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公开(公告)号：CN102681168B
公开(公告)日：2014-11-26
申请号：CN201210071383.2
申请日：2012-03-16
Applicant: 佳能株式会社
Inventor： 浦上俊史
CPC classification number: G03B11/00 , G03B2205/0061
Abstract: 本发明涉及异物清除设备和包括异物清除设备的光学设备。一种异物清除设备，其检测在光学低通滤波器410处激励m阶振动模式的弯曲振动时所检测到的振动的时间相位和在光学低通滤波器410处激励(m+1)阶振动模式的弯曲振动时所检测到的振动的时间相位之间生成多大的差。然后，所述异物清除设备基于所检测到的时间相位差计算在主驱动操作中使用的主驱动参数。
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公开(公告)号：CN103326613A
公开(公告)日：2013-09-25
申请号：CN201310090979.1
申请日：2013-03-21
Applicant: 佳能株式会社
Abstract: 本发明公开了振动装置、具有振动装置的驱动装置和光学设备。一种振动装置包括：包含具有少于1000ppm的铅含量的压电材料并具有具有电极的电气机械能量转换元件的振动体；和向电气机械能量转换元件施加至少两个驱动电压并通过向振动体提供时间相位差并产生具有相互不同的次数的多个稳定波产生组合振动的控制单元，其中，控制单元改变至少两个驱动电压的电压振幅比和时间相位差中的至少一个，以改变组合振动的振幅分布。
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公开(公告)号：CN102681168A
公开(公告)日：2012-09-19
申请号：CN201210071383.2
申请日：2012-03-16
Applicant: 佳能株式会社
Inventor： 浦上俊史
CPC classification number: G03B11/00 , G03B2205/0061
Abstract: 本发明涉及异物清除设备和包括异物清除设备的光学设备。一种异物清除设备，其检测在光学低通滤波器410处激励m阶振动模式的弯曲振动时所检测到的振动的时间相位和在光学低通滤波器410处激励(m+1)阶振动模式的弯曲振动时所检测到的振动的时间相位之间生成多大的差。然后，所述异物清除设备基于所检测到的时间相位差计算在主驱动操作中使用的主驱动参数。
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公开(公告)号：CN1964436A
公开(公告)日：2007-05-16
申请号：CN200610138067.7
申请日：2006-11-07
Applicant: 佳能株式会社
IPC: H04N5/225
CPC classification number: G02B27/0006 , G03B17/14 , G03B17/28 , G03B19/12 , H04N5/2254
Abstract: 本发明提供一种包括用于去除光学构件表面所附异物的装置的摄像设备，该摄像设备能够轻松去除附着于滤光片表面的异物。保持低通滤光片的橡胶构件密封摄像传感器和低通滤光片，压电元件励振低通滤光片在光轴方向上的周缘部分，且低通滤光片受到绕与摄像光轴垂直的轴的转动力。
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公开(公告)号：CN111917973B
公开(公告)日：2022-07-12
申请号：CN202010390438.0
申请日：2020-05-08
Applicant: 佳能株式会社
Abstract: 本发明涉及一种图像稳定设备、图像稳定控制方法、摄像设备和存储介质。图像稳定设备包括：第一获得单元，用于获得摄像设备的姿势信息；确定单元，用于基于姿势信息来确定摄像设备中所包括的图像传感器的基准位置；以及计算单元，用于计算用于通过在与光轴相交的平面上使图像传感器的位置从基准位置起移动来进行图像稳定的校正量。基准位置在姿势信息表示摄像设备处于第一姿势的情况和姿势信息表示摄像设备处于第二姿势的情况之间是不同的。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN111741213B
公开(公告)日：2022-06-07
申请号：CN202010212465.9
申请日：2020-03-24
Applicant: 佳能株式会社
Inventor： 浦上俊史
Abstract: 本发明涉及一种摄像设备及其控制方法以及计算机可读介质。公开了一种具有通过控制图像传感器的位置来校正图像模糊的校正功能的摄像设备。该设备根据包括第一模式和第二模式的多个模式中的一个模式来控制校正功能。在第一模式中，图像传感器能够在第一距离内在与摄像光学系统的光轴垂直的第一方向上移动。在第二模式中，在摄像光学系统中的光圈的孔径大小大于或等于预定值的情况下，图像传感器能够在比第一距离短的第二距离内在第一方向上移动。
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公开(公告)号：CN102621690B
公开(公告)日：2015-06-10
申请号：CN201210021592.6
申请日：2012-01-29
Applicant: 佳能株式会社
CPC classification number: G02B27/0006 , B06B1/0276 , B06B2201/55 , H01L41/0933 , H01L41/0973 , H04N5/2171 , H04N5/23209 , H04N5/3696
Abstract: 本发明提供一种异物清除单元和光学设备。异物清除单元包括：光学构件，其被配置在光路中，呈矩形形状，并且设置有用于使光束通过的光学有效区域；以及压电元件，其包括压电构件以及形成在所述压电构件的表面上的驱动电极和传感器电极。所述压电元件在所述光学有效区域外部沿着所述光学构件的一个边贴着所述光学构件的表面。所述传感器电极以位于所述光学构件的被所述压电元件贴着的边的方向上的所述光学有效区域的范围内的方式形成在所述压电构件的表面上。
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公开(公告)号：CN102636873B
公开(公告)日：2014-10-29
申请号：CN201210028944.0
申请日：2012-02-09
Applicant: 佳能株式会社
Inventor： 浦上俊史
CPC classification number: G02B27/0006 , B08B7/02 , H01L41/00 , H04N5/2171
Abstract: 一种异物清除单元和具有异物清除单元的光学设备，该异物清除单元包括：矩形的光学构件，其被配置在光路上，其中，在所述条状光学构件中设置光束穿过的光学有效区域；压电装置，其被设置到所述光学有效区域的外侧的所述光学构件的边；以及振动抑制构件，其被设置到没有设置所述压电装置的所述光学构件的边。所述振动抑制构件被设置到所述光学构件，以使得设置了所述振动抑制构件的所述光学构件的边的端面没有从所述振动抑制构件的端面突出。
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公开(公告)号：CN102621690A
公开(公告)日：2012-08-01
申请号：CN201210021592.6
申请日：2012-01-29
Applicant: 佳能株式会社
CPC classification number: G02B27/0006 , B06B1/0276 , B06B2201/55 , H01L41/0933 , H01L41/0973 , H04N5/2171 , H04N5/23209 , H04N5/3696
Abstract: 本发明提供一种异物清除单元和光学设备。异物清除单元包括：光学构件，其被配置在光路中，呈矩形形状，并且设置有用于使光束通过的光学有效区域；以及压电元件，其包括压电构件以及形成在所述压电构件的表面上的驱动电极和传感器电极。所述压电元件在所述光学有效区域外部沿着所述光学构件的一个边贴着所述光学构件的表面。所述传感器电极以位于所述光学构件的被所述压电元件贴着的边的方向上的所述光学有效区域的范围内的方式形成在所述压电构件的表面上。
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公开(公告)号：CN101819324A
公开(公告)日：2010-09-01
申请号：CN201010146520.5
申请日：2008-07-08
Applicant: 佳能株式会社
Inventor： 浦上俊史
CPC classification number: G02B27/0006 , G02B7/006 , G03B19/12 , H04N5/2171
Abstract: 用于除去如灰尘等异物的驱动装置及摄像设备。提供一种即使在采用有助于电路小型化的H桥电路作为压电元件的控制电路时也能可靠地检测被振动构件的振动状态的驱动装置及包括该驱动装置的摄像设备。在该驱动装置中，包括位于第一面的第一驱动电极、第三驱动电极、第二接地电极和振动检测电极以及位于第二面的第二驱动电极和第一接地电极的单个压电构件被安装到用作被振动构件的光学低通滤波器，以使光学低通滤波器振动。此外，振动检测电极用于检测光学低通滤波器的振动状态。
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