公开(公告)号：JP2005530169A

公开(公告)日：2005-10-06

申请号：JP2004514959

申请日：2003-06-19

Applicant: サーントル ナスィヨナル ドゥ ラ ルシェルシュ スイヤンティフィック (セ エヌ エール エス) ,  ユニヴェルシテ ピエール エ マリ キュリ

Inventor： マリー−ピエール ヴァリニャ ,  ドミニック オセール

IPC: G01J4/00 ,  G01N21/21 ,  G02B21/00

CPC classification number: G01N21/211 ,  G01J4/00

Abstract: 【課題】 複素屈折率ｎ
２ の基板上に形成した厚みｅ
１ と屈折率ｎ
１ の層を有しており、屈折率ｎ
０ の周囲媒体において偏光観察の際のコントラスト増強機能もしくは偏光に対するアンチ・グレア機能（眩しさ防止機能）を果たすサポートを提供する。
【解決手段】 屈折率ｎ
０ の周囲媒体３の中の交差ポラライザー間で波長λ、角度θ
０ で投射されるインコヒーレントな収束照明で観察する対象物を担持するサポートであって、このサポートの基板の複素屈折率はｎ
２ 、層２の複素屈折率はｎ
１ 、そして厚みはｅ
１ とすると、本発明のサポートは層２の厚みｅ
１ の値が２％以内であって、

ここで、

となる。
本発明はこのようなサポートを組みこんだ観察デバイスでもある。

公开(公告)号：JP2005504314A

公开(公告)日：2005-02-10

申请号：JP2003532935

申请日：2002-09-18

Applicant: カール ツアイス マイクロエレクトロニック システムズ ゲゼルシャフト ミット ベシュレンクテル ハフツング

Inventor： ドブシャル、ハンス−ユルゲン ,  ビショフ、イエルク ,  マシュケ、グンター

IPC: G01J3/36 ,  G01J3/28 ,  G01J4/00 ,  G01N21/21 ,  G01N21/27 ,  G01N21/47

CPC classification number: G01J4/00 ,  G01J3/28 ,  G01N21/211 ,  G01N21/47

Abstract: 本発明は、サンプルから出射し、発散する放射ビーム（１０）が測定のために注入される光学デバイスと、記光学デバイスの下流側に検出器（１３）が配置された検出器とを備える測定アレイに関する。 当該検出器は、一平面上に配列され、そして互いに分離して評価可能な複数の検出用画素を有する。 光学デバイス（１１）は、発散放射ビーム（１０）を、放射ビーム（１０）の伝搬方向に対して交差する第１の方向にスペクトル的に分割し、それを検出器（１３）に向けて送出する。 光学デバイスは、放射ビームが検出器（１３）に衝突する前に、伝搬方向に対して交差する第２方向に放射ビームを平行化し、放射ビームの第２方向に隣接する光線は、互いに対して平行となって、検出器（１３）に衝突する。

公开(公告)号：JP3551422B2

公开(公告)日：2004-08-04

申请号：JP7821695

申请日：1995-03-09

Applicant: 株式会社ニコン

Inventor： アール． ソガード マイケル

IPC: G02B27/58 ,  G01J1/42 ,  G01J3/04 ,  G01J4/00 ,  G01Q60/18 ,  G03F7/20 ,  H01L21/027

CPC classification number: G01J1/4257 ,  G01J3/04 ,  G01J4/00 ,  G01Q60/22 ,  G03F7/70358 ,  G03F7/70566 ,  G03F7/706

Abstract: A method and apparatus to analyze the aerial image of an optical system using a subwavelength slit. A slit configuration yields a higher signal-to-noise ratio than that achievable with a round aperture. The slit also allows the polarization of the aerial image to be analyzed. In an alternative embodiment a tunneling slit is used. The tunneling slit comprises an optically transparent ridge-like structure mounted to a substrate, the combined structure covered by a thin, planar metal film.

公开(公告)号：JP2004205500A

公开(公告)日：2004-07-22

申请号：JP2003389419

申请日：2003-11-19

Applicant: Canon Inc ,  キヤノン株式会社

Inventor： TAKEUCHI SEIJI ,  KISHIKAWA YASUHIRO ,  HATADA AKIHIRO

IPC: G01J4/00 ,  G01N21/23

CPC classification number: G01J4/00 ,  G01N21/23

Abstract: PROBLEM TO BE SOLVED: To measure birefringence in a short time using a simple constitution.
SOLUTION: The apparatus for measuring birefringence includes an incident unit for making an approximately circularly polarized light be incident on a sample, a Stokes meter for detecting the polarization state of the light from the sample, and an arithmetic part for calculating the birefringence of the sample on the basis of the Stokes parameter outputted from the Stokes meter.
COPYRIGHT: (C)2004,JPO&NCIPI

Abstract translation: 要解决的问题：使用简单的结构在短时间内测量双折射。 解决方案：用于测量双折射的装置包括用于使近似圆偏振光入射到样品上的入射单元，用于检测来自样品的光的偏振状态的斯托克斯计数器和用于计算双折射的运算部件 基于从斯托克斯计数器输出的斯托克斯参数。 版权所有（C）2004，JPO＆NCIPI

公开(公告)号：AP200001955A0

公开(公告)日：2000-12-31

申请号：AP200001955

申请日：1999-04-21

Applicant: TST TOUCHLESS SENSOR TECHNOLOG

IPC: A61B5/117 ,  G01J4/00 ,  G06K9/00 ,  G06K9/20 ,  G06T7/00 ,  G07C9/00

CPC classification number: G06K9/00033 ,  G01J4/00 ,  G06K9/2036 ,  G07C9/00158

公开(公告)号：CZ9403235A3

公开(公告)日：1995-12-13

申请号：CZ323594

申请日：1994-12-19

Applicant: ABB RESEARCH LTD

Inventor： MEIER MARKUS DR

IPC: G01J4/04 ,  G01J4/00 ,  G01N21/21 ,  G02B27/28

CPC classification number: G01J4/00 ,  G01N21/21

公开(公告)号：EP3275098A1

公开(公告)日：2018-01-31

申请号：EP16715946.6

申请日：2016-03-24

Applicant: Finisar Corporation

Inventor： BHANDARE, Suhas, P. ,  COLYAR, Mark ,  MELOCHE, David ,  GRENDA, Terence, D. ,  STOOK, Chris ,  EREIFEJ, Heider, N. ,  DEANDREA, John, J.

IPC: H04B10/50

CPC classification number: G02F1/0123 ,  G01J4/00 ,  G02F1/2257 ,  G02F2001/212 ,  H04B10/5053 ,  H04B10/50575 ,  H04B10/50577 ,  H04B10/532 ,  H04B10/548

Abstract: Embodiments include a method and apparatus used for automatic bias stabilization of a DP IQM based on MZM for transmitting DP-QPSK optical data and/or DP-16QAM optical data. The apparatus simultaneously dithers DC-bias voltages of in-phase child, quadrature-phase child, and parent MZMs with three different dither patterns in time-domain which are mutually orthogonal to each other in the frequency-domain for X and Y polarization IQ modulators. Tap monitor photodiodes detect an interference term between these three dither patterns for each polarization. The interference term is sampled using an ADC in the time domain. The time-synchronous detection method may solve a set of three simultaneous linear partial differential equations with three unknowns to compute controlled DC-bias voltages to set on the respective MZM with a solution set which may iteratively converge to a unique solution, thereby biasing the child MZM in dual-polarization IQM to transmission minimum and parent MZM in quadrature transmission.

公开(公告)号：EP2713142B1

公开(公告)日：2017-01-04

申请号：EP12186630.5

申请日：2012-09-28

Applicant: SICK STEGMANN GmbH

Inventor： Hopp, David

IPC: G01D5/34

CPC classification number: G01B11/14 ,  G01D5/345 ,  G01J4/00

公开(公告)号：EP2843374B1

公开(公告)日：2016-09-21

申请号：EP14182506.7

申请日：2014-08-27

Applicant: Kabushiki Kaisha Topcon

Inventor： Ohtomo, Fumio ,  Kumagai, Kaoru

IPC: G01D5/34

CPC classification number: G01B11/26 ,  G01B11/14 ,  G01D5/345 ,  G01J4/00

公开(公告)号：EP3063515A2

公开(公告)日：2016-09-07

申请号：EP14793249.5

申请日：2014-10-29

Applicant: University Court of The University of St Andrews

Inventor： DHOLAKIA, Kishan ,  MAZILU, Michael ,  METZGER, Klaus

IPC: G01J9/02 ,  G01J4/00 ,  G01J3/02 ,  H01S5/0687 ,  G01J1/42

CPC classification number: G01J9/0246 ,  G01J1/4257 ,  G01J3/0205 ,  G01J4/00 ,  G01J2001/0481 ,  G01J2009/0257

Abstract: A stabilisation system for stabilising an output of a controllable light or laser source comprises a randomizer for randomizing light from the controllable light or laser source to generate a speckle pattern; a detector for detecting the speckle pattern to determine one or more properties of the light and/or changes in one or more properties of the light; and a controller for controlling the controllable light or laser source based on the determined one or more properties of the light and/or changes in one or more properties of the light.