公开(公告)号：FR2949163A1

公开(公告)日：2011-02-18

申请号：FR0955634

申请日：2009-08-12

Applicant: ST MICROELECTRONICS ROUSSET

Inventor： WUIDART SYLVIE

IPC: G06F21/06

Abstract: L'invention concerne un procédé et un dispositif de surveillance d'un signal numérique (EN), dans lequel : un premier transistor MOS à canal P (P1) est placé dans des conditions de dégradation de type d'instabilité en température par polarisation négative (NBTI) pendant des périodes où le signal à surveiller est dans un premier état ; une première information (V ) représentative du courant de saturation du premier transistor (P1) est mesurée quand le signal à surveiller passe dans un deuxième état ; et un signal de détection (DET) est commuté quand cette première information passe un seuil.