公开(公告)号：EP0612998B1

公开(公告)日：1997-09-03

申请号：EP94301353.2

申请日：1994-02-25

Applicant: MITSUBISHI NUCLEAR FUEL CO. ,  MITSUBISHI MATERIALS CORPORATION

Inventor： Yaginuma, Yoshitaka, c/o Tohkai Seisakusho ,  Inoue, Yoshihiro, c/o Knowledge Ind. Center

IPC: G01N21/88 ,  G21C17/06

CPC classification number: G21C17/06 ,  G01N21/8806 ,  G01N2021/8887 ,  G01N2201/102 ,  G21Y2002/202 ,  G21Y2004/403

公开(公告)号：EP0458418B1

公开(公告)日：1997-02-26

申请号：EP91201212.7

申请日：1991-05-21

Applicant: MITSUI MINING & SMELTING CO., LTD.

Inventor： Moriya, Kazuo ,  Wada, Hedio, Grand.Demeure Fukiage 203 ,  Hirai, Katsuyuki, Grand.Demeure Fukiage 203

IPC: G01N21/88

CPC classification number: G01N21/9505 ,  G01N2021/1782 ,  G01N2021/393 ,  G01N2021/4735 ,  G01N2021/8887 ,  G01N2021/8896 ,  G01N2201/102

公开(公告)号：EP0704172A2

公开(公告)日：1996-04-03

申请号：EP95306261.9

申请日：1995-09-07

Applicant: Philip Morris Products Inc.

Inventor： Longest, H. Cary ,  Lynch, James L.

IPC: A24C5/34

CPC classification number: G06T7/0006 ,  A24C5/3412 ,  G01N21/952 ,  G01N2021/8887 ,  G01N2201/102 ,  G06T2207/30108

Abstract: Substantially circular objects such as the ends of the filters of filter tipped cigarettes are inspected for acceptable appearance utilizing a blob analysis which includes imaging a peripheral region so as to provide resolution along the edge of the circular object.

Abstract translation: 使用包括成像周边区域以便沿着圆形物体的边缘提供分辨率的斑点分析来检查基本上圆形的物体，例如过滤嘴香烟的过滤器的端部的可接受的外观。

公开(公告)号：EP0366235B1

公开(公告)日：1995-06-07

申请号：EP89308534.0

申请日：1989-08-23

Applicant: PICKER INTERNATIONAL, INC.

Inventor： Hunt, Robert P. ,  Gilbrom, David L.

IPC: G01N21/89

CPC classification number: H04N5/37206 ,  G01N21/88 ,  G01N21/89 ,  G01N2021/845 ,  G01N2021/8887 ,  G01N2201/102 ,  H04N5/253 ,  H04N7/188

公开(公告)号：EP0634648A1

公开(公告)日：1995-01-18

申请号：EP94104585.8

申请日：1994-03-23

Applicant: AUTRONIC Gesellschaft für Bildverarbeitung und Systeme mbH

Inventor： Drixler, Bernhard, Dipl.-Ing. ,  Rohner, Joachim

IPC: G01N21/89

CPC classification number: G01N21/8806 ,  G01N2021/845 ,  G01N2021/8627 ,  G01N2021/8887 ,  G01N2201/102

Abstract: Eine Erfassungseinheit (20) als Scan-Box für die optronische Inspektion einer Oberfläche (12) längs einer Folge nebeneinander versetzter paralleler Streifen, insbesondere zur Klassifikation schnell bewegter Werkstücke (11) wie gehobelter Profilbretter, weist ein Gehäuse (19) mit einer Lichtkammer (21.3) und einer parallel dazu sich erstreckenden Sensorkammer (21.4) zur Aufnahme eines Sensors (15) etwa in Form einer Zeilenkamera mit langer Brennweite auf. Die von der Aufnahmerichtung (16) orthogonal durchsetzte Blicköffnung (22.5) und die von der Bestrahlungsrichtung (17) orthogonal durchsetzte Lichtöffnung (22.6) im Gehäuse (19) sind mittels Glasplatten (24) verschlossen, die zwischeneinander einen stumpfen Winkel einschließen, so daß die streifenförmigen Strahlen sich in einem Fokus an der Oberfläche (12) schneiden, die dadurch bei orthogonaler Aufnahmerichtung (16) eine schräge Bestrahlungsrichtung (17) erfährt, um kontrastarme Oberflächen-Fehler wie Vertiefungen, Erhöhungen und Öffnungen von nicht direkt durchblickbaren Löchern durch kleine Schattenränder zuverlässiger zu erfassen. Die Lichtquelle (18) kann mit hochfrequenzgespeisten Leuchtstoffröhren (32) vor einem gestreckt-wannenförmigen Hohlreflektor (31) bestückt sein; zweckmäßiger jedoch mit wenigstens einem punktförmigen (oder mit einem gestreckten) gleichspannungs-betriebenen Halogenstrahler mit Reflektor. Vorzugsweise erfolgt eine Strahlumlenkung in der Lichtkammer (21.3), um einen großen Abstand zwischen Strahler (33) und Glasplatte (24) zu erzielen und die Verlustwärme mittels eines Gebläses (35) für eine Zwangs-Umluft (40) durch die Kammern (21) innerhalb des explosionssicher gekapselten Gehäuses (19) abführen zu können.

Abstract translation: 检测单元（20），用作沿着相互移位的平行条的顺序的表面（12）的光学检查的扫描箱，特别是用于对诸如刨光木材部分的快速移动的工件（11）进行分类的检测单元 具有光室（21.3）和平行于光室延伸的传感器室（21.4）的壳体（19），用于保持基本上具有长焦距的线性阵列相机形式的传感器（15）。 通过接收方向正交地穿过的成像孔径（22.5）和通过辐射方向（17）在壳体（19）中正交通过的光孔径（22.6））通过玻璃板 （24），其彼此之间具有钝角，使得所述条形梁在所述表面（12）上的焦点彼此相交，所述表面在所述正交接收方向上经历倾斜的照射方向（17） ，为了更可靠地通过小的阴影边缘检测低对比度表面缺陷，例如通过其直接观察的孔的凹槽，孔和孔的开口。 光源（18）可以在具有延伸槽形状的腔反射器（31）的前面配备有高频供应的荧光管（32） 然而，更有利地可以配备有具有反射器的至少一个点状（或延伸）的DC驱动的卤素灯。 优选地，在光室（21.3）中进行光束偏移，以便在灯（33）和玻璃板（24）之间获得大的间隔，并且可以通过风扇去除耗散的热量 35），用于强制空气循环（40）通过防爆封装壳体（19）内的室（21）。

公开(公告)号：EP0574336A1

公开(公告)日：1993-12-15

申请号：EP93420232.6

申请日：1993-06-08

Applicant: VALINOX

Inventor： Gorria, Patrick ,  Jender, Hafid ,  Paindavoine, Michel ,  Truchetet, Frédéric ,  Gérard, Pascal ,  Ngô, Phu-An

IPC: G06F15/70 ,  G01N21/88 ,  G01N21/89

CPC classification number: G06T7/001 ,  G01N21/89 ,  G01N21/952 ,  G01N2021/8887 ,  G01N2201/102 ,  G06T2207/10016 ,  G06T2207/30136 ,  G06T2207/30164

Abstract: Le dispositif et le procédé suivant l'invention concernent la détection au défilé de défauts de surface sur des produits métalliques longs.
Ce procédé et ce dispositif comportent au moins une caméra linéaire CCD (6, 7) effectuant des expositions à des temps successifs t₁, t₂, t 3. ...t n . Des moyens informatiques (18, 19) calculent les écarts observés pour chaque pixel ou ensemble de pixels à ces temps successifs.
L'évolution de ces écarts permet de détecter les défauts et leur étendue. L'utilisation de seuils permet de réduire le bruit de fond.
Des orientations différentes de l'axe optique des caméras (6, 7) permettent la détection de différents types de défauts. Vitesse de défilement : jusqu'à 1 m/s ou davantage.
Application en particulier aux tubes de révolution (1) en métaux inoxydables ou réfractaires.

Abstract translation: 该装置和雅丁到本发明的方法涉及到表面缺陷的检测中移动的，细长的，金属物体。 此方法和该设备包括至少一个线性CCD照相机（6,7）拍摄在连续时间t1，t2，t3中，TN曝光.... 计算机装置（18，19）计算观察对每个像素或一组连续多次合成的像素的偏差。 在论文偏差变化能够检测的缺陷及其程度。 利用阈值的允许减小背景噪声。 摄像机的光轴的不同取向（6,7）允许不同类型的缺陷的检测。 移动速度：可达1米/秒或更多。 在特定的应用轴对称由不锈钢或难熔金属管（1）。

公开(公告)号：EP0571728A2

公开(公告)日：1993-12-01

申请号：EP93104269.1

申请日：1993-03-16

Applicant: Windmöller & Hölscher

Inventor： Maneke, Siegfried, Ing. ,  Marek, Rainer, Dipl.-Ing. ,  Sandkämper, Horst

IPC: G01N21/88 ,  B31B19/74

CPC classification number: B29C65/8253 ,  B29C66/43121 ,  B31B70/006 ,  B31B2150/00 ,  B31B2150/0014 ,  B31B2160/20 ,  G01N21/88 ,  G01N2021/845 ,  G01N2021/8455 ,  G01N2021/8838 ,  G01N2021/8887 ,  G01N2201/102

Abstract: Zur Prüfung der Ausbildung kontinuierlich geförderter Werkstücke, vorzugsweise der Ausbildung von Faltungen und/oder der Ausbildungen von Böden von Papiersäcken und/oder Aufdrucken o.dgl. wird der zu prüfende Bereich von einer CCD-Halbleiter-Kamera aufgenommen, und das Bild wird visuell geprüft oder durch einen Rechner mit einer Vorlage, die der Soll-Ausbildung des Werkstücks entspricht, verglichen. Um die Prüfung der Böden auf einer kurzen Förderstrecke vornehmen zu können, werden aufeinanderfolgend mindestens zwei Teilbilder des zu prüfenden Bereichs des Werkstücks aufgenommen, die sich zu dem gesamten zu prüfenden Bereich zusammensetzen lassen.

Abstract translation: 为了检查连续高级（传送）产品的形成，优选形成褶皱和/或形成纸袋和/或印象等的底部，拍摄由CCD检查的区域的图片 半导体照相机，并且目视检查图像，或者通过处理器与对应于产品所需形成的图案进行比较。 为了能够在短的输送机部分上进行底部的检查，连续地拍摄要检查的产品的区域的至少两部分图片，其可以组合成要检查的整个区域。

公开(公告)号：EP0271230B1

公开(公告)日：1993-07-21

申请号：EP87310055.6

申请日：1987-11-13

Applicant: AccuRay Corporation

Inventor： Williams, Paul

IPC: G01N21/89 ,  G01D1/14

CPC classification number: G01N21/89 ,  G01D3/022 ,  G01N2021/8874 ,  G01N2021/8887 ,  G01N2021/95615 ,  G01N2201/102

公开(公告)号：EP0446838A3

公开(公告)日：1992-01-15

申请号：EP91103693.7

申请日：1991-03-11

Applicant: FUJITSU LIMITED

Inventor： Tsukahara, Hiroyuki ,  Oshima, Yoshitaka ,  Nakashima, Masato

IPC: G01N21/88

CPC classification number: G01R31/308 ,  G01N21/95684 ,  G01N2021/1782 ,  G01N2021/8887 ,  G01N2201/102 ,  H01L24/45 ,  H01L24/48 ,  H01L24/49 ,  H01L24/78 ,  H01L24/85 ,  H01L2224/05554 ,  H01L2224/45015 ,  H01L2224/45124 ,  H01L2224/45144 ,  H01L2224/48465 ,  H01L2224/49171 ,  H01L2224/78 ,  H01L2224/859 ,  H01L2924/00014 ,  H01L2924/20752 ,  H01L2224/05599

Abstract: An optical system for inspecting bonding wires (70) on a semiconductor has a camera (1), focal length and depth adjusting means (2), an illumination device (4) for irradiating brilliantly a desired portion of an inspection object (7) with an illumination light. The focal length and depth adjusting means (2) comprises a plurality of glass plates (21, 22, ... 24) each having a different focal length and depth, and each bonding wire (70) is inspected at a plurality of levels (F 1 , F 2 , F 3 ) in height position of the wire (70) and at a plurality of portions (P, Q) thereof in its longitudinal direction to make a comparison between focal point evaluation quantities (E) at each detected position whereby wiring defects can be detected.

公开(公告)号：EP0458418A2

公开(公告)日：1991-11-27

申请号：EP91201212.7

申请日：1991-05-21

Applicant: MITSUI MINING & SMELTING CO., LTD.

Inventor： Moriya, Kazuo ,  Wada, Hedio, Grand.Demeure Fukiage 203 ,  Hirai, Katsuyuki, Grand.Demeure Fukiage 203

IPC: G01N21/88

CPC classification number: G01N21/9505 ,  G01N2021/1782 ,  G01N2021/393 ,  G01N2021/4735 ,  G01N2021/8887 ,  G01N2021/8896 ,  G01N2201/102

Abstract: A method for measuring internal defects of a specimen, comprising the steps of allowing a finely focused laser beam to be incident into a specimen from its surface and observing the scattered light of the said laser beam from inside the said specimen from the surface of the specimen and in a different direction to the optical axis of incidence of the laser beam.

Abstract translation: 一种用于测量样本的内部缺陷的方法，包括以下步骤：使精细聚焦的激光束从其表面入射到样本中，并从所述样本的表面观察来自所述样本内部的所述激光束的散射光 并且在与激光束的入射光轴不同的方向上。