公开(公告)号：CN108593783B

公开(公告)日：2021-01-01

申请号：CN201711134044.3

申请日：2017-11-16

Applicant: 浙江大学

Inventor： 孙安玉 ,  居冰峰 ,  赖蛟娇 ,  王传勇 ,  杨筱钰 ,  孙泽青 ,  杜慧林

IPC: G01N29/34 ,  G01N29/22

Abstract: 本发明公开了一种双频共焦超声换能器，适用于生物组织定征、组织工程力学性能调控、超声无损检测等领域。具体包括压电元件、具有凹圆柱面的背衬层、射频基座以及外壳。具体有以下特征：(1)具有三个独立的压电元件及对应的射频基座；(2)压电元件为压电高分子聚合物制成的压电薄膜；(3)压电薄膜上表面覆着正电极，下表面覆着负电极；(4)压电薄膜紧密贴合在背衬层的凹圆柱面上；(5)压电薄膜的正电极通过电极引线与对应射频基座的正极相连，压电薄膜的负电极通过电极引线与对应射频基座的负极相连。本发明可以产生两个不同频率的超声波，能够实现对生物组织的力学特性评估，也可实现对材料的各向异性分析。

公开(公告)号：CN107688051B

公开(公告)日：2019-08-16

申请号：CN201710696625.X

申请日：2017-08-15

Applicant: 浙江大学

Inventor： 居冰峰 ,  王传勇 ,  孙安玉 ,  孙泽青 ,  朱吴乐 ,  薛茂盛

IPC: G01N29/04 ,  G01B17/00

Abstract: 本发明公开了基于激光超声表面波的亚表面缺陷宽度的测量方法。其步骤为：1)脉冲激光器探头和超声波探头放置在工件亚表面缺陷的一侧，且脉冲激光在亚表面缺陷和超声探头之间；2)脉冲激光器在工件表面激励出声表面波，超声探头分别测得直达表面波信号R1和从缺陷反射回的表面波信号RR1；3)取下超声探头，控制二维位移平台运动，使脉冲激光在亚表面缺陷的另外一侧，放置超声探头，且脉冲激光在亚表面缺陷和超声探头之间；4)重复步骤2)，超声探头测得直达表面波信号R2和从缺陷反射回的表面波信号RR2；5)通过两次超声探头测量得到的直达表面波信号和缺陷回波信号到达时间，二维运动平台运动位移d，以及表面波回波时间补偿系数α，计算出亚表面缺陷的宽度。本发明能够用于在位检测，且对于不同深度的和内部形状的亚表面缺陷均能准确测得其宽度。

公开(公告)号：CN108593783A

公开(公告)日：2018-09-28

申请号：CN201711134044.3

申请日：2017-11-16

Applicant: 浙江大学

Inventor： 孙安玉 ,  居冰峰 ,  赖蛟娇 ,  王传勇 ,  杨筱钰 ,  孙泽青 ,  杜慧林

IPC: G01N29/34 ,  G01N29/22

Abstract: 本发明公开了一种双频共焦超声换能器，适用于生物组织定征、组织工程力学性能调控、超声无损检测等领域。具体包括压电元件、具有凹圆柱面的背衬层、射频基座以及外壳。具体有以下特征：(1)具有三个独立的压电元件及对应的射频基座；(2)压电元件为压电高分子聚合物制成的压电薄膜；(3)压电薄膜上表面覆着正电极，下表面覆着负电极；(4)压电薄膜紧密贴合在背衬层的凹圆柱面上；(5)压电薄膜的正电极通过电极引线与对应射频基座的正极相连，压电薄膜的负电极通过电极引线与对应射频基座的负极相连。本发明可以产生两个不同频率的超声波，能够实现对生物组织的力学特性评估，也可实现对材料的各向异性分析。

公开(公告)号：CN106017371B

公开(公告)日：2018-07-06

申请号：CN201610524370.4

申请日：2016-06-29

Applicant: 浙江大学

Inventor： 居冰峰 ,  王传勇 ,  薛茂盛 ,  朱吴乐 ,  孙泽清 ,  孙安玉

IPC: G01B17/00 ,  G01B11/02

Abstract: 本发明公开了基于激光超声的表面缺陷开口宽度的测量装置及其方法。其步骤为：1)脉冲激光器探头和激光干涉仪探头放置在工件表面缺陷的一侧；2)脉冲激光器在工件表面激励出声表面波，激光干涉仪分别测得直达表面波信号R1和从缺陷反射回的表面波信号RR1；3)控制二维位移平台运动，使脉冲激光器探头和激光干涉仪探头在表面缺陷的另外一侧；4)重复步骤2)，干涉仪测得直达表面波信号R2和从缺陷反射回的表面波信号RR2；5)通过两次干涉仪测量得到的直达表面波信号和缺陷回波信号到达时间，以及二维运动平台运动位移d，计算出表面缺陷的开口宽度。本发明能够用于在位检测，且对于不同内部形状的开口缺陷均能准确测得开口的宽度。

公开(公告)号：CN107747922A

公开(公告)日：2018-03-02

申请号：CN201710920102.9

申请日：2017-09-30

Applicant: 浙江大学

Inventor： 居冰峰 ,  王传勇 ,  孙安玉 ,  孙泽青 ,  朱吴乐 ,  薛茂盛

IPC: G01B17/00 ,  G01N21/17 ,  G01N29/07

Abstract: 本发明公开了一种基于激光超声的亚表面缺陷埋藏深度的测量方法。其步骤为：1)将激光器探头安装到位移平台上；2)脉冲激光器探头和超声波探头分别放置在工件亚表面缺陷的两侧；3)脉冲激光器发出脉冲激光在工件上激励出超声波，超声探头分别测得直达表面波信号R和与缺陷相互作用后的反射回信号PR；4)控制位移平台运动，使脉冲激光在亚表面缺陷的一侧以某一距离Δd扫描n(n≥2)个点，超声探头在每扫描一个点时接收直达波和反射回波；5)通过超声探头接收得到的各个扫描点的直达波信号和缺陷回波信号的到达时间，计算出亚表面缺陷的埋藏深度。本发明能够用于超精密加工在位检测和其他一些高温高压等特殊环境中的亚表面缺陷埋藏深度的检测。