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公开(公告)号：CN114397483A
公开(公告)日：2022-04-26
申请号：CN202111516640.4
申请日：2021-12-13
Applicant: 北京无线电计量测试研究所
Abstract: 本发明公开一种温补晶振调试夹具，包括：调试基座、调试电路板、匹配电阻、匹配电容和调试探针，调试基座上放置需调试电参数的温补晶振；调试基座有十个端口；对应该十个端口的探针插入调试电路板的中心位置上对应的十个过孔内并焊接固定；调试电路板，用于放置安装匹配电容、匹配电阻和调试基座，调试电路板的中心有十个过孔，将调试基座十个端口的探针插入调试电路板对应的十个过孔内并焊接固定；调试电路板的边缘有七个过孔，该七个过孔焊接固定调试探针，调试电路板上的七个端口通过导线和调试基座的相应端口进行电气连接，实现温补晶振的调试；匹配电阻和匹配电容，焊接到所述调试电路板上；调试探针焊接到调试电路板上。
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公开(公告)号：CN105572429B
公开(公告)日：2019-12-20
申请号：CN201510975344.9
申请日：2015-12-22
Applicant: 北京无线电计量测试研究所
Abstract: 本发明实施例公开了一种晶体振荡器的固定装置及监测系统。该晶体振荡器的固定装置是由底座、加电测试电路、固定基板和固定压条依次构成；其中，所述底座，用于安装加电测试电路、固定基板和固定压条；所述加电测试电路，用于对晶体振荡器进行加电，使所述晶体振荡器产生相应的频率；所述固定基板，用于将所述晶体振荡器固定在所述底座上；所述固定压条，用于将所述晶体振荡器固定在所述固定基板上。应用本发明实施例提供的晶体振荡器的加固装置，在该固定装置中加入了多路测试电路，使得该晶体振荡器的固定装置在进行振动试验时，不仅可以刚性的固定晶体振荡器，而且可以批量的对晶体振荡器进行实时地监测。
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公开(公告)号：CN108169651A
公开(公告)日：2018-06-15
申请号：CN201711174137.9
申请日：2017-11-22
Applicant: 北京无线电计量测试研究所
IPC: G01R31/26
Abstract: 本申请实施例提供一种时钟晶体振荡器检测方法，包括整体检测过程、开封检测过程，所述整体检测过程包括以下步骤：用显微镜外观检查；X光检查、电流电压特征测试、密封测试、颗粒碰撞试验、超声扫描显微镜检测；所述开封检测包含以下步骤：显微镜检查、扫描电镜晶片检测、晶片功能测试、金相显微镜芯片检测、芯片功能测试、扫描电镜芯片内部检测步骤。此检测流程按照先非破坏性检测后破坏性检测的方法，缩短了失效检测步骤，提高了失效检测的效率和准确性。通过此方法的应用，可以达到在生产、试验和使用过程中提高器件质量和可靠性的目的。
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公开(公告)号：CN105522281B
公开(公告)日：2018-04-03
申请号：CN201610018285.0
申请日：2016-01-12
Applicant: 北京无线电计量测试研究所
IPC: B23K26/362 , B23K26/0622 , B23K26/046 , B23K26/402 , B23K26/70
Abstract: 本发明公开一种石英晶体的激光刻蚀加工方法，具体包括如下步骤：选择激光、准备控制软件、设计加工图纸、激光刻蚀、加工后处理和检测，同时，结合对各步骤条件的限定，设计出了一种加工石英晶体的方法，该加工方法可有效的将石英晶体加工成各种形状，且可对石英晶体进行减薄加工，减薄后的石英晶体厚度薄，对应的基频频率高，且加工后的石英晶体强度好，该加工方法简单，加工精度高，对石英晶体加工的尺寸精度可控制在±5μm内。
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公开(公告)号：CN119995550A
公开(公告)日：2025-05-13
申请号：CN202411967082.7
申请日：2024-12-30
Applicant: 北京无线电计量测试研究所
IPC: H03H9/19 , H03H3/02 , H10N30/088
Abstract: 本发明涉及谐振器技术领域，公开一种微小型高稳石英谐振器及其制备方法，微小型高稳石英谐振器包括基座、金属盖板和石英振子，基座的一面设置有至少两个引出端，另一面形成有容纳槽，容纳槽的槽底设置有至少两个引出平台，每个引出平台与一个引出端相连；石英振子位于容纳槽中，石英振子包括石英晶片和设置在石英晶片上的金属电极，金属电极具有两个延伸至石英晶片边缘的连接端，每个连接端通过导电胶粘接于一个引出平台，石英晶片的长度为1.9mm‑2.1mm，宽度为1.2mm‑1.4mm；金属盖板密封盖设在基座设置容纳槽的一面。在保证小尺寸的同时降低其在工作温度范围内的频率跳点，有利于提升应用电路频率温度稳定性。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN119966350A
公开(公告)日：2025-05-09
申请号：CN202411970680.X
申请日：2024-12-30
Applicant: 北京无线电计量测试研究所
Abstract: 本发明属于晶体振荡器技术领域，并具体公开了一种分压控制的温补晶体振荡器及其分压方法，所述振荡器包括：分压电阻器、表贴温补晶振和分/倍频芯片；其中，所述分压电阻器，用于分取从电源端传输至所述表贴温补晶振之间的电压，使所述表贴温补晶振的工作电压在额定电压允许公差内；所述表贴温补晶振，用于在所述分压电阻器分取电源端的电压后剩余的电压下工作，以输出稳定的频率并传输至所述分/倍频芯片；所述分/倍频芯片，用于在电源端输出的电压下工作，以对接收的稳定的频率进行分频或倍频，以对频率进行扩展或对方波进行整形。
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公开(公告)号：CN118174677A
公开(公告)日：2024-06-11
申请号：CN202410426801.8
申请日：2024-04-10
Applicant: 北京无线电计量测试研究所
Abstract: 本发明实施例公开了一种带阻滤波器，包括：主线路，电信号通过主线路流过带阻滤波器；谐振器组件，谐振器组件包括多个晶体谐振器，各个晶体谐振器的第一接线端与主线路连接，各个晶体谐振器的第二接线端接地；电感组件，电感组件包括多个电感，各个电感的第一接线端与主线路连接，各个电感的第二接线端接地，对于任意一个晶体谐振器的第一接线端，均有至少一个电感的第一接线端与其连接；电容组件，电容组件包括多个电容，各个电容串联安装于主线路，任意两个相邻的晶体谐振器的第一接线端之间均设有一个电容。通过本发明，解决了相关技术中的带阻滤波器的滤波精度不佳的技术问题。
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公开(公告)号：CN117206211A
公开(公告)日：2023-12-12
申请号：CN202310680355.9
申请日：2023-06-09
Applicant: 北京无线电计量测试研究所
IPC: B07C5/344
Abstract: 本发明提供了一种提高时钟振荡器可靠性的筛选方法，步骤包括：对一批时钟振荡器的每只产品分别测试和记录电性能参数值；对每只时钟振荡器按照筛选试验的要求进行多次筛选试验；再次测试并记录时钟振荡器的电性能参数，并剔除不合格产品；完成所有筛选试验，对比频率准确度总变化，剔除频率准确度总变化不合格产品；进行该批次时钟振荡器的批次间的频率准确度参数一致性计算，若满足则提交该批次。此方法可以筛选出并剔除一致性差的时钟振荡器，提高了整批时钟振荡器的可靠性。
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公开(公告)号：CN114487594A
公开(公告)日：2022-05-13
申请号：CN202111533962.X
申请日：2021-12-15
Applicant: 北京无线电计量测试研究所
IPC: G01R23/02
Abstract: 本发明的一个实施例公开了一种表贴晶振频率跳点的优化方法，包括：S10：将表贴晶振的电极设计为长方形大电极，测试其工作温度范围内的频率跳点；S20：将表贴晶振的电极设计为长方形中电极，测试其工作温度范围内的频率跳点；S30：将表贴晶振的电极设计为长方形小电极，测试其工作温度范围内的频率跳点。缩短了设计周期，优化了表贴晶振频率跳点指标。
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公开(公告)号：CN114414910A
公开(公告)日：2022-04-29
申请号：CN202111533907.0
申请日：2021-12-15
Applicant: 北京无线电计量测试研究所
Abstract: 本发明的一个实施例公开了一种表贴晶振的可靠性筛选方法，包括：对表贴晶振进行电性能筛选测试，获取初始测试数据；对所述表贴晶振进行力学筛选测试；对所述表贴晶振进行热学筛选测试；对所述表贴晶振进行常温电性能参数终测筛选测试；对所述表贴晶振进行高低温测试筛选测试；对表贴晶振进行外观检查非破坏性筛选测试；根据上述筛选测试结果与初始测试数据的比对结果，筛选出符合要求的表贴晶振。
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