公开(公告)号：CN118165271A

公开(公告)日：2024-06-11

申请号：CN202211544622.1

申请日：2022-12-04

Applicant: 北京振兴计量测试研究所

Inventor： 郭靖 ,  刘岩 ,  孙红胜 ,  王加朋 ,  杨旺林 ,  杜继东 ,  赵宁 ,  徐坚 ,  朱才镇 ,  翟思婷 ,  张鑫 ,  平托 ,  崔庆新

IPC: C08G77/58 ,  C09D183/14 ,  C09D7/61 ,  C09D5/18

Abstract: 本发明提供一种耐高温高发射率涂层及其成型方法，其组成包括高发射率高吸收填料、耐高温聚合物基体、添加剂和溶剂，其中，所述耐高温聚合物基体为多杂原子掺杂有机硅树脂，其主链为Si‑O‑Si结构，所述杂原子为非金属元素和/或金属元素，所述杂原子位于主链上。本发明可以提高涂层的固化温度，使得涂层具有更高的聚合程度和交联程度，极大降低了真空条件下涂层中小分子的挥发放气，避免了涂层对光学镜组的污染。

公开(公告)号：CN118126559A

公开(公告)日：2024-06-04

申请号：CN202211544688.0

申请日：2022-12-04

Applicant: 北京振兴计量测试研究所

Inventor： 郭靖 ,  刘岩 ,  孙红胜 ,  王加朋 ,  杨旺林 ,  杜继东 ,  赵宁 ,  徐坚 ,  朱才镇 ,  翟思婷 ,  张鑫 ,  平托 ,  崔庆新

IPC: C09D5/32 ,  C09D183/04

Abstract: 本发明提供一种可喷涂超黑涂层及其成型方法，其组成包括填料、聚合物基体、添加剂和溶剂，其中，所述填料为选用微纳结构碳材料作为原料，通过原位碳纳米管表面改性所形成的超黑材料，并通过溶剂分散的方式形成悬浮分散液。本发明极大提高了超黑涂层吸收能力，为碳复合结构材料性能调控和超黑涂料应用提供了充分的条件。

公开(公告)号：CN116358836A

公开(公告)日：2023-06-30

申请号：CN202111617230.9

申请日：2021-12-27

Applicant: 北京振兴计量测试研究所

Inventor： 郭靖 ,  孙红胜 ,  王加朋 ,  张鑫 ,  翟思婷 ,  张玉国 ,  邱超

IPC: G01M11/02 ,  H04N17/02

Abstract: 本发明提供一种最小可分辨对比度测试用靶标和测试方法，所述的靶标包括基底和对比度调节镀层，所述的基底为对比度调节镀层提供支撑，所述的对比度调节镀层主体为纳米薄膜镀层，在所述的纳米薄膜镀层上刻蚀图案，形成刻蚀图案部分和纳米薄膜镀层部分的透过率差异，形成对比度。本发明使用普通积分球就可以实现设备最小可分辨对比度的测试；通过最小可分辨对比度测试方法，形成一系列不同对比度的靶标，便于形成标准化测试流程，从而摆脱现有技术中必须使用双积分球法来进行对比度测试的缺点，价格便宜，难度低。

公开(公告)号：CN114689181A

公开(公告)日：2022-07-01

申请号：CN202011576167.4

申请日：2020-12-28

Applicant: 北京振兴计量测试研究所

Inventor： 邱超 ,  孙红胜 ,  王加朋 ,  杨旺林 ,  张玉国 ,  杜继东 ,  翟思婷 ,  赵丹

IPC: G01J5/48 ,  G01J5/08

Abstract: 本发明提供了一种多光谱温度测量装置、系统及其测量方法，装置包括：物镜单元收集待测目标中固体颗粒的第一辐射光束后提供至辐射衰减单元；辐射衰减单元对所述第一辐射光束进行衰减后得到第二辐射光束并提供给狭缝机构；狭缝机构对所述第二辐射光束的角度进行限位以得到第三辐射光束并将所述第三辐射光束照射到凹面光栅上；凹面光栅对所述第三辐射光束进行光谱调制以获得光谱辐射；线阵探测器接收所述光谱辐射并根据所述光谱辐射输出信号值至处理单元；处理单元根据所述信号值获取待测目标的光谱辐射能量值及目标温度。该装置结构简单，没有活动部件，具有较高的可靠性，同时减少了不必要的光学元件，增强了系统的能量利用率，减小了系统的体积。

公开(公告)号：CN114543599A

公开(公告)日：2022-05-27

申请号：CN202011327193.3

申请日：2020-11-24

Applicant: 北京振兴计量测试研究所

Inventor： 杜继东 ,  吴柯萱 ,  翟思婷 ,  魏树弟 ,  孙广尉 ,  张鑫 ,  邱超

IPC: F42B15/01

Abstract: 本文公开了一种激光目标模拟测量装置及测量方法，所述装置包括激光回波模拟源、激光测量探测器和控制系统；所述激光回波模拟源用于在所述控制系统的控制下发射预设功率的激光脉冲；所述激光测量探测器包括激光处理组件和激光参数测量组件；所述激光处理组件用于接收所述激光回波模拟源发射的激光脉冲，对所述激光脉冲进行汇聚处理，以形成汇聚光源；所述激光参数测量组件用于接收所述汇聚光源，进行光电信号转换获取电信号波形，将所述电信号波形发送给所述控制系统；所述控制系统用于接收所述激光参数测量组件发送的电信号波形，并基于量值溯源方法获得所述激光脉冲的参数，通过本发明能实现对激光脉冲参数的快速定量化测量。

公开(公告)号：CN114353967A

公开(公告)日：2022-04-15

申请号：CN202011055292.0

申请日：2020-09-30

Applicant: 北京振兴计量测试研究所

Inventor： 邱超 ,  孙红胜 ,  王加朋 ,  吴柯萱 ,  翟思婷 ,  郭亚玭 ,  杜继东

IPC: G01J5/80 ,  G01J5/53

Abstract: 本发明提供一种低温真空低温真空辐射温度参数校准系统及校准方法，其中，所述低温真空辐射温度参数校准系统包括：真空冷舱，用于模拟低温真空环境；红外温差辐射发射装置，其对应所述红外温差辐射发射装置设于所述真空冷舱内，用于发出具有设定温差的第一红外辐射；准直光学装置，其设于所述真空冷舱内，用于接收所述第一红外辐射并将所述第一红外辐射准直处理后发射至目标红外载荷，以供所述目标红外载荷进行噪声等效温差校准和/或最小可分辨温差校准和/或最小可探测温差校准。解决了在轨空间的辐射温度参数难以校准，测试数据准确度无法评定，使得红外载荷低温红外目标探测性能测试产生了隐患的问题。