レジスト下層膜形成用組成物及びパターン形成方法
    11.
    发明申请
    レジスト下層膜形成用組成物及びパターン形成方法 审中-公开
    用于抵抗下层膜形成的组合物和用于图案形成的方法

    公开(公告)号:WO2008062888A1

    公开(公告)日:2008-05-29

    申请号:PCT/JP2007/072704

    申请日:2007-11-19

    CPC classification number: G03F7/095 G03F7/11

    Abstract:  本発明のレジスト下層膜形成用組成物は、フラーレン骨格に少なくとも1つのアミノ基が結合した(A)アミノ化フラーレンと、(B)溶剤と、を含有するレジスト下層膜形成用組成物であり、エッチング耐性に優れ、ドライエッチングプロセスにおいて、下層膜パターンが折れ曲がり難く、レジストパターンを忠実に再現性よく被加工基板に転写することができる。

    Abstract translation: 本发明提供一种抗蚀剂下层成膜用组合物,其具有优异的耐蚀刻性,并且在干蚀刻工艺中不太可能引起下层膜图案的弯曲,并且可以将抗蚀剂图案真实地转印到基材上 以高重现性加工。 用于抗蚀剂下层成膜的组合物包含(A)包含连接到富勒烯骨架的至少一个氨基的(A)和(B)溶剂的胺化富勒烯。

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