光学分析器
    12.
    发明授权

    公开(公告)号:CN105738283B

    公开(公告)日:2019-07-30

    申请号:CN201510990649.7

    申请日:2015-12-24

    Inventor: 长井悠佑

    CPC classification number: G01N21/255 G01N2201/0624

    Abstract: 本发明公开一种光学分析器。光学滤光器4被放置在使用深紫外LED作为光源的光源单元1与样品池2之间。光学滤光器4是短通滤光器,其允许位于深紫外区域内的主峰值的光通过,同时阻断位于可见区域内的不需要的峰值的光。不需要的峰值的光量上的时间变化比主峰值的大得多。光学滤光器4阻断其量随着时间相当大地变化的以前的光。因此,在检测器3上获得的检测信号上的源自LED的噪声和漂移的影响被显著地减小,因此,分析准确度被改善。

    低能耗检测系统
    14.
    发明授权

    公开(公告)号:CN102854140B

    公开(公告)日:2015-03-25

    申请号:CN201210219370.5

    申请日:2012-06-28

    CPC classification number: G01D3/036 G01D5/34 G01N2201/0624

    Abstract: 一种低能耗检测系统。本发明提供了一种检测系统,其包含:发射器(1),其包含能够发射发光信号的发光二极管(DEL)和给发光二极管(DEL)供能的供电电源(A);接收器(2),其旨在感知发光二极管发射的发光信号并用于产生代表所测发光信号的第一输入信号(Sin1);测量装置,其用于测量通过发光二极管(DEL)的电流(IDEL),旨在产生代表所测电流(IDEL)的第二输入信号(Sin2);处理装置(3),其连接至接收器(2),用来提供作为第一输入信号(Sin1)和第二输入信号(Sin2)的函数的输出信号(Sout)。

    光学分析装置
    17.
    发明专利
    光学分析装置 审中-公开
    光学分析仪

    公开(公告)号:JP2016121926A

    公开(公告)日:2016-07-07

    申请号:JP2014261503

    申请日:2014-12-25

    Inventor: 長井 悠佑

    CPC classification number: G01N21/255 G01N2201/0624

    Abstract: 【課題】LED等の半導体発光素子を光源とした光分析装置において、光源由来のノイズやドリフトを軽減し、分析精度を向上させる。 【解決手段】深紫外LEDを光源とする光源部1と試料セル2との間の光路上に光学フィルタ4を設ける。この光学フィルタ4は、深紫外波長領域に存在する主要ピークの光の通過させる一方、可視波長領域に存在する不要ピークの光を遮断する、ショートパスフィルタである。主要ピークに比べて不要ピークの光量の時間的変化はかなり大きいが、光学フィルタ4によってこの光量の時間的変化の大きな光が遮断される。それにより、検出器3で得られる検出信号では、LED由来のノイズやドリフトの影響が大幅に軽減され、分析精度が向上する。 【選択図】図1

    Abstract translation: 要解决的问题:通过减少源自光源的噪声和漂移,提高用作光源的诸如LED的半导体发光元件的光学分析仪的分析精度。解决方案:光学分析仪包括滤光器 使用深紫外线LED作为光源的光源部1与样品池2之间的光路上的光路4。滤光器4是短路滤光器,其使存在深紫外线波长的主峰的光 区域通过,另一方面,阻挡存在于可见波长区域中的不必要的峰的光。 虽然不必要的峰值的光量的时间变化显着大于主峰值,但光量随时间变化的光被光滤波器4阻挡。因此,在由 检测器3,来自LED的噪声和漂移的影响大大降低,从而导致分析精度提高。选择图:图1

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