公开(公告)号：KR101198065B1

公开(公告)日：2012-11-07

申请号：KR1020100063194

申请日：2010-06-30

Applicant: 한국전기연구원

Inventor： 이동훈 ,  김봉회 ,  차보경 ,  서창우 ,  황윤금 ,  전성채 ,  허영

IPC: H05G1/30 ,  A61B6/00

Abstract: 본 발명에 의한 자동 콜리메이터 제어와 방사선 촬상 시스템의 위치결정 방법 및 장치가 개시된다. 본 발명에 따른 엑스선의 조사영역을 조절하기 위한 장치는 소정 형태의 기준 격자바를 촬영대상의 관심영역에 위치시켜 촬영하여 영상 정보를 얻는 영상 입력부; 상기 영상 정보를 기반으로 영상의 크기와 관심영역의 크기를 비교하여 그 비교한 결과에 따라 시준기의 블레이드의 제1 이동거리를 산출하고, 관심 영역의 중심과 영상 센서의 중심을 비교하여 그 비교한 결과에 따라 시준기의 중심의 제2 이동거리를 산출하는 분석부; 및 상기 제1 이동 거리와 상기 제2 이동 거리에 따라 시준기의 블레이드를 조절하는 제어 수단을 포함한다. 이를 통해, 본 발명은 환자 또는 조작자가 불필요한 엑스선으로의 노출을 줄이고 조작자의 입장에서는 진단기기의 운용에 편리함을 제공할 수 있다.

公开(公告)号：KR101092216B1

公开(公告)日：2011-12-13

申请号：KR1020090116450

申请日：2009-11-30

Applicant: 한국전기연구원

Inventor： 전성채 ,  김봉회 ,  허영 ,  황윤금

IPC: H01L27/14

Abstract: 본 발명에 의한 에너지 선택적 X-선 단일 광자 계수형 독출 칩 및 파일-업 보정 방법이 개시된다. 본 발명에 따른 에너지 선택적 X-선 단일 광자 계수형 독출 칩은 X-선 검출기로부터 입력된 전자 또는 홀을 축적(charging)하고 이에 상응하는 신호 SIG
C 를 출력하는 CSA(Charge Sensitive Amplifier); 상기 신호 SIG
C 와 제1 임계치 V
th_H 와 제2 임계치 V
th_L 를 각각 비교하여 신호 SIG
H 와 신호 SIG
L 을 출력하는 판별기; 상기 신호 SIG
H 와 상기 신호 SIG
L 을 비교하여 그 비교한 결과에 따라 신호 SIG
OUT 를 출력하는 WDL(Double Discriminator Logic); 및 상기 신호 SIG
OUT 를 기반으로 이를 카운팅 또는 계수하고 그 계수한 값을 전달하는 카운터를 포함한다. 이를 통해, 본 발명은 보다 정량화된 X-선 광자의 영상정보 또는 입사된 X-선 광자의 수를 측정하고, 의도하지 않은 연속적인 광자 신호와 잡음에 의한 파일-업 발생의 문제는 해결할 수 있다.
X-선, 이미지 센서, 광자, photon, 독출 칩, readout chip, 싱글 픽셀, single pixel

公开(公告)号：KR1020110059988A

公开(公告)日：2011-06-08

申请号：KR1020090116450

申请日：2009-11-30

Applicant: 한국전기연구원

Inventor： 전성채 ,  김봉회 ,  허영 ,  황윤금

IPC: H01L27/14

CPC classification number: G01T1/17 ,  H05G1/30

Abstract: PURPOSE: An energy selective X-ray single photon counting readout chip and a pile-up compensating method are provided to prevent a pile-up due to noise and continuous photon signals by including two discriminators. CONSTITUTION: A CSA(Charge Sensitive Amplifier)(210) accumulates electrons or holes from an X-ray detector and outputs an SIGC. A discriminator outputs SIGH and SIGL by comparing the SIGC with a first threshold value and a second threshold value. A WDL(Double Discriminator Logic) outputs SIGOUT according to the comparison result by comparing the SIGH with the SIGL. A counter counts SIGOUT and transmits the counting number. The discriminator includes a first discriminator(221) and a second discriminator(222).

Abstract translation: 目的：提供能量选择X射线单光子计数读数芯片和堆积补偿方法，以防止由于噪声和连续光子信号引起的堆积，包括两个鉴别器。 构成：CSA（电荷敏感放大器）（210）从X射线检测器积聚电子或空穴并输出SIGC。 鉴别器通过将SIGC与第一阈值和第二阈值进行比较来输出SIGH和SIGL。 通过将SIGH与SIGL进行比较，根据比较结果，WDL（双重鉴别器逻辑）输出SIGOUT。 计数器对SIGOUT进行计数并发送计数号。 鉴别器包括第一鉴别器（221）和第二鉴频器（222）。

公开(公告)号：KR1020110059487A

公开(公告)日：2011-06-02

申请号：KR1020090116237

申请日：2009-11-27

Applicant: 한국전기연구원

Inventor： 전성채 ,  김봉회 ,  허영 ,  황윤금 ,  서창우

IPC: A61B6/02 ,  A61B6/12

CPC classification number: A61B6/42 ,  A61B6/502 ,  A61B2562/02 ,  G01N2223/3301 ,  G21K1/02 ,  H01L27/308

Abstract: PURPOSE: A light detecting apparatus and a method thereof are provided to reduce a size of a PCB by sensing an X-ray which is incident to a narrow gap between two PCBs via edge-on sensor chips. CONSTITUTION: A collimator(120) includes a plurality of holes for focusing incident light and passing the focused light. An image sensor substrate(130) senses the light permeating through a target object and generating an electric signal. The image sensor substrate installs a plurality of edge-on sensor chips in which photoelectric conversion elements are included. The image sensor substrate senses the permeated light which is incident from between the first PCB(131) and the second PCB(132) to a cross section of the photoelectric conversion elements. The edge-on sensor chips mounting on the first PCB are separated from one another.

Abstract translation: 目的：提供一种光检测装置及其方法，用于通过感测经由边缘传感器芯片入射到两个PCB之间的窄间隙的X射线来减小PCB的尺寸。 构成：准直器（120）包括多个用于聚焦入射光并通过聚焦光的孔。 图像传感器基板（130）感测透过目标物体的光并产生电信号。 图像传感器基板安装有包含光电转换元件的多个边缘传感器芯片。 图像传感器基板将从第一PCB（131）和第二PCB（132）之间入射的透过光感测到光电转换元件的截面。 安装在第一PCB上的边缘传感器芯片彼此分离。