光学和电学第二路径排斥
    18.
    发明公开

    公开(公告)号:CN114729886A

    公开(公告)日:2022-07-08

    申请号:CN202080060546.X

    申请日:2020-06-26

    Abstract: 本发明描述用于减小或移除第二路径光子和/或电荷载体对集成器件的储存分格的影响以提高噪声性能并因此改良样本分析的技术。一些实施例涉及诸如包括光学屏障的光学排斥技术,该光学屏障被定位为阻止至少一些光子到达储存分格。一些实施例涉及诸如包括电学屏障的电学排斥技术,该电学屏障被配置为阻止至少一些电荷载体沿至少一个第二路径到达储存分格。一些实施例涉及一种集成器件,其中至少一个储存分格相对于光检测器定形和/或定位,以便接收一些电荷载体(例如,荧光发射电荷载体)和/或光子并阻碍接收其他电荷载体(例如,噪声电荷载体)和/或光子。

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