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公开(公告)号：CN101241231A
公开(公告)日：2008-08-13
申请号：CN200710063700.5
申请日：2007-02-07
Applicant: 中国科学院微电子研究所
Abstract: 本发明涉及红外成像技术领域，公开了一种红外光学成像装置，包括红外透镜、位于红外透镜后焦平面与红外透镜之间的微梁阵列、位于微梁阵列后用于汇聚微梁阵列衍射光的滤波透镜、位于微梁阵列与滤波透镜之间的半透半反镜和平行光发射光源，平行光发射光源发射的平行光被半透半反镜反射后照射到微梁阵列上，并被微梁阵列反射后平行入射到滤波透镜，还包括：直线边界滤波反射单元，位于直线边界滤波反射单元两侧对称分布的第一成像透镜和第二成像透镜，用于接收透过第一成像透镜光束的第一光学接收器和用于接收透过第二成像透镜光束的第二光学接收器。本发明同时公开了一种红外光学成像方法。利用本发明，既有很高的测量灵敏度，又有很好的抗震性能。
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公开(公告)号：CN101109657A
公开(公告)日：2008-01-23
申请号：CN200710130676.2
申请日：2007-07-16
Abstract: 复频谱色度图及颜色特征数值的计算方法属于可见光色度定量计算的色度学领域。把可见光分光光度计测得的光谱函数s(λ)·ρ(λ)或s(λ)·τ(λ)变换为复频谱矢端函数r(θ)，每一个频率的单色光即是一个色矢量。经积分整合，得出色光的色彩强度C、色相H、色彩平衡度Ba、色彩饱和度S及颜色亮度L等颜色特征数值。以此为平台，可以对两个不同颜色的合成进行预测，预测出它们的合成效率ηc及平衡效率ηba，还可以对两个相近的颜色进行色差计算(ΔL及Δ)。另外，复频谱色度图及颜色特征数值的推出，亦可用于颜色分解、颜色合成、颜色测量、色彩传递、配色计算等。此项技术应用于摄像、摄影、彩电、彩扩、印刷、印染、油漆、涂料、照明、彩色信号的识别和传递、服装的色彩搭配、装饰色彩的确定等诸多领域。
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公开(公告)号：CN100357719C
公开(公告)日：2007-12-26
申请号：CN200310108951.2
申请日：2003-11-28
Applicant: 上海天美科学仪器有限公司
IPC: G01J3/00
Abstract: 本发明公开了一种宽范围氘灯背景校正系统，包括空心阴极灯、氘灯、燃烧器前透镜、燃烧器、燃烧器后透镜、单色器、光电倍增管和信号检测处理部分，还包括位于燃烧器前透镜前面用于复合氘灯和空心阴极灯、且由步进马达带动的透反镜，所述氘灯采用脉冲电流供电，所述信号检测处理部分自动控制步进马达和可调的氘灯脉冲电流。其有益效果为：由于透反镜和可调脉冲电流高强度氘灯相结合，且能量平衡由程序自动控制，使原子吸收分光光度计的氘灯背景校正能快速地扩展到现有技术无法分析的波长最长的元素铯，即852.1nm的波长，且该系统可长期维持高精度，重复性高，校正速度快。
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公开(公告)号：CN1330948C
公开(公告)日：2007-08-08
申请号：CN200310109410.1
申请日：2003-12-15
Applicant: 中国科学院上海光学精密机械研究所
Abstract: 一种光纤光栅群时延谱的差动干涉测量装置及其测量方法，本发明光纤光栅的群时延谱的差动干涉测量装置，其特征在于包括一四端光纤耦合器，其第一端口经一光隔离器与一可调谐激光器的输出端相连，第二端口接待测光纤光栅，第三端口经光纤调相器接反射式可变延时器，第四端口接光信号接收器。利用本发明光纤光栅的群时延谱的差动干涉测量装置进行光纤光栅的群时延谱的差动干涉测量的方法具有简单方便，成本低廉，适用面较广等优点。
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公开(公告)号：CN1995974A
公开(公告)日：2007-07-11
申请号：CN200610148066.0
申请日：2006-12-27
Applicant: 中国科学院上海技术物理研究所
Abstract: 一种可靠预测HgCdTe光电响应截止波长的非接触实验方法，系综合运用透射、光电流、光调制反射和光致发光多种光谱表征手段，对77K温度下材料的截止能量进行研究。结果表明：由于缺陷/杂质能级的存在，使传统的透射光谱不能准确预测材料的光电响应截止波长；而根据经验公式估算的材料截止波长则通常偏短。红外光调制反射光谱是非接触性检测方法，又因为它与光电流谱的三阶导数谱相似，可以作为一种可靠预测材料光电响应截止波长的非接触检测手段。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN1915163A
公开(公告)日：2007-02-21
申请号：CN200610053327.0
申请日：2006-09-08
Applicant: 浙江大学
Abstract: 本发明公开了一种实现光学相干层析成像(OCT)轴向超分辨的方法及系统。在光学相干层析成像样品臂的准直镜和探测物镜之间插入光瞳滤波器，使轴向响应函数的主瓣宽度缩小到相干门之内，从而实现光学相干层析成像的轴向超分辨。同时，由超分辨光瞳滤波器导致的旁瓣则被相干门抑制，不对OCT相干成像产生有效贡献，从而确保成像对比度不因轴向超分辨而下降。本发明是一种经济简易的新型超分辨技术，可促进实现OCT系统的小型化与商业化。
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公开(公告)号：CN1825157A
公开(公告)日：2006-08-30
申请号：CN200610009514.9
申请日：2006-02-23
Applicant: 莱卡微系统CMS有限责任公司
Inventor： R·赛费尔特
CPC classification number: G02B21/362
Abstract: 本发明涉及一种具有一个光源和一个探测器装置的显微镜，其中一个照明光程在该光源和一个试件之间延伸，一个探测光程(2)在该试件和该探测器装置之间延伸。该显微镜的特征在于，所述探测器装置是可装入到探测光程(2)中的、并且总体上可更换的探测器模块(1)。此外，本发明还涉及一种相应的探测器模块(1)。
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公开(公告)号：CN1230783C
公开(公告)日：2005-12-07
申请号：CN02126252.7
申请日：2002-07-17
Applicant: 佳能株式会社
Inventor： 松岛宽
CPC classification number: H04N5/2351 , H04N5/23241 , H04N5/335
Abstract: 提供对于由摄影元件摄影的图像数据，能够把其总体范围以及被选择出的范围分别作为单独的直方图进行计算处理，并且能够进行显示的摄影装置以及摄影方法，本发明的摄影装置用微机(16)运算处理由摄影元件(6)摄影的图像数据的总体区域，以及用选择测光模式的操作部件(18)选择出的区域的各图像数据的直方图，从影像信号处理电路(10)经过EVF1驱动电路，能够在EVF12中识别并显示运算处理结果。
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公开(公告)号：CN1696726A
公开(公告)日：2005-11-16
申请号：CN200510034935.2
申请日：2005-05-27
Abstract: 本发明涉及发光二极管电性和光学测试领域，具体地说涉及一种发光二极管的自动化测试系统及方法。包括系统主机、操作控制台、PLC，系统主机包括测试发光二极管电性和光学参数的LED测试装置、对所测试发光二极管的数据进行处理的数据处理装置、以及实现数据处理装置与PLC相互通讯的接口，其特征在于：所述LED测试装置包括测试发光二极管电流电压的电性参数测试装置、测试发光二极管闸流的闸流测试装置、以及测试发光二极管光学参数的光谱测试装置。本发明发光二极管自动化测试系统及方法对正向电压、光学参数的测试精度更高，分级更准确，而且增加了对发光二极管亮度的测试。
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公开(公告)号：CN1657907A
公开(公告)日：2005-08-24
申请号：CN200510038528.9
申请日：2005-03-23
Applicant: 江苏大学
Abstract: 本发明涉及利用近红外光谱分析农产品品质食品的方法，其首先对去噪后的近红外光谱，选取合适的特征光谱谱区的宽度，把所得的整个近红外光谱分成若干个区间；然后对每个区间分别进行PLS处理；通过比较正交检验均方根误差RMSECV和预测集均方根误差RMSEP得到每个区间的最佳PLS模型；同样通过比较每个区间的最佳的PLS模型的RMSECV和RMSEP选取特征谱区区间。最后对所选取的特征波长区间进行PLS分析建立模型。其优点是通过移动窗口法可以方便的获得特征光谱谱区的宽度和最佳的特征区间。通过特征区间的选取可以减小建模运算时间，剔除噪声过大的谱区，使最终建立的农产品品质检测近红外光谱模型的预测能力和精度更高。
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