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公开(公告)号:CN104379347A
公开(公告)日:2015-02-25
申请号:CN201380026333.5
申请日:2013-05-21
Applicant: 第一毛织株式会社
CPC classification number: G02F1/133305 , C08G77/62 , C09D183/16 , G02F1/133345 , G02F2201/50 , G02F2201/501 , B32B9/04 , B32B2255/20 , B32B2307/7246
Abstract: 本发明的显示元件包含:基底膜;和在所述基底膜的至少一个表面上形成的阻挡层,其中,所述阻挡层包含第一无机层,并且所述第一无机层包含SiOx(1.5≤x≤2.5)作为含有氢化聚环氧硅氮烷的涂布溶液的固化剂。
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公开(公告)号:CN102569060A
公开(公告)日:2012-07-11
申请号:CN201110430768.9
申请日:2011-12-20
Applicant: 第一毛织株式会社
IPC: H01L21/31
CPC classification number: H01L21/02282 , B05D5/00 , B05D5/12 , B32B9/00 , C08G77/54 , C08G77/62 , C08L83/14 , C08L83/16 , C09D183/00 , C09D183/02 , C09D183/08 , C09D183/14 , C09D183/16 , H01L21/02164 , H01L21/02222 , Y10T428/24355
Abstract: 本发明涉及形成硅氧层的组合物及其生产方法、利用其的硅氧层及生产硅氧层的方法。更具体地,本文公开了一种用于形成硅氧层的组合物,其包含选自氢化聚硅氮烷、氢化聚硅氧硅氮烷以及它们的组合中的一种,其中折算为聚苯乙烯时,重均分子量大于或等于约50000的氢化聚硅氮烷和氢化聚硅氧硅氮烷的总和的浓度范围为小于或等于约0.1wt%。当利用根据本发明的包括氢化聚硅氧硅氮烷的用于形成硅氧层的组合物来形成硅氧层时,缺陷显著减少,从而提高硅氧层所需的绝缘特性和间隙填充性能。
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公开(公告)号:CN104109589A
公开(公告)日:2014-10-22
申请号:CN201310567460.8
申请日:2013-11-14
Applicant: 第一毛织株式会社
CPC classification number: H01L21/0206 , C08G77/54 , C08G77/62 , C09D183/14 , C09D183/16 , C11D7/266 , C11D7/5022 , C11D11/0047 , H01L21/02087 , H01L21/0209 , H01L21/02164 , H01L21/02214 , H01L21/02222 , H01L21/02282 , H01L21/02326 , H01L27/1085 , H01L28/40
Abstract: 本发明提供了用于绝缘膜的清洗液以及清洗绝缘膜的方法。公开了包含由以下化学式表示的溶剂的用于绝缘层的清洗液、以及利用所述清洗液清洗绝缘层的方法。在化学式1中,R1和Ra至Re与在详细描述中所定义的相同。
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公开(公告)号:CN103910885A
公开(公告)日:2014-07-09
申请号:CN201310718120.0
申请日:2013-12-23
Applicant: 第一毛织株式会社
CPC classification number: H01L28/92 , C08G77/00 , C08G77/62 , C09D183/16 , H01L21/02222 , H01L21/02282 , H01L21/02326
Abstract: 本发明披露了制备间隙填充剂的方法;通过所述方法制备的间隙填充剂;和使用所述间隙填充剂的半导体电容器。制备间隙填充剂的方法包括将卤代硅烷注入碱性溶剂并以约1g/hr至约15g/hr的速度加入基于100重量份卤代硅烷的约50重量份至约70重量份的氨以提供氢化聚硅氮烷。
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公开(公告)号:CN104620326B
公开(公告)日:2017-04-12
申请号:CN201380044747.0
申请日:2013-08-16
Applicant: 第一毛织株式会社
Abstract: 本发明提供一种用于氧化硅类绝缘层的组成物及其制造方法,并揭示一种氧化硅类绝缘层及其制造方法。本发明提供的用于氧化硅类绝缘层的组成物,包括氢化聚硅氮烷或氢化聚硅氧氮烷,且具有浓度为1,200ppm或小于1,200ppm的环状化合物,所述环状化合物的重量平均分子量为400或小于400。所述用于氧化硅类绝缘层的组成物可减小氧化硅类绝缘层形成期间的厚度分布,由此减少在半导体制造制程期间的化学机械抛光(CMP)制程之后在层中的缺陷。
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公开(公告)号:CN104379347B
公开(公告)日:2016-11-02
申请号:CN201380026333.5
申请日:2013-05-21
Applicant: 第一毛织株式会社
CPC classification number: G02F1/133305 , C08G77/62 , C09D183/16 , G02F1/133345 , G02F2201/50 , G02F2201/501
Abstract: 本发明的显示元件包含:基底膜;和在所述基底膜的至少一个表面上形成的阻挡层,其中,所述阻挡层包含第一无机层,并且所述第一无机层包含SiOx(1.5≤x≤2.5)作为含有氢化聚环氧硅氮烷的涂布溶液的固化剂。
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公开(公告)号:CN102585516B
公开(公告)日:2014-12-10
申请号:CN201110425397.5
申请日:2011-12-16
Applicant: 第一毛织株式会社
IPC: C08L83/14 , C08G77/54 , H01L21/31 , H01L27/108
CPC classification number: C08G77/54 , H01L21/02164 , H01L21/02216 , H01L21/02222 , H01L21/02282 , H01L28/40
Abstract: 本发明提供用于形成硅基绝缘层的组合物及其制造方法、硅基绝缘层及其制造方法。该组合物包括氢化聚硅氧硅氮烷,该氢化聚硅氧硅氮烷包括化学式1的部分和化学式2的部分,且氯浓度为1ppm或更低。在化学式1和2中,R1至R7各自独立为氢、取代或未取代C1至C30烷基、取代或未取代C3至C30环烷基、取代或未取代C6至C30芳基、取代或未取代C7至C30芳烷基、取代或未取代C1至C30杂烷基、取代或未取代C2至C30杂环烷基、取代或未取代C2至C30烯基、取代或未取代烷氧基、取代或未取代羰基、羟基或它们的组合,条件是R1至R7中至少一个为氢。利用本发明组合物可形成有少量缺陷的硅基绝缘层。
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