光学系统及其反射型绕射光栅

    公开(公告)号:CN102869964B

    公开(公告)日:2014-08-13

    申请号:CN201080064498.8

    申请日:2010-05-07

    Inventor: 柯正浩

    Abstract: 一种光学系统(10)包括输入部(12)、预设输出面(162)及反射型绕射光栅(14)。输入部(12)用以接收光学信号。反射型绕射光栅(14)包括数个绕射结构(144)及光栅轮廓曲面(142)。绕射结构(144)用以将光学信号分离为数个光谱分量。绕射结构(144)分别以多个光栅间距设置于光栅轮廓曲面上。至少部份的光栅间距互为不同,使得光谱分量以实质上垂直于预设输出面(162)的方式射向预设输出面(162)。通过光栅轮廓曲面(142)将光谱分量聚焦于该预设输出面(162)上。

    分光器
    12.
    发明公开

    公开(公告)号:CN103703349A

    公开(公告)日:2014-04-02

    申请号:CN201280036798.4

    申请日:2012-05-28

    Abstract: 分光器(1A)具备设置有光入射部(6)的封装体(2)、贯通封装体(2)中与光入射部(6)相对的支撑部(4)的多个引销(8)、在封装体(2)内被支撑在支撑部(4)上的光检测单元(20)、以及以相对于光检测单元(20)配置在支撑部(4)侧的方式在封装体(2)内被支撑在支撑部(4)上的分光单元(30)。光检测单元(20)具有使从光入射部(6)入射了的光(L1)通过的光通过部(22)。分光单元(30)具有使通过了光通过部(22)的光(L1)进行分光并且反射到光检测部(26)的分光部(35)。引销(8)嵌到设置在光检测单元(20)的嵌部(29),与光检测部(26)电连接。

    能消除拖尾效应的光谱仪
    13.
    发明授权

    公开(公告)号:CN102741716B

    公开(公告)日:2014-02-12

    申请号:CN201180005838.4

    申请日:2011-01-10

    Inventor: 柯正浩

    CPC classification number: G01J3/02 G01J3/0205 G01J3/0259 G01J3/0262 G01J3/20

    Abstract: 一种能消除拖尾效应的光谱仪包含一本体及装设至本体的一输入部、一绕射光栅、一影像感测器以及一波导装置。输入部接收一第一光学信号并输出一第二光学信号沿着一第一光路行进。绕射光栅接收第二光学信号并将第二光学信号分离成多个光谱分量,所述光谱分量包含一特定光谱分量,其沿着一第二光路行进。影像感测器接收此特定光谱分量。波导装置包含两个彼此面对的第一与第二反射面,将第一光路及第二光路限制于第一与第二反射面之间,以导引第二光学信号及此特定光谱分量。第一及第二反射面与影像感测器的一收光面彼此隔开一预定间隙。

    光学系统及其反射型绕射光栅

    公开(公告)号:CN102869964A

    公开(公告)日:2013-01-09

    申请号:CN201080064498.8

    申请日:2010-05-07

    Inventor: 柯正浩

    Abstract: 一种光学系统(10)包括输入部(12)、预设输出面(162)及反射型绕射光栅(14)。输入部(12)用以接收光学信号。反射型绕射光栅(14)包括数个绕射结构(144)及光栅轮廓曲面(142)。绕射结构(144)用以将光学信号分离为数个光谱分量。绕射结构(144)分别以多个光栅间距设置于光栅轮廓曲面上。至少部份的光栅间距互为不同,使得光谱分量以实质上垂直于预设输出面(162)的方式射向预设输出面(162)。通过光栅轮廓曲面(142)将光谱分量聚焦于该预设输出面(162)上。

    分光模块
    16.
    发明授权

    公开(公告)号:CN102027341B

    公开(公告)日:2012-11-28

    申请号:CN200980117279.9

    申请日:2009-05-07

    Inventor: 柴山胜己

    Abstract: 在分光模块(1)中,因为光检测元件(5)被安装于中间基板(81),所以能够防止介于基板(2)的前表面(2a)与中间基板(81)之间的光学树脂剂(63)进入到光检测元件(5)的光通过孔(50)内。因此,能够防止折射和散射等的发生并能够使光(L1)恰当地入射到基板(2)以及分光部(4)。而且,因为中间基板(81)的体积比基板(2)的体积小,所以中间基板(81)在分光模块(1)的环境温度发生变化时,在比基板(2)更加接近于光检测元件(5)的状态下发生膨胀·收缩。因此,与光检测元件(5)被安装于基板(2)的情况相比,能够可靠地防止起因于分光模块(1)的环境温度的变化而使光检测元件(5)的凸块连接发生破裂折断。

    分光特性测量方法以及分光特性测量装置

    公开(公告)号:CN102680097A

    公开(公告)日:2012-09-19

    申请号:CN201210063704.4

    申请日:2012-03-12

    Abstract: 提供一种分光特性测量方法以及分光特性测量装置,用于更高精度地测量被测量光的分光特性。分光特性测量方法包括以下步骤:使波长范围为第二波长范围的光入射到在第一波长范围具有检测灵敏度的分光测量器,第二波长范围为上述第一波长范围的一部分;从与由分光测量器检测出的第一光谱中的第二波长范围以外的范围相对应的部分中获取表示杂散光成分的特性信息;以及对特性信息进行外插处理直至第一波长范围中的第二波长范围为止,来获取表示产生于上述分光测量器的杂散光成分的图案。

    分光模块
    19.
    发明公开

    公开(公告)号:CN102027341A

    公开(公告)日:2011-04-20

    申请号:CN200980117279.9

    申请日:2009-05-07

    Inventor: 柴山胜己

    Abstract: 在分光模块(1)中,因为光检测元件(5)被安装于中间基板(81),所以能够防止介于基板(2)的前表面(2a)与中间基板(81)之间的光学树脂剂(63)进入到光检测元件(5)的光通过孔(50)内。因此,能够防止折射和散射等的发生并能够使光(L1)恰当地入射到基板(2)以及分光部(4)。而且,因为中间基板(81)的体积比基板(2)的体积小,所以中间基板(81)在分光模块(1)的环境温度发生变化时,在比基板(2)更加接近于光检测元件(5)的状态下发生膨胀·收缩。因此,与光检测元件(5)被安装于基板(2)的情况相比,能够可靠地防止起因于分光模块(1)的环境温度的变化而使光检测元件(5)的凸块连接发生破裂折断。

    分光器
    20.
    发明公开

    公开(公告)号:CN101641580A

    公开(公告)日:2010-02-03

    申请号:CN200880000511.6

    申请日:2008-06-09

    Inventor: 柴山胜己

    Abstract: 本发明涉及一种分光器,其在以封装件(3)的内壁面(27、29、28)限制本体部(4)朝背面(4b)的平行方向及垂直方向移动的状态下,以封装件(3)直接支撑分光模块,由此在谋求小型化的情形下,也可确实地支撑分光模块(2),并充分确保封装件(3)的入射口(22a)、分光模块(2)的分光部(6)以及光检测元件(7)彼此的位置精度。另外,通过将导线(23)埋入封装件(3)中并以导线导出部(26)予以导出及支撑,在以引线接合法电连接导线(23)与光检测元件(7)时,可使封装件(3)的导线导出部(26)本身扮演基座的角色,并防止分光模块(2)的破损及移位等。

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