拾光器
    15.
    发明授权

    公开(公告)号:CN1805028B

    公开(公告)日:2011-07-13

    申请号:CN200510048898.0

    申请日:2005-09-29

    CPC classification number: G11B7/1365 G11B7/1369 G11B2007/0006

    Abstract: 本发明提供一种波片及拾光器,在可从多种光盘读出数据的光盘装置中,即使在光盘基材中存在大的双折射,也可减少信号品质的恶化。本发明的波片(6),被配置在包含具有某个波长λ的光线的多个波长的光线往返通过的光路上,具备包含光学轴的方位互不相同的第1区域D1及第2区域D2的被二维排列的多个双折射区域。当设波片(6)对具有波长λ的光线的延迟为Δ1时,满足关系240°≤Δ1≤300°。

    光盘装置
    16.
    发明授权

    公开(公告)号:CN100524481C

    公开(公告)日:2009-08-05

    申请号:CN200510067656.6

    申请日:2005-04-25

    Abstract: 本发明提供一种即便对具有较大的双折射的光盘基体,检测光量也不会成为0、能够可靠地进行信号的读取以及光盘的控制的光盘装置。该光盘装置,具备发出光的光源、使光会聚到光盘的信号面上的物镜、使由光盘反射的光衍射的偏振分光器、检测由偏振分光器衍射出的光的光检测器、以及配置在光盘和偏振分光器之间的波长板。波长板,具备包括同一入射直线偏振光产生的双折射相位差相互不同的第一及第二区域的二维地排列的多个双折射区域,包括第一及第二区域的多个双折射区域对应于光的入射位置使上述光产生不同的相位差。

    光信息处理装置和光学元件

    公开(公告)号:CN1213415C

    公开(公告)日:2005-08-03

    申请号:CN99123549.5

    申请日:1999-11-09

    CPC classification number: G11B7/139 G11B7/1353

    Abstract: 一种光盘装置,从半导体激光器向光盘的光束来路中物镜的开口大于从光盘开始的回路中物镜的开口,且在记录和重放时可改变该开口。由于光在高开口下被聚焦在光盘上,所以记录重放能力提高,同时由于在低开口下进行来自光盘的反射光的检测,所以也不损失相对于倾斜和散焦的裕量,同时由于可除去反射光中不需要的信号成分,所以也可提高信息信号的S/N,以实现高性能的光盘装置。可获得不损失重放品质的记录密度和记录品质高的光盘装置。

    光头装置、全息光学元件、光集成元件、光信息处理装置以及信号检测方法

    公开(公告)号:CN101981622A

    公开(公告)日:2011-02-23

    申请号:CN201080001314.3

    申请日:2010-03-18

    CPC classification number: G11B7/1353 G11B7/0906 G11B7/0909 G11B7/0943

    Abstract: 光头装置包括对光束进行衍射的全息光学元件(20);全息光学元件(20),具有第一衍射区域(261)和第二衍射区域(262),第一衍射区域(261)和第二衍射区域(262)被配置在区域划分线的两侧,该区域划分线通过聚光光学系统的光轴中心且向光盘(10)的径向方向延伸,在第一衍射区域(261)形成有光栅图案,该光栅图案产生具有第一波面且入射到第一受光区域(451a)和第二受光区域(451b)的衍射光,在第二衍射区域(262)形成有光栅图案,该光栅图案产生具有第二波面且入射到第三受光区域(452a)和第四受光区域(452b)的衍射光,第一波面以及第二波面分别具有光盘(10)的径向方向的第一慧差以及第二慧差,第一慧差以及第二慧差的轴远离聚光光学系统的光轴中心。

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