対象物質分析チップ
    11.
    发明专利
    対象物質分析チップ 审中-公开
    目标物质的分析芯片

    公开(公告)号:JP2016200599A

    公开(公告)日:2016-12-01

    申请号:JP2016130157

    申请日:2016-06-30

    Abstract: 【課題】小型で、短時間且つ少ない労力で対象物質を分析可能な対象物質分析チップを提供する。 【解決手段】対象物質分析チップは、第1可撓性基板1、第2可撓性基板2、第3基板3を有する。第1可撓性基板1と第2可撓性基板2との接着面に、帯状の流路用非接着領域11が形成され、流路用非接着領域11の一部に帯幅が広がった抽出室用非接着領域5が形成されている。第1可撓性基板1は、流路用非接着領域11と接する貫通孔7を有し、第2可撓性基板2と第3基板3の接着面に、シャッター用非接着領域12bが、流路用非接着領域11と上下で交差するように、抽出室用非接着領域5より貫通孔7から遠い側に帯状に形成され、第1可撓性基板1と第2可撓性基板2とは、シャッター用非接触領域12bと接するように貫通する圧力供給口18bを有し、抽出室用非接着領域5上部に、対象物質と結合する磁性体粒子が配置されている。 【選択図】図1

    Abstract translation: 紧凑,在很短的时间和较少的努力提供可分析的物质的分析芯片的目标物质。 的物质分析用芯片具有第一挠性基板1,第二柔性基板2,第三基板3。 第一第二柔性基板2的柔性基板第一粘合面,形成有用于所述非粘接区域11的带状流路,流路的带宽非粘结区域11的一部分被加宽 非粘结区域5形成为提取室。 第一挠性基板1具有通孔在与所述流路未粘合区域11接触7,第二挠性基板2的粘接面与所述第三基板3,快门未粘合区域12b为, 以与垂直和流路非粘结区域11相交,形成为条带从所述非粘接区域5用于酿造室从通孔7到更远的一侧,第一柔性基板1和第二柔性基板2 且具有贯通与快门的非接触区域12b相接触的压力供给口18b,在非粘接区域5顶部提取室,其靶材料结合磁性粒子被布置。 点域1

    マイクロチューブ
    14.
    发明专利

    公开(公告)号:JPWO2018181268A1

    公开(公告)日:2020-02-06

    申请号:JP2018012339

    申请日:2018-03-27

    Inventor: 麻生川 稔

    Abstract: 二次感染のリスクを低減することが可能なマイクロチューブを提供する。マイクロチューブは、試料受容部と、蓋部と、クロマトグラフィーストリップを収容するストリップ収容部とを有する。クロマトグラフィーストリップはストリップ収容部の中空部に収容される。マイクロチューブは、試料受容部と蓋部とを接合した状態において、ストリップ収容部の中空部と記試料受容部の内部スペースが密閉状態で連通可能に構成される。

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