一种基于复合超表面的动态可调太赫兹波分束器

    公开(公告)号:CN114325898B

    公开(公告)日:2023-09-08

    申请号:CN202210034731.2

    申请日:2022-01-12

    Abstract: 本发明公开一种基于复合超表面的动态可调太赫兹波分束器,包括衬底层、复合材料层、定位标志和透射相位控制结构。复合材料层和定位标志位于衬底层的上表面;透射相位控制结构位于复合材料层的上表面。透射相位控制结构为相位梯度超表面。入射太赫兹波经过本动态可调太赫兹波分束器被分为两束出射太赫兹波;在此过程中,通过外加激励让复合材料层的复合材料条从绝缘态转为高电导状态,以控制出射太赫兹波的波束强度;其中激发为高电导状态的复合材料条的条数与出射太赫兹波的波束强度呈反比。本发明能将一束太赫兹光分为两束太赫兹波,并能动态调节两束波束的强度和分束比。此外,本发明还具有工艺简单,调控方式可靠,功能丰富等特点。

    一种基于空间调制偏振成像的极限带宽的确定方法

    公开(公告)号:CN111953423B

    公开(公告)日:2023-07-21

    申请号:CN202010823051.X

    申请日:2020-08-17

    Abstract: 本发明提供的是一种基于空间调制偏振成像的极限带宽的确定方法。其过程包括:A1,由成像参数双折射晶体横向剪切量Δ,像元尺寸D,相机行列数N,成像焦距f,和入射光中心波长λ1通过公式a=ΔDN/(λf)计算出在频域中被调制的位置a1;A2,对a1进行向上取整为a2和向下取整为a3;A3,由成像参数双折射晶体横向剪切量Δ,像元尺寸D,相机行列数N,成像焦距f,和确定的频域位置a2和a3通过公式λ2=ΔDN/(a2×f)和λ3=ΔDN/(a3×f)分别计算出a2和a3代表的波长为λ2和λ3;A4,得到中心波长λ1所处的使解调信号不混叠的波段λ2~λ3;A5,在波段λ2~λ3中选择相应的带宽或重新确定中心波长。本发明可用于宽波段空间调制偏振成像中解调结果不混叠的入射光带宽的确定,可广泛用于宽波段偏振遥感成像等领域。

    一种基于微热板精确温控系统的超材料吸波器

    公开(公告)号:CN112713412B

    公开(公告)日:2023-06-09

    申请号:CN202011522736.7

    申请日:2020-12-21

    Abstract: 本发明提供的是一种基于微热板精确温控系统的超材料吸波器。其特征是:包括硅基微热板1和VO2超材料吸波器2;硅基微热板1由接触电极3、4、5、6,承重梁7、8、9、10,一字梁11、12,腐蚀窗口13,加热电阻14,支撑膜15组成;VO2超材料吸波器2由金属底板层16,硅基底层17,VO2层18,金属内开口环19,金属外开口环20和硅基座21组成。本发明可用于温控超材料器件,例如超材料开关、超材料分束器、超材料滤波器、超材料调制器、超材料吸波器等,可广泛用于无线通信、传感、医学检测和诊断等领域。

    双频激光干涉测量中一种通道间实时相位延迟补偿方法

    公开(公告)号:CN115931143A

    公开(公告)日:2023-04-07

    申请号:CN202211596505.X

    申请日:2022-12-12

    Abstract: 本发明公开了一种基于双频激光干涉系统信号处理板卡中不同通道间相位延迟的测量方法,双频激光干涉信号在光电转换器下转换成电信号后通过放大器、增益补偿、模数转换器转换后转换为数字信号,对数字信号同时进行一阶正交下的混频运算及低通滤波处理,去除掉混频后信号的高频分量,后对低通滤波处理后的信号进行混频及差分运算,从而求解出变频状态下的相位延迟,后在通过FPGA内部数字频率合成器生成信号与原始信号进行混频以及低通滤波处理,从而实时消除相位延迟的影响。本发明可对变频状态下的相位延迟进行求解,消除了变频状态下相位延迟难以求解的问题,以及解决了变频状态下相位延迟无法实时补偿的问题,提高了相位测量精度,可以广泛应用于干涉型激光传感技术领域。

    一种共光路结构的激光剪切散斑干涉测量装置及方法

    公开(公告)号:CN115790364A

    公开(公告)日:2023-03-14

    申请号:CN202211497775.5

    申请日:2022-11-27

    Abstract: 本发明涉及一种共光路结构的激光剪切散斑干涉测量装置及方法,包括剪切量标定模块、共光路扩束照明模块、带有4f系统的剪切散斑干涉成像模块、控制采集处理模块。本发明采用4f系统成像方式,使得成像镜组前置,可根据被测样品的大小更换不同焦距的镜组,并应用偏振移相法,实现应变与离面位移的动态高速测量。此外本发明采用共光路结构的扩束照明方式,实现了大视场、高质量的扩束效果,同时消除了照明光轴与成像光轴的夹角误差,提高离面位移的测量精度。本发明可用于缺陷检测、应力分布和离面位移等物理量的实时监测与测量,可广泛用于复合材料、工程力学等领域。

    一种新型透射型光纤光栅光谱仪

    公开(公告)号:CN112033539B

    公开(公告)日:2023-01-10

    申请号:CN202010824765.2

    申请日:2020-08-17

    Abstract: 本发明提供的是一种新型透射型光纤光栅光谱仪。其特征是:它由光源1、透射型光纤光栅2、重力块3、重力控制系统4、光束准直器5、聚焦透镜6、探测器7、读出电路8和数据处理系统9组成。本发明可用于对物质光谱特征的检测,从而可以观测到物质的成分和结构,可广泛用于生物化学分析、工业自动检测和食品工业等领域。

    一种空间调制偏振成像检测像面长宽和像元长宽比的方法

    公开(公告)号:CN111953968B

    公开(公告)日:2022-07-12

    申请号:CN202010825528.8

    申请日:2020-08-17

    Abstract: 本发明提供的是一种空间调制偏振成像检测像面长宽和像元长宽比的方法。其过程包括:A1,对中心波长为λ1的入射光进行空间调制偏振成像,得到包含偏振信息的干涉图像;A2,对干涉图像进行变换在频域中找到中心波长λ1窄带宽入射光的Stokes矢量被调制的位置的坐标;A3,通过确定偏振信息在被调制后在频域中的位置参数计算出像元的平均长度;A4,分别计算出像元在行和列方向上的长度D1和D2;A5,通过D1和D2计算出成像相机整体在行和列上的长度,同时还能计算出像元的长宽比值,检测像元是否正确。本发明可用于相机像元尺寸的检测,可广泛用于成像设备制造检测等领域。

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