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公开(公告)号：CN119245825A
公开(公告)日：2025-01-03
申请号：CN202411261619.8
申请日：2024-09-09
Applicant: 清华大学
Abstract: 本公开涉及一种基于衍射透镜的高光谱成像方法、装置及电子设备，该方法包括：确定具有目标波长的目标光线经过目标衍射透镜后的目标聚焦距离；确定目标光线在目标聚焦距离处对应的目标模糊核；确定目标光线在目标聚焦距离处的编码图像；根据目标模糊核和编码图像，确定目标波长对应的单光谱通道图像。本公开实施例，可以通过确定目标波长对应的目标聚焦距离，实现对指定光谱通道进行重建，而无需对目标波长对应的光谱通道以外的其他光谱通道进行重建，以提高光谱成像的效率和灵活性；并可以将光谱分辨率转化为目标聚焦距离的分辨率，从而通过对不同取值的目标聚焦距离处的编码图像进行重建，快速得到具有较高分辨率的多个连续光谱通道图像。
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公开(公告)号：CN119023071A
公开(公告)日：2024-11-26
申请号：CN202411336467.3
申请日：2024-09-25
Applicant: 青岛理工大学
Abstract: 本发明提出一种同轴单色仪光路系统，由7部分组成，沿光线入射方向依次为入射狭缝、入射反射镜、准直镜、衍射光栅、成像镜、出射反射镜和出射狭缝。入射反射镜和出射反射镜用于折转光束，以实现同轴光路结构，准直镜用于将来自入射狭缝的光线准直为平行光，成像镜用于汇聚光栅色散后的光线。同轴单色仪光路系统的像方F数为4.25，工作波段400nm~800nm，最佳光谱分辨率优于0.1nm，入射狭缝和出射狭缝的宽度可根据需要在50μm~1mm范围内调节。本发明的同轴单色仪光路系统的光学元件均采用平面或球面面型，成本低廉，工作波段内单色光斑汇聚良好，能量集中度较高，可用于溶液分析和仪器标定等场景。
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公开(公告)号：CN118882827A
公开(公告)日：2024-11-01
申请号：CN202411336562.3
申请日：2024-09-25
Applicant: 青岛理工大学
Abstract: 本发明提出一种基于自由曲面的三光栅成像光谱仪，其工作波段为200nm‑1600nm，光路体积为24mm×38mm×74mm。使用刻线间隔为0.0025mm、0.005mm和0.01mm的三块光栅分别实现200nm‑400nm、400nm‑800nm、800nm‑1600nm三个波段的高衍射效率的色散。然后通过紫外探测器接收紫外波段的成像光线（200nm‑400nm），可见近红外探测器接收可见、近红外波段的成像光线（400nm‑1600nm）。三个波段的光谱分辨率分别为0.4nm、0.8nm和1.6nm，谱线弯曲和色畸变均小于1.4μm。该系统具有成像质量好、小型化、超低谱线弯曲和色畸变的优点。
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公开(公告)号：CN115031838B
公开(公告)日：2024-10-22
申请号：CN202210481451.6
申请日：2022-05-05
Applicant: 西安应用光学研究所
Abstract: 本发明属于光学测量技术领域，公开了一种扫描式双层二次衍射线阵光谱仪波长标定方法，高精度光谱仪主要是硬件上选择高线对数光栅、采用单次或者多次色散、长焦距汇聚镜、扫描摄谱等技术实现高准确度波长测量，该类光谱仪具备高光谱分辨率、高波长准确度等技术特点，标定方法首先对线阵探测器中心像元的波长标定，然后对线阵探测器非中心像元的波长标定。本发明可解决此类光谱仪波长的准确标定，尤其可实现紫外到近红外波段波长准确度±0.05nm的二次衍射的线阵光谱仪波长标定。
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公开(公告)号：CN118565773A
公开(公告)日：2024-08-30
申请号：CN202411022735.4
申请日：2024-07-29
Applicant: 江西煜明智慧光电股份有限公司
IPC: G01M11/02 , G06F18/214 , G06F18/213 , G06F18/10 , G06N3/048 , G06N3/084 , G01J1/42 , G01J3/18 , G01J3/44 , G01J3/50 , G01J5/48
Abstract: 本发明涉及LED检测技术领域，提出了一种无荧光粉多基色LED光源模组的检测方法，该方法具体为：准备检测设备和搭建检测环境；模组连接与初始化，连接并初始化LED光源模组与检测设备；LED光源模组全性能测试与寿命追踪，通过高分辨率摄像头获取衍射光谱图，以及使用光电测试仪器测量模组的关键参数，包括光通量、色度、色坐标和温度，并记录模组的实际使用寿命和失效数据；机器学习特征识别，建立模组的可靠性分析及性能预测模型；稳定性与可靠性评估，根据显色指数、可靠度和模型检测模组性能指标，评估结果判断模组是否达标，并提出优化建议。本发明能够提高LED光源模组的质量和可靠性，为行业提供了一种有效的检测手段。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN118548987A
公开(公告)日：2024-08-27
申请号：CN202410761252.X
申请日：2024-06-13
Applicant: 深圳市新凯来工业机器有限公司
Abstract: 本申请实施例提供一种单色仪及光学设备，该单色仪包括光输入组件、第一光输出组件、第一滤光组件以及第二滤光组件；光输入组件和第一光输出组件间隔设置；第一滤光组件和第二滤光组件间隔设置在光输入组件与第一光输出组件之间；第一滤光组件包括第一滤光片以及与第一滤光片连接的第一驱动件；第二滤光组件包括第二滤光片以及与第二滤光片连接的第二驱动件；第一滤光片的选通波长位置和第二滤光片的选通波长位置在光谱曲线中对称；第一驱动件带动第一滤光片绕其轴线并沿第一预设轨迹转动，第二驱动件带动第二滤光片绕其轴线并沿第二预设轨迹转动，以调节出射光的中心波长和/或带宽。该单色仪能够实现中心波长和带宽快速连续可调的需求。
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公开(公告)号：CN118475819A
公开(公告)日：2024-08-09
申请号：CN202280086183.6
申请日：2022-10-27
Applicant: 浜松光子学株式会社
Abstract: 分光装置包括具有摆动面的摆动元件、对在摆动面反射后的测量光进行分光的衍射光栅、包含检测被衍射光栅分光后的测量光的一部分的第1光检测器的第1光检测单元、出射检查光的光源、和包含检测在摆动面反射后的检查光的第2光检测器的第2光检测单元。摆动元件包含支撑部、具有摆动面的可动部和以摆动面的摆角以规定的轴线为中心线变化的方式连结支撑部与可动部的连结部。第2光检测单元具有以检查光的移动方向为长边方向的长条形的受光区域。
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公开(公告)号：CN114127540B
公开(公告)日：2024-08-06
申请号：CN202080051603.8
申请日：2020-07-30
Applicant: 塞莫费雪科学(不来梅)有限公司
Abstract: 一种确定光谱中的峰强度的方法，所述方法包括：通过将所述光谱成像到检测器阵列(13)上产生光谱值的二维阵列(20)；选择光谱值的所述阵列中的第一二维子阵列(21)，使得所述子阵列包含所述光谱的第一峰(1)，所述第一峰具有预期位置；在所述第一子阵列(21)内内插所述光谱值以产生第一内插子阵列；通过使用所述第一内插子阵列确定所述第一峰(1)的实际位置；通过使用所述第一峰的所述实际位置和所述预期位置确定偏移；通过使用所述偏移来调整所述光谱的第二峰(2)的预期位置；选择光谱值的所述阵列中的第二二维子阵列(22)，使得所述第二子阵列包含所述第二峰(2)，所述第二峰具有调整后的预期位置；以及在所述第二子阵列(22)内使用内插光谱值以产生所述第二峰的峰强度值。
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公开(公告)号：CN118424466A
公开(公告)日：2024-08-02
申请号：CN202410593582.2
申请日：2024-05-14
Applicant: 安徽谱析科技有限公司
Abstract: 本发明提出了一种分光激发模块，通过对宽光谱光源进行波长选择，能够实现带宽小于0.1nm的光对焦点处样品进行特征光谱激发和收集，适用于拉曼光谱激发等应用，该模块在特定条件下可以代替激光器并能够实现200nm～1100nm范围内任意波长输出。
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公开(公告)号：CN118369557A
公开(公告)日：2024-07-19
申请号：CN202280080817.7
申请日：2022-12-12
Applicant: 塞莫费雪科学(不来梅)有限公司 , 赛默飞世尔(上海)仪器有限公司
Abstract: 在二维光谱中确定峰位置测量偏移。识别出现在以下两者中的多个峰：在已知条件下从参照材料获得的光谱；和从感兴趣的样本获得的光谱。通过将由从感兴趣的样本获得的光谱中的多个所识别的峰与从参照材料获得的光谱中的多个所识别的峰的峰位置形成的图案进行比较来确定峰位置测量偏移。
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