公开(公告)号：CN102998287A

公开(公告)日：2013-03-27

申请号：CN201210320774.3

申请日：2012-08-31

Applicant: 索尼公司

Inventor： 原雅明 ,  福本敦 ,  森藤孝文 ,  绪形昌美 ,  冈本好喜

IPC: G01N21/64 ,  H04N13/00 ,  G02B21/36 ,  G02B21/22

CPC classification number: G02B21/008 ,  G02B27/2278 ,  G02B2207/114 ,  H04N13/236

Abstract: 本发明提供了一种信息处理设备、信息处理方法、程序及信息处理系统。该信息处理设备包括校正单元，其根据显微镜的扫描方法来至少校正用于指定所生成的放大图像组的位置的位置坐标，该显微镜在垂直、水平和深度方向上扫描样品，并生成对应于样品的放大图像组的图像数据组；以及立体图像生成单元，其通过给予校正后的图像数据组视差来生成放大图像组的立体图像。

公开(公告)号：CN102331396A

公开(公告)日：2012-01-25

申请号：CN201110162675.2

申请日：2011-06-16

Applicant: 索尼公司 ,  iCyt米申技术公司

Inventor： 浩司高崎 ,  濑尾胜弘 ,  外石满 ,  晋司山田 ,  福本敦 ,  加里·杜拉克

IPC: G01N15/14

CPC classification number: G01N15/1434 ,  G01J3/024 ,  G01J3/1256 ,  G01N15/1459 ,  G01N21/53 ,  G01N21/645 ,  G02B6/14 ,  G02B6/32 ,  G02B6/4215

Abstract: 本发明公开了微粒分析装置和方法，该微粒分析装置包括：光源；第一聚光透镜，用于将来自光源的光会聚至多模光纤的第一端；第二聚光透镜，用于将从多模光纤的第二端出射的光会聚至微粒；以及检测器，用于检测通过施加来自光源的光而从微粒产生的光。

公开(公告)号：CN1302066A

公开(公告)日：2001-07-04

申请号：CN00135344.6

申请日：2000-12-15

Applicant: 索尼公司

Inventor： 筒井敬一 ,  福本敦 ,  新井雅之 ,  荒谷胜久

IPC: G11B20/12 ,  G11B7/00 ,  G11B11/10

CPC classification number: G06F3/0607 ,  G06F3/0632 ,  G06F3/0644 ,  G06F3/0677 ,  G11B7/007 ,  G11B11/10582 ,  G11B11/10597 ,  G11B20/1258 ,  G11B2020/1267 ,  G11B2020/1292 ,  G11B2220/235 ,  G11B2220/2525 ,  Y10T428/21

Abstract: 一种使用很多代光记录媒体的记录/再现装置和用在这种记录/再现装置中的光记录媒体,光记录媒体包括第一、二记录区,第一记录区分为多个分区,每个分区分为一种类型的多个子分区,这种类型是提前设置的N个类型中的一种,多个子分区被分配地址并具有固定的记录容量,在该第二记录区中记录有该种类型的标识信息。该装置把激光束聚焦在第二记录区以读出标识信息并基于标识信息在第一记录区记录信息或检测第一记录区记录的信息。

公开(公告)号：CN102331396B

公开(公告)日：2015-04-29

申请号：CN201110162675.2

申请日：2011-06-16

Applicant: 索尼公司 ,  iCyt米申技术公司

Inventor： 浩司高崎 ,  濑尾胜弘 ,  外石满 ,  晋司山田 ,  福本敦 ,  加里·杜拉克

IPC: G01N15/14

CPC classification number: G01N15/1434 ,  G01J3/024 ,  G01J3/1256 ,  G01N15/1459 ,  G01N21/53 ,  G01N21/645 ,  G02B6/14 ,  G02B6/32 ,  G02B6/4215

Abstract: 本发明公开了微粒分析装置和方法，该微粒分析装置包括：光源；第一聚光透镜，用于将来自光源的光会聚至多模光纤的第一端；第二聚光透镜，用于将从多模光纤的第二端出射的光会聚至微粒；以及检测器，用于检测通过施加来自光源的光而从微粒产生的光。

公开(公告)号：CN102192871A

公开(公告)日：2011-09-21

申请号：CN201110030405.6

申请日：2011-01-27

Applicant: 索尼公司

Inventor： 福本敦 ,  外石满

IPC: G01N15/14

CPC classification number: G01J3/1256 ,  G01J3/4406 ,  G01N15/1429 ,  G01N15/1434 ,  G01N15/1459 ,  G01N21/51 ,  G01N21/645 ,  G01N2021/4707

Abstract: 本发明披露了微粒分析设备和微粒分析方法。一种微粒分析设备，包括：光源，被配置为用光照射微粒；声光调制器，被配置为衍射由于光照射而从微粒生成的荧光；狭缝，被配置为仅允许在来自所述声光调制器的衍射光束中衍射中心波长区中的衍射光透过；以及检测器，被配置为检测透过狭缝的衍射中心波长区中的衍射光。

公开(公告)号：CN101826340A

公开(公告)日：2010-09-08

申请号：CN201010124983.1

申请日：2010-03-01

Applicant: 索尼公司

Inventor： 福本敦 ,  田中健二 ,  原雅明 ,  山川明郎

IPC: G11B7/0065

CPC classification number: G11B7/083 ,  G03H1/16 ,  G03H2225/32 ,  G03H2225/36 ,  G03H2225/60 ,  G11B7/0065 ,  G11B20/10009 ,  G11B2220/2504

Abstract: 本发明涉及再现装置及再现方法。该再现装置包括光源，其向全息记录介质发射用于再现记录信息的光，所述全息记录介质利用信号光与参考光的干涉条纹来记录信息；光照射单元，其生成用于获得根据所述记录信息的再现图像的所述参考光，并生成具有均一强度及相位的DC光，并且利用所述参考光及所述DC光两者以及仅利用所述DC光来照射所述全息记录介质；光接收单元，其对所述DC光及所述再现图像进行光接收，并对所述DC光进行光接收；以及差异计算单元，其对基于所述再现图像及所述DC光的光接收结果而获得的图像信号与基于所述DC光的光接收结果而获得的图像信号之间的差异进行计算。

公开(公告)号：CN1090414A

公开(公告)日：1994-08-03

申请号：CN93120501.8

申请日：1993-10-16

Applicant: 索尼公司

Inventor： 久保田重夫 ,  福本敦 ,  菅沼洋

IPC: G11B7/00

CPC classification number: G11B7/0033 ,  G06K1/126 ,  G11B7/0032 ,  G11B7/128

Abstract: 一种记录信息的方法和装置，其中具有宽发射区域的半导体激光器21发射的低相干和高输出的激光束在由光调制器23根据电—光效应进行光调制后照射在电影胶片25上的声轨25b上。光调制器23设置在其焦点位于调制器23和成象透镜24之间的激光束焦深范围内。采用本激光束记录声音数据的记录时间能缩短，通过调节激光束的聚焦点，斑点噪声可以防止、图象形成的质量可得到改进。

公开(公告)号：CN104755996B

公开(公告)日：2018-01-26

申请号：CN201380056004.5

申请日：2013-10-25

Applicant: 索尼公司

Inventor： 大野智辉 ,  滝口干夫 ,  福本敦

IPC: G02B27/28 ,  G02B27/48 ,  G03B21/14

CPC classification number: H04J14/06 ,  G02B27/283 ,  G02B27/48 ,  G03B21/2033 ,  G03B21/2073 ,  G03B33/06 ,  H04B10/2504 ,  H04N9/3129

Abstract: 提供了一种光学系统，其包括：光源，被配置为发射光；以及偏振分光复用装置，包括被配置为将光分为具有不同光路长度的两个偏振光束的第一棱镜、和被配置为组合所述两个偏振光束的第二棱镜。第一棱镜包括第一反射表面和面向第一反射表面的第一偏振分光表面，且第二棱镜包括第二反射表面和面向第二反射表面的第二偏振分光表面。

公开(公告)号：CN105050475A

公开(公告)日：2015-11-11

申请号：CN201480016982.1

申请日：2014-03-28

Applicant: 索尼公司

Inventor： 伊藤辉将 ,  福本敦 ,  前田史贞 ,  中钵秀弥 ,  广野游

IPC: A61B1/00 ,  A61B1/06 ,  G02B23/26 ,  G02B26/08 ,  G02B26/10

CPC classification number: G01Q60/20 ,  A61B1/00172 ,  A61B1/00177 ,  G02B21/006 ,  G02B21/0072 ,  G02B21/0076 ,  G02B23/2423 ,  G02B23/2469 ,  G02B23/26 ,  G02B26/10 ,  G02B27/0031 ,  G02B27/0068 ,  G02B27/283

Abstract: 提供了一种激光扫描观察装置，包括：窗口单元，设置在壳体的一区域中并被配置为接触或接近观察目标；物镜，被配置为通过窗口单元将激光聚集在观察目标上；光路改变元件，被配置为朝向所述窗口单元改变在所述壳体内被引导的激光的行进方向；像散校正元件，设置在所述窗口单元的前方基台并被配置为校正当激光聚集在观察目标上时发生的像散；和转动机构，被配置为使至少所述光路改变元件绕垂直于窗口单元上的激光的入射方向的转动轴转动以利用激光扫描观察目标。象散校正元件以对应于由观察深度的变化引起的像散的变化的校正量校正像散，观察深度是激光在观察目标上被聚集的位置的深度。

公开(公告)号：CN102346145B

公开(公告)日：2015-09-09

申请号：CN201110199688.7

申请日：2011-07-15

Applicant: 索尼公司

Inventor： 外石满 ,  濑尾胜弘 ,  高崎浩司 ,  山田晋司 ,  福本敦

IPC: G01N21/64 ,  G01N21/65 ,  G01N21/15

CPC classification number: G01N21/645 ,  G01N15/147 ,  G01N2021/4709 ,  G01N2021/6471

Abstract: 本发明公开了一种微粒测定装置。该微粒测定装置包括滤光器，该滤光器被分成多个区域且设置在光路上，在该光路上从用光照射的微粒发出的光被引导至光检测器。在该微粒测定装置中，该滤光器包括：具有波长选择性的第一区域，该第一区域通过波长选择性来阻断来自微粒的反射光及不需要的散射光分量并且透射荧光；以及第二区域，至少设置在该第一区域周围且不具有波长选择性，以透射需要的散射光分量。