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公开(公告)号：CN113688580B
公开(公告)日：2024-03-08
申请号：CN202110826252.X
申请日：2021-07-21
IPC: G06F30/28 , G06F30/18 , G06F113/08 , G06F113/14 , G06F119/14
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公开(公告)号：CN113688580A
公开(公告)日：2021-11-23
申请号：CN202110826252.X
申请日：2021-07-21
IPC: G06F30/28 , G06F30/18 , G06F113/08 , G06F113/14 , G06F119/14
Abstract: 本发明公开了一种气液两相流相界面密度计算方法、装置、设备和存介质，针对现有的采用代数相界面密度模型或相界面密度输运方程计算相界面密度的方法存在精度差、适用性差的问题，通过引用对不同的通道结构和流动形式开发的大量的漂移速度模型，在漂移速度模型完备性高、精度高的前提下，利用漂移速度模型获得的相界面密度模型具有较高的精度和对不同通道类型、流型的适用性，对水平或竖直的圆管及棒束通道内的弹状流、搅混流、环状流等复杂流型均具有较好的适用性。克服了代数模型过渡简化精度差与相界面运输运输模型适用性差的缺陷。
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公开(公告)号：CN112082650A
公开(公告)日：2020-12-15
申请号：CN202010919141.9
申请日：2020-09-04
Applicant: 哈尔滨工程大学
Abstract: 本发明提供一种白光干涉测量中光源纹波引入杂散峰的消除方法，在现有的白光干涉测试装置中附加/集成/复用辅助干涉仪，通过辅助干涉仪同步获取光源纹波信息，并设计相应的纹波杂散峰消除算法，将纹波引入的杂散峰在测试结果中消除，还原被杂散峰遮盖的信息。该方法对原有的白光干涉光路改动小，所设计的消除算法简单，具备处理速度快、杂散峰消除效果好等优点，优于目前白光干涉测量领域的纹波消除方法，并且可以广泛适用于光学相干域偏振分析仪、光学相干域反射计等白光干涉测试仪器中。
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公开(公告)号：CN113175894A
公开(公告)日：2021-07-27
申请号：CN202110428788.6
申请日：2021-04-21
Applicant: 哈尔滨工程大学
Abstract: 本发明公开了一种物体表面三维形貌白光干涉测量装置及方法，本发明装置在Linnik型干涉仪的基础上，添加了第四透镜组(6)、第一面阵相机(13)以及六维位移台(17)组成差分探测系统。借助校准样品对第一面阵相机(13)及第四透镜组(6)进行精密六维调节，实现第一面阵相机(13)与第二面阵相机(14)亚像素级别的对准，并对采集得到干涉信号进行差分运算处理，消除信号中的直流分量对测量结果的影响，提升白光干涉信号的信噪比。本发明利用基于白光干涉信号的面阵差分探测实现了物体表面三维形貌的高精度测量。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN112082735A
公开(公告)日：2020-12-15
申请号：CN202010919139.1
申请日：2020-09-04
Applicant: 哈尔滨工程大学
IPC: G01M11/00
Abstract: 本发明提供一种基于Sagnac结构的光纤敏感环双向同步测量装置及方法，包括低偏宽谱光源模块、信号分离与提取模块、Sagnac环、差分解调干涉仪、偏振串扰记录及处理模块，其特征是：在传统的测试装置中引入Sagnac结构，利用不同偏振方向的光，对光纤敏感环的正向和反向同步测量，采用差分扫描的解调干涉仪，可同时获得光纤敏感环中任意一点的双向测量结果。本发明结构简单、新颖，正向和反向测量差异性非常小，能够有效排除测试中伪干涉峰的影响，提高了测试效率，对光纤敏感环的互易性测量、评估，甚至优化光纤敏感环绕制工艺具有重大意义。
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公开(公告)号：CN112082651A
公开(公告)日：2020-12-15
申请号：CN202010919156.5
申请日：2020-09-04
Applicant: 哈尔滨工程大学
Abstract: 本发明提供一种用于全保偏Sagnac闭合光路装配的偏振特性测量方法：将用于全保偏Sagnac闭合光路装配的Y波导和保偏光纤环先后连接成非闭合光路和闭合光路，并分别接入光学相干域偏振测量仪中进行测量，结合二阶偏振串扰效应，可以获得闭合光路中所有连接点的一阶偏振串扰、保偏光纤环全长度的分布式偏振串扰和Y波导芯片消光比等全部偏振特性信息。该方法实现了全保偏Sagnac闭合光路装配过程中偏振特性的测量，可广泛用于闭合光路中所有光学器件和连接点的分布式偏振串扰的监测和评价，对于高性能干涉型光学传感器的研制具有重要意义。
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公开(公告)号：CN116202744A
公开(公告)日：2023-06-02
申请号：CN202310249907.0
申请日：2023-03-15
Applicant: 哈尔滨工程大学
IPC: G01M11/02
Abstract: 本发明公开了一种超宽光谱范围分布式光学偏振串音的测量装置，所述测量装置包括超宽波段光源模块、光程调制与解调模块、信号检测与处理模块和待测器件，其中：超宽波段光源模块提供具有不同中心波长的输入光信号，它们从待测器件的两端分别注入，并从待测器件出射，经过超宽波段光源模块后被光程调制与解调模块所接收；基于白光干涉测量原理，通过调节光程调制与解调模块的光程差，同时获得超宽波段白光干涉信号，并将其转换为电信号；信号检测与处理模块根据电信号计算得到与超宽波段光源模块相对应的待测器件的超宽波段偏振特性。该装置能够有效拓宽光学器件分布式偏振串音的测量波长范围，有效提高测量效率，降低测量装置成本。
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公开(公告)号：CN113739708B
公开(公告)日：2022-07-15
申请号：CN202110959032.4
申请日：2021-08-20
Applicant: 哈尔滨工程大学
IPC: G01B11/06 , G01B11/24 , G01B9/02018
Abstract: 本发明公开了一种双路白光干涉差动测量装置及方法，包括宽谱光源模块、第一光程调制与解调模块和双路差动光强检测与记录模块；宽谱光源模块提供输入光信号；第一光程调制与解调模块接收输入光信号，利用白光干涉原理及双路差动探测原理，采用构建光程差的方法提供两路白光干涉信号并转换为电信号；双路差动光强检测与记录模块接收两路电信号，经差动探测后得到差动响应信号，根据差动响应信号得到绝对参考位置和测量位置。本发明定位精度高、灵敏度高、信号解调便捷，可广泛应用于微纳器件厚度及表面形貌等信息的定量测量。
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公开(公告)号：CN112082736A
公开(公告)日：2020-12-15
申请号：CN202010919234.1
申请日：2020-09-04
Applicant: 哈尔滨工程大学
IPC: G01M11/00
Abstract: 本发明提供一种基于多功能光开关的保偏光纤环偏振串扰双向测量装置及方法，包括宽谱光源模块、双向测量切换模块、待测保偏光纤环、偏振串扰检测模块，使用一个光学起偏和光学检偏功能集成的2×2光开关作为双向测量切换模块的核心部件，通过控制其分别处于通电和断电的两种状态，来实现正向和反向测量的切换。两个单模光纤端口分别与宽谱光源模块和偏振串扰检测模块连接，两个保偏光纤端口与待测保偏光纤环连接，本发明实现了正反向传输光信号共用起偏和检偏器件，能降低正反向测量差异，测量准确性和可靠性高。该模块体积小、功能全，极大简化了测量光路的复杂程度。可广泛用于保偏光纤环的偏振串扰双向测量、互易性评估以及绕环对称性评价。
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