-
Patent Agency Ranking
-
公开(公告)号：KR100487242B1
公开(公告)日：2005-06-08
申请号：KR1019980010009
申请日：1998-03-23
Applicant: 삼성전자주식회사
Inventor： 김기찬
IPC: G06F15/16
Abstract: 본 발명은 하드웨어 이중화 구현된 통신시스템에 관한 기술로서 실시간 절체할 수 있는 이중화 구현장치를 제공한다. 제1 및 제2 보오드로 이중화된 보오드에서 보오드간 실시간 절체를 위한 본 발명의 이중화 구현장치는: 상기 제1 및 제2 보오드에 구비되며 액티브제어에 의거해 액티브되어 각종 데이터 처리를 수행하는 데이터 처리부와; 상기 제1 및 제2 보오드내에 각각 구비되며 상기 데이터 처리부에 대한 동작 및 대기 제어를 수행하는 이중화제어로직부로 구성되며; 상기 이중화 제어로직부가; 절체에 관련된 자기보오드의 소오스 및 상대보오드의 소오스, 사용자의 수동절체 요구에 의거하여 절체제어신호를 출력하는 절체제어회로부와, 상기 절체제어신호에 의거하여 상기 제1보오드에서는 소정 클럭의 상승에지에서 제1사이드 액티브신호를 발생하고 상기 제2보오드에서는 상기 클럭의 이후의 하강에지에서 제2사이드 비액티브신호를 발생하는 신호 발생부로 구성한다.
-
公开(公告)号：KR1020000013465A
公开(公告)日：2000-03-06
申请号：KR1019980032334
申请日：1998-08-08
Applicant: 삼성전자주식회사
Inventor： 김기찬
IPC: H04M3/22
Abstract: PURPOSE: An apparatus connecting test apparatus of switching center to a test bus of switching center is provided to be able to at the same time test a large number of test apparatus and minimize the apparatus connecting a test apparatus to a test bus. CONSTITUTION: The apparatus connecting test apparatus of switching center to a test bus of switching center includes first relays, second relays and a relay control apparatus. One side of the first relays are connected to the test bus, which is consisted of a small number of groups, of a large number of switching center. According to the groups of the test bus other sides of the first relays are each other connected. The one side of the first relays connects to the test bus corresponding to each group. One side of the second relays is each other connected to other side of the large number of relays which is connected to each group of the test bus. Other side of the second relays is connected to a large number of test apparatus. The relay control apparatus is to control an enable of the first and second relays for a connection between the test apparatus and the test bus.
Abstract translation: 目的：将交换中心的测试设备与交换中心的测试总线相连接的设备能够同时测试大量的测试设备，并将连接测试设备的设备最小化到测试总线。 构成：将交换中心的测试装置与交换中心的测试总线连接的装置包括第一继电器，第二继电器和继电器控制装置。 第一个继电器的一侧连接到由少数交换中心的少量组成的测试总线。 根据测试总线的组，第一个继电器的另一侧彼此连接。 第一个继电器的一侧连接到与每个组对应的测试总线。 第二继电器的一侧彼此连接到连接到每组测试总线的大量继电器的另一侧。 第二继电器的另一侧连接到大量的测试装置。 继电器控制装置用于控制第一和第二继电器用于测试装置和测试总线之间的连接的使能。
-
-
-
Search Results
15
records
(took 0.016 seconds)
