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公开(公告)号：JP2014186025A
公开(公告)日：2014-10-02
申请号：JP2014001104
申请日：2014-01-07
Applicant: Chroma Ate Inc , 致茂電子股▲分▼有限公司Chroma Ate Inc.
Inventor： WANG YAO NAN , FAN FU CHIENG , JIANG XIAOJING
Abstract: PROBLEM TO BE SOLVED: To provide an electric testing apparatus capable of avoiding an inductive reactance of a cable from interfering in a result of an interlayer pressure test.SOLUTION: The electric testing apparatus includes a power supply module, a case, a power transmission line, and a resonance circuit module. The power supply module is provided for selectively outputting a test voltage. The case surroundingly covers the power supply module. The power transmission line includes a first terminal to be coupled with the power supply module, and a second terminal, transmits the test voltage, and at least a part thereof is exposed outside the case. The resonance circuit module is exposed outside the case, is coupled with the second terminal of the power transmission line, and includes at least one capacitance that selectively coupled with a testing object device. This configuration can accurately test the testing object device with low inductance value by the electric testing apparatus.
Abstract translation: 要解决的问题：提供一种能够避免电缆的感抗妨碍层间压力测试的电测试装置。解决方案：电测试装置包括电源模块，壳体，输电线 ，和谐振电路模块。 提供电源模块用于选择性地输出测试电压。 外壳包围电源模块。 电力传输线包括与电源模块耦合的第一端子，第二端子传输测试电压，并且其至少一部分暴露在壳体外部。 谐振电路模块暴露在壳体外部，与输电线路的第二端子耦合，并且包括选择性地与测试对象装置耦合的至少一个电容。 该配置可以通过电气测试装置对具有低电感值的测试对象设备进行精确测试。
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公开(公告)号：JP2013019896A
公开(公告)日：2013-01-31
申请号：JP2012150568
申请日：2012-07-04
Applicant: Chroma Ate Inc , クロマ エーティーイー インコーポレイテッドChroma Ate Inc.
Inventor： HWANG CHANG-CHEN , LIU MAO-SHENG , CHEN LI-SHOU , TSAI SIPIN , BOBBY TSENG
CPC classification number: G01R1/0408 , H01R2201/20
Abstract: PROBLEM TO BE SOLVED: To provide an electrical connecting device which is capable of stably electrically connecting an electric device to another device.SOLUTION: An electrical connecting device comprises at least one jig for electrically connecting and clamping at least one electrode of at least one electrical component. The jig comprises: a first clamping portion; a second clamping portion; and a first detecting elastic sheet. The second clamping portion is disposed opposite to the first clamping portion. The electrode is adapted to be electrically connected and clamped between the first clamping portion and the second clamping portion. The first detecting elastic sheet is fixed with the first clamping portion. The first detecting elastic sheet is connected to a first sensor and formed with a first contact portion. The first sensor is used for sensing a first parameter of the electrical component and the first contact portion is used for contacting with the electrode.
Abstract translation: 要解决的问题：提供一种电连接装置，其能够将电气装置稳定地电连接到另一装置。 解决方案：电连接装置包括用于电连接和夹紧至少一个电气部件的至少一个电极的至少一个夹具。 夹具包括：第一夹紧部分; 第二夹持部; 和第一检测弹性片。 第二夹持部分与第一夹紧部分相对设置。 电极适于电连接并夹紧在第一夹紧部分和第二夹紧部分之间。 第一检测弹性片用第一夹持部固定。 第一检测弹性片连接到第一传感器并形成有第一接触部分。 第一传感器用于感测电气部件的第一参数，并且第一接触部分用于与电极接触。 版权所有（C）2013，JPO＆INPIT
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13.发明专利
公开(公告)号：JP2013007992A
公开(公告)日：2013-01-10
申请号：JP2011285855
申请日：2011-12-27
Applicant: Chroma Ate Inc , 致茂電子股▲分▼有限公司Chroma Ate Inc.
Inventor： CHEN CHI-JEN , FAN CHIANG CHEN-LIANG , CHEN LI XUN
IPC: G09F9/00
CPC classification number: G01R31/2849 , G01R31/2817 , G09G3/006
Abstract: PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a multi-directional burn-in experimental facility for display panel module for performing burn-in experiment by successively fixing at least one test stand-by display panel module in a plurality of test postures.SOLUTION: Disclosed is the multi-directional burn-in experimental facility for display panel module for selectively adjusting and fixing a test stand-by display panel module to a plurality of experimental reception positions by fixing at least one test stand-by display panel module in an interposed manner, the multi-directional burn-in experimental facility for display panel module which being characterized by including: a temperature adjustment control box having an experimental chamber for controlling the temperature of an experimental chamber to an experimental temperature range; at least one display panel module reception frame; and at least one panel repair tool fixed to a display panel module reception rod for fixing the test stand-by display panel module in an interposed manner.
Abstract translation: 要解决的问题：为了通过在多个测试姿势中连续地固定至少一个测试待机显示面板模块来提供用于执行老化实验的显示面板模块的多方向老化实验设备。 解决方案：公开了一种用于显示面板模块的多向老化实验设备，用于通过固定至少一个测试待机显示器来选择性地将测试待机显示面板模块调整和固定到多个实验接收位置 面板模块，显示面板模块的多方向老化实验设备，其特征在于包括：温度调节控制箱，具有用于将实验室的温度控制到实验温度范围的实验室; 至少一个显示面板模块接收框架; 以及固定到显示面板模块接收杆的至少一个面板修理工具，用于以插入方式固定测试待机显示面板模块。 版权所有（C）2013，JPO＆INPIT
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公开(公告)号：JP2012093329A
公开(公告)日：2012-05-17
申请号：JP2010255780
申请日：2010-11-16
Applicant: Chroma Ate Inc , 致茂電子股▲分▼有限公司Chroma Ate Inc.
Inventor： GAO HONG-DA
IPC: G01M11/00
Abstract: PROBLEM TO BE SOLVED: To provide an inspection device and an inspection method for a light bar, capable of measuring an actual position of a plurality of light emitting elements on a light bar to be measured when inspecting a COB type light bar.SOLUTION: The inspection device for a light bar is used to inspect at least one light bar 3 to be measured including a supporting part and a plurality of light emitting elements arranged on the supporting part and emitting light when receiving a specific current, and comprises a mounting device 61, a current source device, an imaging device 62, and a processing analysis device. At least one light bar 3 to be measured is mounted on the mounting device 61. The current source device supplies an inspection current of the light bar 3 to be measured to perform lighting drive of the plurality of light emitting elements of the light bar 3 to be measured. The imaging device 62 is positioned at a part facing the light emitting elements on which lighting drive is performed and sequentially captures image data obtained when the light emitting elements emit light, to output the image data.
Abstract translation: 要解决的问题：提供一种用于光棒的检查装置和检查方法，当检查COB型光条时，能够测量要测量的光棒上的多个发光元件的实际位置。 解决方案：用于光棒的检查装置用于检查至少一个待测量的光条3，包括支撑部分和布置在支撑部分上的多个发光元件，并且在接收到特定电流时发光， 并且包括安装装置61，电流源装置，成像装置62和处理分析装置。 至少一个要测量的灯条3安装在安装装置61上。电流源装置提供要测量的光条3的检查电流，以对光棒3的多个发光元件进行点亮驱动， 被测量。 成像装置62位于面向执行发光驱动的发光元件的部分，并且顺序地捕获当发光元件发光时获得的图像数据，以输出图像数据。 版权所有（C）2012，JPO＆INPIT
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公开(公告)号：JP2021141034A
公开(公告)日：2021-09-16
申请号：JP2020061748
申请日：2020-03-31
Applicant: 致茂電子股▲分▼有限公司 , Chroma Ate Inc.
IPC: H01M50/20
Abstract: 【課題】本発明は、電池の膨張時に固定式プローブヘッドが電池の電極に接触できないおそれがあるという問題を解決する。 【解決手段】 本発明は、複数の電池ユニットを試験するための電池プローブモジュール及び電池試験装置を開示する。前記電池試験装置は、電池プローブモジュール及びモジュール化電池トレイを含む。電池プローブモジュールは、第1のフレームと、それぞれ本体部、回転軸部及びプローブヘッドを含む複数の試験ユニットとを含む。回転軸部及びプローブヘッドは本体部に設置され、かつ各試験ユニットは回転軸部を介して第1のフレームに枢設される。モジュール化電池トレイは、第2のフレームと、それぞれ前記複数の試験ユニットのうちの1つに対応するように第2のフレームに移動可能に係止される複数の電池収容ユニットとを含む。 【選択図】図1
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：JP2021092563A
公开(公告)日：2021-06-17
申请号：JP2020200860
申请日：2020-12-03
Applicant: 致茂電子股▲分▼有限公司 , Chroma Ate Inc.
IPC: G01M11/00
Abstract: 【課題】第一の光路上に配された、対物レンズと、結像レンズと、撮影レンズと、焦点調節モジュールとを備える光電子ユニット用測定装置を提供する。 【解決手段】対物レンズは、第一の試験光を受光し、第一の試験光を第二の試験光に変換する。結像レンズは、第二の試験光を受光し、第二の試験光を第三の試験光に変換する。撮影レンズは、第三の試験光を受光し、ビーム特性を測定する。焦点調節モジュールは、第一の透光性部材を選択的に第一の光路上に配置し、第一の焦点位置あるいは第二の焦点位置に焦点を結ぶよう第三の試験光を調節する。焦点調節モジュールは、第一の透光性部材が配された第一の領域を有する第一のキャリアプレートを備え、第一のキャリアプレートを動かし、第一の領域を第一の光路に対して選択的に位置合わせする。 【選択図】図1
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公开(公告)号：JP6880466B2
公开(公告)日：2021-06-02
申请号：JP2019172635
申请日：2019-09-24
Applicant: 致茂電子股▲分▼有限公司 , Chroma Ate Inc.
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公开(公告)号：JP2021015972A
公开(公告)日：2021-02-12
申请号：JP2020116790
申请日：2020-07-07
Applicant: 致茂電子股▲分▼有限公司 , Chroma Ate Inc.
Inventor： 游本懋
Abstract: 【課題】迅速で効率的且つ信頼性が高く、温度制御機能を有すると共に低コストで、ウェハ検査の困難性を解決する、検査装置を提供する。 【解決手段】複数の発光部を有するウェハを検査するためのフリップチップVCSEL用ウェハ検査装置1であって、真空チャンバ15に、ウェハ検査用キャリア10と、可撓性導電層11とを備える。ウェハ検査用キャリアは、第1の面を有する。第1の面上には複数の検査部が配置される。第1の面上に着脱可能に配置された可撓性導電層は、垂直方向に導電性を有し水平方向に絶縁される。可撓性導電層上に複数の発光部を備える被検査ウェハDUTが配置され、被検査ウェハの検査中、各発光部は、可撓性導電層を介して、複数の検査部のうちの一つと垂直方向に電気的に接続される。 【選択図】図1A
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公开(公告)号：JP2020197529A
公开(公告)日：2020-12-10
申请号：JP2020092973
申请日：2020-05-28
Applicant: 致茂電子股▲分▼有限公司 , Chroma Ate Inc.
Abstract: 【課題】 光電子測定装置を提供する。 【解決手段】 本願では光電子測定装置が開示される。光電子測定装置は、対物レンズと、結像レンズと、カメラと、光路調整モジュールと、を含む。対物レンズは、第一の光路上に設置され、第一の試験光を受け取り、第一の試験光を第二の試験光に変換する。結像レンズは、第一の光路上に設置され、第二の試験光を受け取り、第二の試験光を第三の試験光に変換する。カメラは、第一の光路上に設置され、第三の試験光のビーム特性を測定する。光路調整モジュールは、第一の光路上の結像レンズとカメラとの間に設置され、第一の光路上に設置されたミラーを含み、ミラーは試験コマンドに応じて結像レンズに対して相対的に移動して、第一の光路における結像レンズとカメラとの間の距離を第一の光学距離又は第二の光学距離となるように調整する。ミラーは第三の試験光を垂直に反射させる。 【選択図】図1
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公开(公告)号：JP2020184627A
公开(公告)日：2020-11-12
申请号：JP2020079916
申请日：2020-04-30
Applicant: 致茂電子股▲分▼有限公司 , Chroma Ate Inc.
Inventor： 蔡俊偉
IPC: H01L21/50
Abstract: 【課題】 チップが損壊又は損傷する可能性を低減させるエジェクタ装置を提供する。 【解決手段】 本発明は、薄膜に配置されたチップを取り出すためのエジェクタ装置を開示する。チップは第1の方向に第1の長さを有し、第2の方向に第1の幅を有する。エジェクタ装置は、接触面を規定するピンカバーを備える。接触面に配置されたピンホールが第1の方向に第2の長さを有し、第2の方向に第2の幅を有する。接触面は、薄膜と接触するように構成される。第1の長さが第2の長さよりも長い場合、第1の幅は第2の幅よりも広くない。第1の幅が第2の幅よりも広い場合、第1の長さは第2の長さよりも長くない。 【選択図】図1
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