公开(公告)号：CN101479577B

公开(公告)日：2012-05-23

申请号：CN200780019029.2

申请日：2007-05-23

Applicant: ITF实验室

Inventor： 周长尊 ,  赵云飞

IPC: G01J4/00 ,  C03B37/075 ,  G01M11/02 ,  G02B6/024

CPC classification number: G02B6/02109 ,  G01D5/35303 ,  G01M11/3181

Abstract: 本发明提供一种利用写入到偏振保持(PM)光纤的窄带光纤布拉格光栅(FBG)，测量和监控该PM光纤的偏振态(SOP)及类似物的方法。该PM光纤包括第一窄带参考FBG，该第一窄带参考FBG被用作测量和监控PM光纤的SOP的参考。由于PM光纤的双折射性质，参考FBG通常反射两个窄带光谱，一个沿慢轴的窄带光谱和一个沿快轴的窄带光谱，每个窄带光谱具有一个中心波长。通过测量反射光谱沿每个轴的强度，并通过用偏振控制器调节光纤，可以将光纤调节到预定的SOP。在将PM光纤调节到预定SOP之后，可以根据该预定SOP精确测量第二光栅或另一光学器件的光学性质。本发明的方法还可以被有利地用来精确测量反射率。

公开(公告)号：CN101153820B

公开(公告)日：2012-02-08

申请号：CN200710103305.5

申请日：2007-05-18

Applicant: 富士通株式会社

Inventor： 藤原胜美 ,  大场英俊

IPC: G01J4/00 ,  G02B26/08 ,  B81B7/02

CPC classification number: G01B11/272 ,  G02B26/0816

Abstract: 本发明提供一种测量装置，包括：测量光源(14)，用于向镜平面(11)发射测量光(28)；投射单元(17)，测量光源发射的测量光(28)从镜平面(11)反射时形成的反射光(13)投射在投射单元上作为投射光点；图像拾取单元(18)，用于拾取投射单元(17)的图像，反射光(13)投射在投射单元上作为投射光点；控制单元(31)，用于控制镜平面(11)的倾斜度；提取单元(32)；以及测量单元(33)，用于基于图像拾取单元拾取的投射单元的图像，测量投射光点(50)的移动量，投射光点随着受控制单元(31)控制的镜平面(11)的倾斜度变化而移动。本发明使得能够在短时间内高准确度地测量具有可改变倾斜度的镜平面(11)的镜系统(12)的偏转特性。

公开(公告)号：CN102261955A

公开(公告)日：2011-11-30

申请号：CN201110111697.6

申请日：2011-05-03

Applicant: 杭州电子科技大学

Inventor： 高秀敏 ,  胡松 ,  辛青

IPC: G01J3/447 ,  G01J4/00

Abstract: 本发明涉及一种光束偏振光谱特性检测方法。现有技术系统复杂、光谱测量灵敏度低，无法实现光束偏振态分布检测，以及偏振和光谱特性同时检测。本发明利用柔性偏光膜制成圆锥形光束偏振态检测元件，两平面均镀有高反射膜的平板电光晶体两侧设置有平行透光电极板，平行透光电极板与可调电源相连接，构成微腔式谱线扫描元件；入射光束依次经过圆锥形光束偏振态检测元件、微腔式谱线扫描元件、光束会聚元件和面阵光电探测器，面阵光电探测器采集到含有光谱信息和偏振分布的光斑，进而得到了光束偏振光谱特性。本发明方法简单灵活、结构定位要求低、同步实现高精度光谱测量和光束横向偏振态分布分析、系统可靠性和稳定性高，可操作性强。

公开(公告)号：CN101846553B

公开(公告)日：2011-09-07

申请号：CN201010137833.4

申请日：2010-03-30

Applicant: 北京理工大学

Inventor： 白云峰 ,  董娟 ,  李艳秋

IPC: G01J4/00

Abstract: 本发明涉及一种利用双缝干涉法测量偏振态的装置及方法，属于光电检测技术。包括偏振片、挡光板和CCD探测器；其中挡光板上有两条狭缝，除了挡光板上的两条狭缝外，挡光板上的其余部分完全不透光；沿光路方向依次为偏振片、挡光板和CCD探测器。将偏振片覆盖在挡光板的一条狭缝上，然后沿光路方向依次固定挡光板和CCD探测器；平行入射光照射在挡光板上，平行入射光透过挡光板上的两条狭缝在CCD探测器成像，形成干涉条纹。本发明只用到一块偏振片，且不需要旋转此偏振片，装置简单，具有高的实验精度；整个实验装置中无波长选择装置，即可测量任何波长入射光的偏振态。

公开(公告)号：CN102147326A

公开(公告)日：2011-08-10

申请号：CN201010268794.1

申请日：2010-08-26

Applicant: 华为技术有限公司

Inventor： 张晓光 ,  张文博 ,  席丽霞 ,  邸青玥 ,  张光勇 ,  李喜祥 ,  熊前进

IPC: G01M11/00 ,  G01J4/00

Abstract: 本发明公开了一种偏振检测器的校准方法和装置，属于光通信领域。该方法包括：根据输入的随机偏振态的光信号，获取偏振检测器中偏振光检测单元输出的多组输出向量；根据该多组输出向量，构造该偏振检测器所对应的包含多个待求矩阵元的斯托克斯参量方程；求取使该斯托克斯参量方程达到最小值时的该多个待求矩阵元；应用各个待求矩阵元得到确定后的标定矩阵对该偏振检测器进行校准。该装置包括：向量获取模块、方程构造模块、计算模块和校准模块。本发明通过将偏振检测器所对应的标定矩阵求取问题从非线性优化问题转化成全局求最小值问题，不仅实现了对偏振检测器的自动标定，而且求取的标定矩阵使得偏振检测器的检测精度得到大幅度提高。

公开(公告)号：CN102099661A

公开(公告)日：2011-06-15

申请号：CN200980126831.0

申请日：2009-07-02

Applicant: 海因兹仪器公司

Inventor： 王宝良

IPC: G01J4/00

CPC classification number: G01N21/23 ,  G02F1/0131

Abstract: 提高用于测量光学样本的双折射的系统的通量包括用于引导多个光束通过该系统的光弹性调制器构件的技术，以便连同被扩展以适合多个光束的检测机构一起地，横跨样本的、迄今的行扫描(经由单一光束)被显著地放大，从而覆盖样本区域的“条带”的几行被本发明的系统所扫描。

公开(公告)号：CN101936773A

公开(公告)日：2011-01-05

申请号：CN201010276697.7

申请日：2010-09-08

Applicant: 北京航空航天大学

Inventor： 屈晓升 ,  林彦好 ,  王东光

IPC: G01J4/00 ,  G01J4/04

Abstract: 本发明涉及精密光学测量领域，具体公开了一种基于计算机辅助的高精度偏振光定位系统及高精度定位方法，该定位方法具体步骤为：步骤1)数据采集；步骤2)测定曲线的极值点精确位置；步骤3)利用Dixon检验法排除异常值，并获得最终测试结果；步骤4)根据检测结果，利用计算机驱动电机将待定位的偏振元件转动至所测定的角度，完成一次偏振光定位。本发明利用偏振元件光学特性曲线的特点，将偏振光定位方法转变为偏振元件光学特性曲线极值点的定位突破了光电流计AD转换精度的限制，并利用Dixon检验法剔除异常测试值，实现了更高精度的偏振光定位方式。该方法基于与计算机集成的偏振测量系统进行数据采集和分析，从而实现了快速、精确建立偏振场的实验需求。

公开(公告)号：CN101832818A

公开(公告)日：2010-09-15

申请号：CN201010180328.8

申请日：2006-06-09

Applicant: 阿克索梅特里克斯公司

Inventor： M·H·史密斯

IPC: G01J4/00 ,  G06F17/50 ,  G06F17/16 ,  G01B21/02 ,  G01B21/22

CPC classification number: G02F1/1309 ,  G01N21/21 ,  G01N21/23 ,  G01N21/958 ,  G01N2021/9513

Abstract: 本发明涉及根据完全米勒矩阵测量值确定液晶单元参数的方法和装置。本发明公开了一种用于测试LCD板的方法和装置。可以将受测LCD板(30)安装到偏振态发生器(10)与偏振态分析器(16)之间的可平移的台面(40)上。对于受测单元(30)上的每个位置，多种已知的偏振态(22)被发射穿过LCD单元(30)，并且被偏振态分析器(16)检测。计算机获取表示偏振态的电信号。在计算机内，根据LCD单元(30)的物理参数被认为是什么的估计而开发LCD单元(30)的偏振属性的模型。通过迭代地精化建模的物理单元属性，使得模拟的偏振属性与所测量的偏振属性之间的RMS差最小化，此时可以推导出LCD单元的单元厚度和其他物理参数。

公开(公告)号：CN101319958B

公开(公告)日：2010-08-25

申请号：CN200810040614.7

申请日：2008-07-16

Applicant: 中国科学院上海光学精密机械研究所

Inventor： 曾爱军 ,  杨坤 ,  郭小娴 ,  谢承科 ,  黄惠杰 ,  王向朝

IPC: G01M11/02 ,  G01J4/00

Abstract: 一种四分之一波片快轴方位实时测量装置和方法，该装置由准直光源、起偏器、标准四分之一波片、衍射分束元件、聚焦透镜、检偏器阵列、光电探测器阵列、放大电路和信号处理系统组成。测量方法是准直光源出射的平行光束经过起偏器、标准四分之一波片后形成圆偏振光，该圆偏振光经过待测四分之一波片后由衍射分束元件进行分光，多个强度相等的子光束由聚焦透镜聚焦在检偏器阵列上各自产生偏振干涉，形成依次具有一定移相量的干涉光强并由光电探测器阵列所接收，光电探测器阵列输出的电信号经过放大电路后由信号处理系统进行处理即可以实时获得待测四分之一波片的快轴方位角度。

公开(公告)号：CN101634676A

公开(公告)日：2010-01-27

申请号：CN200910161446.1

申请日：2009-07-21

Applicant: 清华大学 ,  鸿富锦精密工业(深圳)有限公司

Inventor： 姜开利 ,  肖林 ,  陈卓 ,  范守善

IPC: G01R29/08 ,  G01J1/10 ,  G01J4/00 ,  G01T1/16 ,  G01D5/48 ,  C01B31/02 ,  B82B3/00 ,  B82B1/00

CPC classification number: G10K15/04 ,  H04R23/00 ,  Y10S977/954

Abstract: 本发明涉及一种电磁波信号检测方法，包括以下步骤：提供一碳纳米管结构，该碳纳米管结构包括多个碳纳米管；通过该碳纳米管结构吸收一电磁波信号，使该碳纳米管结构发热，并加热周围介质发出声波；以及根据所述碳纳米管结构发出声波的强度判断所述电磁波信号的强度。另外本发明还涉及一种电磁波信号检测装置。