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公开(公告)号：CN110865325B
公开(公告)日：2022-03-04
申请号：CN201911123678.8
申请日：2019-11-17
Applicant: 北京东方计量测试研究所
IPC: G01R35/00
Abstract: 本发明公开了一种瞬断测试仪校准装置及校准方法，属于瞬断测试仪校准技术领域，包含瞬断判定电阻参数校准和瞬断时间测量参数校准两部分；通过程控继电器把RH系列或者RL系列电阻接入或者接出电路，可实现高阻源以及低阻源在输出范围内阻值的连续可调；瞬断时间测量参数校准采用标准信号发生电路和高速场效应管相结合的方法产生瞬断时间标准量值，通过控制高速场效应管的通断状态及通断持续时间，可模拟瞬断状态，实现对瞬断测试仪的瞬断时间测量参数的校准。采用标准信号发生电路与程控电阻源结合方案，程控电阻源实现对瞬断判定电阻的校准，标准信号发生器和高速场效应管结合实现瞬断时间测量的校准。
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