非掃描分光儀
    241.
    发明专利
    非掃描分光儀 有权
    非扫描分光仪

    公开(公告)号:TW538236B

    公开(公告)日:2003-06-21

    申请号:TW090105076

    申请日:2001-03-02

    Applicant: 康寧公司

    IPC: G01J G02B

    CPC classification number: G01J3/1809 G01J3/2803 G01J2003/2866

    Abstract: 一種光學分光儀,其中階梯光柵(echelle)陣列位於光線訊號路徑中以繞射入射光線訊號。光線訊號落於預先決定波長頻帶範圍內,該頻帶中央約為中央波長。中階梯光柵陣列具有一組多個繞射散射位置週期性地分隔至少五倍中央波長之距離。分光儀更進一步包含光感測器陣列放置於將接收由中階梯光柵陣列繞射光線產生之遠場繞射圖案以及到達輸出電子訊號,其表示遠場繞射圖案之空間圖案以及相對強度。因而,分光儀包含處理線路連接至光感測器陣列以處理電子訊號以決定出光線訊號之功率頻譜。處理器線路藉由量測遠場繞射圖案以及在一組多個不同的已知波長下決定光線空間脈衝回應(SIR)。當光線訊號投射至中階梯光柵陣列時,處理線路藉由在標定過程中所得到SIR作反捲積決定出功率頻譜,該標定係由光線訊號量測遠場繞射圖案所作之量測。

    Abstract in simplified Chinese: 一种光学分光仪,其中阶梯光栅(echelle)数组位于光线信号路径中以绕射入射光线信号。光线信号落于预先决定波长频带范围内,该频带中央约为中央波长。中阶梯光栅数组具有一组多个绕射散射位置周期性地分隔至少五倍中央波长之距离。分光仪更进一步包含光传感器数组放置于将接收由中阶梯光栅数组绕射光线产生之远场绕射图案以及到达输出电子信号,其表示远场绕射图案之空间图案以及相对强度。因而,分光仪包含处理线路连接至光传感器数组以处理电子信号以决定出光线信号之功率频谱。处理器线路借由量测远场绕射图案以及在一组多个不同的已知波长下决定光线空间脉冲回应(SIR)。当光线信号投射至中阶梯光栅数组时,处理线路借由在标定过程中所得到SIR作反卷积决定出功率频谱,该标定系由光线信号量测远场绕射图案所作之量测。

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