광학식 복합진단 측정 장치 및 방법
    11.
    发明授权
    광학식 복합진단 측정 장치 및 방법 有权
    光学复合材料测量装置及方法

    公开(公告)号:KR101132642B1

    公开(公告)日:2012-04-02

    申请号:KR1020100013336

    申请日:2010-02-12

    Abstract: 본 발명은 광학식 복합진단 측정 장치 및 방법에 관한 것으로서, 참조데이터를 얻기 위한 선행 측정이 불필요하고, 반사율 등의 이질성을 갖는 측정대상물에 대해서도 실시간으로 정확한 측정이 가능해지는 광학식 복합진단 측정 장치 및 방법을 제공하는데 그 목적이 있는 것이다. 상기한 목적을 달성하기 위하여, 측정대상물을 이동시키는 전동스테이지; 측정대상물의 표면에 레이저광을 조사하고 측정대상물로부터 반사되는 반사광을 입력받아 간섭신호를 출력하는 간섭계; 상기 간섭계에서 조사된 레이저광을 측정대상물의 표면에 집광하여 초점을 형성하는 대물렌즈; 상기 간섭계로부터의 레이저광을 대물렌즈 쪽으로 안내하고 상기 반사광을 간섭계와 하기 오토포커싱 장치 쪽으로 분리하여 안내하는 광학계; 상기 광학계에 의해 안내되는 반사광을 검출하여 측정대상물의 이동 동안 오토포커싱을 수행하는 오토포커싱 장치; 및 측정대상물의 이동을 제어하기 위한 제어신호를 상기 전동스테이지로 출력하고 상기 오토포커싱 장치로부터 레이저광의 초점이 측정대상물의 표면에 일치되도록 하기 위한 되먹임 조절용 에러 신호를 입력받아, 상기 간섭계로부터 입력되는 간섭신호와 상기 되먹임 조절용 에러 신호를 기초로 측정대상물의 표면 정보 및 광학적 정보를 획득하는 주제어부를 포함하는 광학식 복합진단 측정 장치가 개시된다.

    듀얼 레이어 광디스크의 광 픽업 장치 및 이를 이용한 회전식 엔코더
    12.
    发明公开
    듀얼 레이어 광디스크의 광 픽업 장치 및 이를 이용한 회전식 엔코더 有权
    双层光盘的光学拾取器件和使用它的旋转编码器

    公开(公告)号:KR1020090129925A

    公开(公告)日:2009-12-17

    申请号:KR1020080095288

    申请日:2008-09-29

    Inventor: 이승엽 김경업

    Abstract: PURPOSE: An optical pickup device of a dual layer optical disc and a rotary encoder using the same are provided to grasp exactly location information and the start point of the location information, the absolute location of the dual layer optical disc by using laser beam irradiated by two different lasers. CONSTITUTION: A first linear polarizing plate(331) passes through first linear polarization. Among beams irradiated from a first semiconductor laser(341), the first linear polarization is deflected at a specified angle. A second linear polarizing plate(332) passes through second linear polarization. Among beams irradiated from a second semiconductor laser(342), the second linear polarization is deflected at an angle perpendicular to the first linear polarization. An object lens(311) irradiates duplicate polarized light to a dual layer optical disc(310).

    Abstract translation: 目的:提供双层光盘的光学拾取装置和使用该光拾取装置的旋转编码器,以通过使用照射的激光束来精确地掌握位置信息和位置信息的起始点,双重光盘的绝对位置 两种不同的激光 构成:第一线性偏振板(331)穿过第一线性偏振。 在从第一半导体激光器(341)照射的光束中,第一线偏振以特定角度偏转。 第二直线偏振板(332)通过第二线偏振。 在从第二半导体激光器(342)照射的光束中,第二线偏振以与第一线偏振相垂直的角度偏转。 物镜(311)将双重偏振光照射到双层光盘(310)。

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