具有高信号电压及高信号/噪声比的红外光传感器

    公开(公告)号:CN102449453B

    公开(公告)日:2014-01-01

    申请号:CN201080024199.1

    申请日:2010-04-16

    CPC classification number: G01J5/34 G01J5/08 G01J5/0846

    Abstract: 本发明涉及到红外光检测器(1)的红外光传感器,包括衬底薄膜段(2)以及至少两个传感器芯片(7至10),所述至少两个传感器芯片(7至10)在所述衬底薄膜段(2)上一个接一个地相互固定,且每个包括用热电性敏感材料制成的层组件(11),所述层组件(11)与基电极(12)和头电极(13)电接触,且经设置以使得当所述层组件(11)藉由红外光照射时,每个层组件(11)的所述头电极(13)与所述基电极(12)之间存在每个状态中的电压差;以及用于两个邻近排列的传感器芯片(7至10)的每个状态中的耦合线路(14至16),利用所述耦合线路(14至16)使得所述其中一个传感器芯片(7至9)的所述头电极(13)和所述另一个传感器芯片(8至10)的所述基电极(12)以导电方式相互耦合,以使得所述传感器芯片(7至10)的所述层组件(11)以串联电路形式连接,所述串联电路在其一端处具有所述其中一个基电极(17),且在其另一端处具有所述其中一个头电极(18),在所述电极处,所述串联电路的总电压差可输出为所述层组件(11)的所述各个电压差的总和。

    测量区域的平均表面温度的无接触测量

    公开(公告)号:CN102959372A

    公开(公告)日:2013-03-06

    申请号:CN201180033238.9

    申请日:2011-05-10

    Inventor: T.齐默曼

    Abstract: 本发明涉及一种用于对第一测量区域(10)的平均表面温度进行无接触测量的装置,具有:a)第一红外传感器(7),用于检测第一测量区域(10)的第一热辐射,并且基于第一热辐射而产生第一信号;b)图像传感器(13),用于检测图像区域(16)的可见辐射,并且基于可见辐射产生照相图像,其中图像区域(16)至少部分地包括第一测量区域(10);c)处理器,用于基于第一信号确定第一测量区域(10)的平均表面温度,以及创建处理过的图像,其中处理过的图像是照相图像的至少一部分,其中处理过的图像显示在处理过的图像中的第一测量区域(10)的位置,并且其中处理过的图像显示第一测量区域的平均表面温度;d)显示器(5),用于显示处理过的图像;其特征在于,所述装置此外具有:e)透镜装置,用于改变第一测量区域(10)的大小。本发明此外涉及一种借助这种装置来无接触地测量第一测量区域(10)的平均表面温度的方法。

    热电型检测器、热电型检测装置以及电子设备

    公开(公告)号:CN102368045A

    公开(公告)日:2012-03-07

    申请号:CN201110174673.5

    申请日:2011-06-24

    Inventor: 野田贵史

    Abstract: 本发明提供了热电型检测器、热电型检测装置和电子设备。该热电型检测器包括电容器的热电型检测元件搭载于面对空穴部而由支撑部支撑的支撑部件上,其中,所述电容器包括:第一电极、第二电极以及配置在这些电极之间的热电材料。其层叠顺序为沿第一方向,支撑部、支撑部件、热电型检测元件的顺序,其中,支撑部件在至少与第一电极连接的所述第一面侧具有第一绝缘层,在将与所述第一方向相反的方向作为第二方向时,第一绝缘层与比该第一绝缘层更位于所述第二方向侧上的第二绝缘层相比,氢含有率更小。

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