管激光器作为光源来记录吸收光谱,这些激光器可以具有波长带宽,该波长带宽窄于用于分析差分吸收光谱的水蒸汽吸收特征。
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公开(公告)号:CN104345366A
公开(公告)日:2015-02-11
申请号:CN201410378448.7
申请日:2014-08-01
Applicant: 精工爱普生株式会社
CPC classification number: G02B26/001 , G01B7/14 , G01J3/027 , G01J3/0291 , G01J3/10 , G01J3/26 , G01J3/2823 , G02B5/284
Abstract: 本发明提供了光学滤波器、光模块、电子设备及光学滤波器的制造方法,该光学滤波器具备:相互对向配置的固定基板(15)及可动基板(16);设置于固定基板(15)的可动基板(16)侧的第一反射膜(18);设置于可动基板(16)的固定基板(15)侧且与第一反射膜(18)相对的第二反射膜(19);重叠设置于第一反射膜(18)且具有透光性及导电性的第一导电膜(26);重叠设置于第二反射膜(19)且具有透光性及导电性的第二导电膜(27);与第一保护膜(26)连接的第一端子(29);与第二保护膜(27)连接的第二端子(32),其中,第一端子(29)和第二端子(32)被电性地开闭。
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公开(公告)号:CN104007499A
公开(公告)日:2014-08-27
申请号:CN201410060508.0
申请日:2014-02-21
Applicant: 精工爱普生株式会社
Inventor: 西村晃幸
CPC classification number: G02B26/001 , G01J3/0264 , G01J3/027 , G01J3/0272 , G01J3/0291 , G01J3/10 , G01J3/26 , G01J3/2823 , G01J3/32 , G01J3/42 , G01J3/44 , G01J3/51
Abstract: 本发明提供了一种波长可变干涉滤波器、滤光器设备、光学模块及电子设备。该波长可变干涉滤波器(5)具备一对基板(51、52);设置在这些基板上的一对反射膜(54、55);第一电极(561);第二电极(562);设置在第一基板(51)上、从第一电极起一直设置到第一基板的外周缘侧的第一导通电极(563);设置在第二基板(52)上、与第一导通电极导通的第二导通电极(564);以及接合基板的接合面的接合层。第一基板具有与第一导通电极与第二导通电极接触的接触面相对的第一导通电极面(516),第二基板具有与上述接触面相对的第二导通电极面(564A),从第一导通电极面到第二导通电极面的最小距离D1与从第一接合面(515)到第二接合面(524)的最小距离D2不同。
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公开(公告)号:CN103913236A
公开(公告)日:2014-07-09
申请号:CN201310723530.4
申请日:2013-12-24
Applicant: 精工爱普生株式会社
Inventor: 佐野朗
CPC classification number: G01J3/51 , G01J3/027 , G01J3/0272 , G01J3/26 , G01J3/506
Abstract: 本发明涉及分光测定装置、颜色管理系统以及配置文件制作方法。其中,分光测定装置具备波长可变干涉滤波器(5)、拍摄由波长可变干涉滤波器(5)分光的光而取得分光图像的摄像部(摄像元件(32)以及光量取得部(63))、输出用于制作图像显示装置(8)的配置文件的配置文件制作用数据的数据输出部(存储部(61)以及通信部(69)),在利用摄像部对包含从图像显示装置(8)输出的多色色标的色彩图案取得多个分光图像的情况下,数据输出部将使各分光图像的各像素中的光量与该像素的坐标值相对应的测定数据作为配置文件制作用数据进行输出。
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公开(公告)号:CN103733340A
公开(公告)日:2014-04-16
申请号:CN201280036132.9
申请日:2012-07-11
Applicant: 索尼公司
Inventor: 横川创造
CPC classification number: H01L27/14621 , G01J3/0259 , G01J3/027 , G01J3/12 , G01J3/18 , G01J3/2803 , G01J3/2823 , G01J2003/1213 , G01J2003/2806 , G01J2003/2816 , G01J2003/282 , G01J2003/2826 , G02B5/008 , G02B5/201 , H01L27/14629 , H04N5/332 , H04N5/374 , H04N5/378 , H04N9/07
Abstract: 本发明涉及固态摄像元件和摄像系统,其中能够实现具有高灵敏性和高波长分辨率的可见光/近红外光分光/摄像器件,并且利用所述固态摄像元件和摄像系统能够使具有高空间分辨率的二维光谱制图成为可能。固体摄像元件具有二维像素阵列和面对着二维像素阵列的像素区域布置的多种类型的滤波器,这些滤波器具有分光功能并具有比待检测的波长短的周期性微细图案。各滤色器大于二维像素阵列中的各像素的光电转换元件,并且形成单个单元,在该单元中一种类型的滤波器相对于相邻的多个光电转换元件组而布置。多种类型的滤波器相对于相邻单元组而布置并形成滤波器组,并且布置有N×M个单元(N和M是1以上的整数)以使滤波器组面对二维像素阵列的像素区域。
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公开(公告)号:CN103674245A
公开(公告)日:2014-03-26
申请号:CN201310384997.0
申请日:2013-08-29
Applicant: 爱科来株式会社
Inventor: 北村茂
CPC classification number: G01N21/95 , G01J3/027 , G01J3/42 , G01N21/3581 , G01N21/636 , G02F2203/13
Abstract: 本发明提供了一种太赫兹光谱测定装置及方法和非线性光学晶体检查装置及方法。当从激励光光源施加的两种不同波长的光束入射在具有固有非线性系数的非线性光学晶体上时,非线性光学晶体生成THz波和其中两种不同波长的光束已经根据非线性系数进行了波长转换的SHG波,THz波是利用与晶体自身具有的非线性系数的差频率生成而获得的。生成的THz波通过样本或从其反射并且由THz检测器检测。SHG波由SHG检测器检测。控制单元从THz检测器获取THz测量值,从SHG检测器获取SHG测量值S,并且使用在没有样本的情况下获取的基线THz测量值TB和基线SHG测量值SB来利用(T/S)/(TB/SB)执行基线校正。
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公开(公告)号:CN103528685A
公开(公告)日:2014-01-22
申请号:CN201310276320.5
申请日:2013-07-03
Applicant: 精工爱普生株式会社
Inventor: 西村晃幸
CPC classification number: G01J3/433 , G01J3/0264 , G01J3/027 , G01J3/26 , G02B26/001
Abstract: 本发明提供能进行快速的分光测定的分光测定装置。分光测定装置(1)具备:波长可变干涉滤波器(5),包括具有固定反射膜的固定基板、具有可动反射膜的可动基板、以及变更固定反射膜和可动反射膜之间的反射膜间间隙的间隙量的静电致动器;检测部(11),检测由波长可变干涉滤波器(5)取出的光的光强度;电压设定部(21)以及电压控制部(15),对静电致动器施加连续变化的模拟电压;电压监视部(22),监视施加给静电致动器的电压;存储部(30),存储V-λ数据;以及光强度取得部(24),根据由电压监视部(24)监视的电压,在透过波长可变干涉滤波器(5)的光成为测定对象波长的定时,取得由检测部(11)检测的光强度。
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