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公开(公告)号：CN109683217B
公开(公告)日：2022-11-15
申请号：CN201811223259.7
申请日：2018-10-19
Applicant: 株式会社三丰
Abstract: 本发明提供一种焦距可变透镜设备，该焦距可变透镜设备包括：在同一光轴上排列的物镜和成像透镜；前侧透镜系统和后侧透镜系统，其设置在光轴上的物镜和成像透镜之间的区间中，并根据输入的驱动信号改变折射率；以及光阑，其设置在光轴上的前侧透镜系统和后侧透镜系统之间的区间中。
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公开(公告)号：CN108254814B
公开(公告)日：2021-08-20
申请号：CN201711443370.2
申请日：2017-12-27
Applicant: 株式会社三丰
IPC: G02B3/14
Abstract: 一种可变焦距透镜设备，包括透镜系统，其中折射率响应于输入驱动信号而改变；场透镜，其布置在与所述透镜系统相同的光轴上；图像检测器，其通过所述透镜系统和所述场透镜来检测被测对象的图像；脉冲照明器，其基于输入发光信号来提供所述被测对象的脉冲照明；温度传感器，其检测所述透镜系统内部的温度信息；以及控制器，其在基于所述温度信息校正所述发光信息的定时之外，还输出所述驱动信号和所述发光信号。
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公开(公告)号：CN107525463B
公开(公告)日：2020-10-16
申请号：CN201710458539.5
申请日：2017-06-16
Applicant: 株式会社三丰
IPC: G01B9/02
Abstract: 本发明提供一种光干涉测定装置和光干涉测定方法。提供一种能够将来自测定对象物的不与光轴垂直的表面部分的反射光取入到光学系统的光干涉测定装置。具备：光源，其射出光；干涉物镜，其具备参考镜和分束器，其中，该参考镜配置在参考光路上，该分束器将入射的光沿所述参考光路和测定光路分支，并且输出将被参考镜反射的反射光和被在测定光路上配置的测定对象物反射的反射光合成得到的合成光；摄像单元，其拍摄由合成光成像得到的图像；以及光圈，其能够在干涉物镜与光源及摄像单元之间的光路上沿干涉物镜的光轴方向移动。
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公开(公告)号：CN107421443B
公开(公告)日：2020-10-13
申请号：CN201710368794.0
申请日：2017-05-23
Applicant: 株式会社三丰
Abstract: 一种测定系统以及调整用设定值的切换方法，在利用一台装置实现多个特殊测定的同时易于调整与光学滤光片相应的设定值。测定系统(1)具备：装卸部(153a～153c)，多个滤光片模块(50、70)中的一个滤光片模块以能够装卸的方式安装在装卸部，多个滤光片模块各自具有使各不相同的特殊光透过的光学滤光片；确定部(222)，其对在装卸部(153a～153c)安装的一个滤光片模块的光学滤光片进行确定；以及设定值切换部(224)，其根据由确定部(222)确定的确定光学滤光片来切换使用确定光学滤光片进行测定时的调整用设定值。
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公开(公告)号：CN106199930B
公开(公告)日：2020-05-12
申请号：CN201610344887.5
申请日：2016-05-23
Applicant: 株式会社三丰
IPC: G02B13/22
Abstract: 提供能够抑制部件数量的增加并且能够实现高精度光轴对准的远心光学装置。本发明的远心光学装置的特征在于其设置有：第一远心透镜面，其设置在物体侧；第二远心透镜面，其设置在像侧并且与所述第一远心透镜面共用焦点位置；和光路变更部，其在所述第一远心透镜面和所述第二远心透镜面之间设置在位于中心定位在所述焦点位置的光通过区域的外侧的外侧区域，所述光路变更部改变光路，从而防止入射至所述外侧区域的光束用于成像。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN109683217A
公开(公告)日：2019-04-26
申请号：CN201811223259.7
申请日：2018-10-19
Applicant: 株式会社三丰
CPC classification number: G02B7/102 , G02B3/14 , G02B9/04 , G02B13/22 , G02F1/29 , H04N5/2254 , G02B26/004
Abstract: 本发明提供一种焦距可变透镜设备，该焦距可变透镜设备包括：在同一光轴上排列的物镜和成像透镜；前侧透镜系统和后侧透镜系统，其设置在光轴上的物镜和成像透镜之间的区间中，并根据输入的驱动信号改变折射率；以及光阑，其设置在光轴上的前侧透镜系统和后侧透镜系统之间的区间中。
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公开(公告)号：CN107525463A
公开(公告)日：2017-12-29
申请号：CN201710458539.5
申请日：2017-06-16
Applicant: 株式会社三丰
IPC: G01B9/02
Abstract: 本发明提供一种光干涉测定装置和光干涉测定方法。提供一种能够将来自测定对象物的不与光轴垂直的表面部分的反射光取入到光学系统的光干涉测定装置。具备：光源，其射出光；干涉物镜，其具备参考镜和分束器，其中，该参考镜配置在参考光路上，该分束器将入射的光沿所述参考光路和测定光路分支，并且输出将被参考镜反射的反射光和被在测定光路上配置的测定对象物反射的反射光合成得到的合成光；摄像单元，其拍摄由合成光成像得到的图像；以及光圈，其能够在干涉物镜与光源及摄像单元之间的光路上沿干涉物镜的光轴方向移动。
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公开(公告)号：CN103307969B
公开(公告)日：2017-03-01
申请号：CN201310079999.9
申请日：2013-03-13
Applicant: 株式会社三丰
IPC: G01B9/02
CPC classification number: G01B9/02075 , G01B9/02007 , G01B9/02058 , G01B9/0209 , G01B9/04 , G01B2290/70
Abstract: 本发明提供一种白色光干涉测量装置，其包括干涉物镜、出射白色光束的白色光源、使白色光束反射的分束器，该干涉物镜使由分束器反射的白色光束在光轴的方向上会聚而照射于测量工件，并且使从测量工件反射得到的测量光束与从向测量工件会聚的白色光束分支得到的参照光束相干涉，该白色光干涉测量装置在白色光源与干涉物镜之间具有将向干涉物镜入射的白色光束校正为圆偏振光的偏振光校正部。
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公开(公告)号：CN102279009B
公开(公告)日：2015-06-17
申请号：CN201110075828.X
申请日：2011-03-29
Applicant: 株式会社三丰
Inventor： 埃里克.H.阿尔滕多夫 , 长滨龙也 , 水谷都 , 夜久亨
IPC: G01D5/347
CPC classification number: G01D5/34
Abstract: 提供了一种能够在光接收元件中获得足够光量的小型化光学编码器。光学编码器1包括具有标尺轨道2′的标尺2、和读取头3，读取头3具有向标尺轨道2′发送光线的光源31、将从光源31发射的光线透射到标尺轨道2′的标尺侧透镜32、和接收由标尺轨道2′反射通过标尺侧透镜32的光线的光接收元件33。光源31被安排在标尺侧透镜32与光接收元件33之间。光源31的光轴Lsrc在标尺2的读取方向与标尺侧透镜32的光轴Ls重合，而在与标尺2的读取方向垂直的方向与标尺侧透镜32的光轴Ls分开预定距离D。
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公开(公告)号：CN101539656A
公开(公告)日：2009-09-23
申请号：CN200910118477.9
申请日：2009-03-13
Applicant: 株式会社三丰
Abstract: 本发明涉及光学组件及测量装置，该光学组件具有：物镜(1)、配置在该物镜(1)的光轴上且将从物镜(1)射出的光束成像的成像透镜(2)、配置在物镜(1)和成像透镜(2)之间且远焦倍率(α1、α2)不同的多个远焦光学系统(11、12)以及将该多个远焦光学系统(11、12)中的任一个转换到物镜(1)的光轴上的转换机构(21)。
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