公开(公告)号：CN104941927B

公开(公告)日：2017-08-01

申请号：CN201410495997.2

申请日：2014-09-24

Applicant: 爱德万测试株式会社

Inventor： 山下毅 ,  相泽光范 ,  堀野浩光 ,  山田祐也 ,  小野泽正贵

IPC: B07C5/344 ,  B07C5/02 ,  G01R31/00

CPC classification number: G01R31/2891 ,  G01C11/00 ,  G01R1/0441 ,  G01R31/2893

Abstract: 本发明提供一种分选装置、分选装置的调整方法及测试装置，其中的分选装置是将被测器件运送到测试用插座分选装置，其中包括：执行器，在将保持被测器件的器件保持器嵌合于测试用插座之前与器件保持器相嵌合，调整器件保持器上的被测器件的位置；以及执行器调整部，将执行器嵌合于执行器嵌合单元，调整执行器的驱动量。调整执行器的位置从而提高被测器件的位置精度。

公开(公告)号：CN103207329A

公开(公告)日：2013-07-17

申请号：CN201310005092.8

申请日：2013-01-07

Applicant: 爱德万测试株式会社

Inventor： 堀野浩光 ,  小野泽正贵

IPC: G01R31/00

CPC classification number: G01R1/02 ,  G01R31/01 ,  G01R31/2867 ,  G01R31/2874 ,  G01R31/2891 ,  G01R31/2893

Abstract: 本发明提供能够缩短测试时间的处理装置。是将多个被测试器件搬送到测试用插座上的处理装置，具有：测试部，设置有插座；加热部，搬送在表面上载置多个被测试器件的托盘，将多个被测试器件的温度控制成预先规定的测试温度，将托盘搬送到测试部；器件摄像部，其在加热部内，具有沿第1方向与被测试器件同数目排列的多个摄像元件，将多个摄像元件沿与第1方向不平行的第2方向，相对于托盘的表面作相对的移动，来拍摄各个被测试器件的图像；以及位置调整部，其基于器件摄像部拍摄到的各个被测试器件的图像，调整被测试器件对插座的位置。