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公开(公告)号：JPWO2019230624A1
公开(公告)日：2021-07-26
申请号：JP2019020824
申请日：2019-05-27
Applicant: 株式会社堀場製作所
IPC: G01N15/02
Abstract: 測定対象以外の粒子群の影響が大きい場合であっても、測定対象である粒子群の粒子径分布を精度良く求めることができるようにするべく、セル11に収容された測定対象である粒子群に光を照射し、その回折/散乱光の光強度を示す光強度信号に基づいて粒子群の粒子径分布を算出する粒子径分布測定装置100であって、光強度信号から得られる光強度スペクトルである実スペクトルを取得する実スペクトル取得部21と、セル11に収容された測定対象Xではない非対象粒子群の粒子径分布を示す非対象粒子径分布データを受け付けて、当該非対象粒子径分布データに基づき、非対象粒子群に光を照射した場合に得られるはずの光強度スペクトルである非対象スペクトルを算出する非対象スペクトル算出部22と、実スペクトルから非対象スペクトルの影響分を差し引いた光強度スペクトルである対象スペクトルを算出する非対象スペクトル除去部23と、対象スペクトルに基づいて測定対象Xである粒子群の粒子径分布を算出する対象粒子径分布算出部24とを備えるようにした。
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公开(公告)号：JPWO2019230628A1
公开(公告)日：2021-07-15
申请号：JP2019020835
申请日：2019-05-27
Applicant: 株式会社堀場製作所
IPC: G01N15/02
Abstract: 測定対象と同じような形状の測定対象外の粒子が混在していたとしても、測定対象の粒子径分布を精度良く測定できるようにするべく、第1粒子及びこの第1粒子とは異種の第2粒子とが混在し、少なくとも第1粒子が透光性を有する粒子群を撮像して得られた画像データを受け付ける画像処理部41と、粒子を通過する光の屈折に起因して現れる明暗領域に基づき、画像に写された粒子が第1粒子であるか第2粒子であるかを判別する粒子判別部42とを備えるようにした。
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Patent Agency Ranking
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公开(公告)号：JPWO2019225591A1
公开(公告)日：2021-05-27
申请号：JP2019020068
申请日：2019-05-21
Applicant: 株式会社堀場製作所
IPC: G01M15/10
Abstract: 試験室X内の空気に含まれる粒子状物質の影響を考慮しながら排ガス分析できるようにするべく、試験室X内に配置されたエンジンEを備える供試体から排出される排ガスを分析する分析システム100であって、試験室X内の空気に含まれる粒子状物質を採取するサンプリング部51と、サンプリング部51に採取された粒子状物質を分析する第1分析部61と、第1分析部61の分析結果を出力する分析結果出力部62とを備えるようにした。
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公开(公告)号：JP6868642B2
公开(公告)日：2021-05-12
申请号：JP2018556591
申请日：2017-12-04
Applicant: 株式会社堀場製作所
Inventor： 駒田 峰之
IPC: G01M17/007 , G01M13/02
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公开(公告)号：JP2021028570A
公开(公告)日：2021-02-25
申请号：JP2017179513
申请日：2017-09-19
Applicant: 株式会社堀場製作所
Abstract: 【課題】排ガスに含まれる成分の凝集や凝縮を抑えるとともに、パージにより清掃を行う。 【解決手段】排ガスを希釈用ガスにより希釈して排ガス分析装置に導出する排ガス希釈装置2であって、排ガスが導入されるメイン流路21と、メイン流路21に接続されて、希釈用ガスが導入される希釈用ガス流路23と、メイン流路21に接続されて、パージガスが導入されるパージガス流路24と、前記希釈用ガスを加熱する加熱部とを備える。 【選択図】図2
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