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11.

发明专利
ANALIZADOR DE ESPECTROSCOPIA DE PLASMA INDUCIDO POR LASER 未知

公开(公告)号：PE20150791A1

公开(公告)日：2015-06-19

申请号：PE2013000768

申请日：2013-04-19

Applicant: TECH RESOURCES PTY LTD

Inventor： RUTBERG MICHAEL , MORESCHINI PAOLO

IPC: G01N21/71 , G01J3/10

Abstract: Un analizador de espectroscopia de plasma inducido por laser (LIBS) comprende una trayectoria optica P (mostrada por la linea de rayas P1 y la linea de rayas- puntos P2) y un sistema de enfoque (o seguimiento) automatico. La trayectoria optica P enfoca un rayo laser emitido desde un laser sobre una porcion de una muestra S que va a ser analizada por el analizador, y enfoca la radiacion emitida por la muestra S cuando es irradiada por el rayo laser a un detector. El sistema de enfoque automatico es capaz de variar una longitud de la trayectoria optica P para mantener una relacion espacial constante (es decir, una distancia) entre un punto de enfoque del rayo laser y la muestra S; asi como mantener un campo de vision instantaneo constante (IFOV) del detector sobre el punto focal del laser

12.

发明专利
Analizator do spektroskopii laserowo indukowanego rozpadu 未知

公开(公告)号：PL404561A1

公开(公告)日：2014-03-17

申请号：PL40456111

申请日：2011-09-15

Applicant: TECH RESOURCES PTY LTD

Inventor： RUTBERG MICHAEL , MORESCHINI PAOLO

IPC: G01J3/10 , G01N21/71

Abstract: Analizator (10) do spektroskopii laserowo indukowanego rozpadu LIBS zawiera sciezke optyczna (P) przedstawiona liniami przerywanymi (P1) i liniami punktowo-kreskowymi (P2) oraz uklad (12) automatycznego ogniskowania (lub sledzenia). Sciezka optyczna (P) ogniskuje wiazke laserowa emitowana z lasera (14) na fragment próbki (S), która ma byc analizowana przez analizator (10), oraz ogniskuje promieniowanie emitowane przez próbke (S) podczas oswietlania wiazka laserowa do detektora (16). Uklad (12) automatycznego ogniskowania jest zdolny do zmiany dlugosci sciezki optycznej (P) w celu utrzymania stalej zaleznosci przestrzennej (tj. odleglosci) miedzy ogniskiem (18) wiazki laserowej i próbka (S), jak równiez utrzymania stalego chwilowego pola widzenia IFOV detektora (16) na ognisku lasera.

13.

发明专利
Analizador de espectroscopia de plasma inducido por laser que comprende una trayectoria optica para enfocar un rayo laser sobre o cerca de una superficie de una porcion de una muestra y posteriormente enfocar la radiacion emitida por la porcion de la muestra como respuesta a la irradiacion por el laser sobre un detector, un sistema de enfoque automatico y un transportador de porciones secuenciales de la muestra; y sistema asociado 未知

公开(公告)号：CL2013000883A1

公开(公告)日：2013-10-18

申请号：CL2013000883

申请日：2013-04-01

Applicant: TECH RESOURCES PTY LTD

Inventor： RUTBERG MICHAEL , MORESCHINI PAOLO

IPC: G01J3/10

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