紫外辐射综合测试装置
    252.
    发明授权

    公开(公告)号:CN101915612B

    公开(公告)日:2012-07-04

    申请号:CN201010248150.6

    申请日:2010-08-05

    Abstract: 本发明公开了一种紫外辐射综合测试装置,属于光学测试与计量领域。该装置在现有光谱响应度测试装置的基础上,简化了输入光学系统,增加了积分球和安装在第二移动平台上的紫外辐照度标准灯,并将积分球和电子快门对应集成在装有紫外辐亮度标准灯的第一移动平台和滤光组件上;第一移动平台与装有紫外标准探测器的第三移动平台方向一致,而与第二移动平台垂直;在数据处理系统的控制下,各标准灯或标准探测器以及被测灯或被测探测器分别切入测量光路中,从而实现紫外光谱辐射亮度、光谱辐射照度及光谱响应度的测量与标定。本发明解决了紫外辐射测量中的资源共享、节约成本的问题,而且具有操作简单、测量精度高的特点。

    分光测量装置
    253.
    发明公开

    公开(公告)号:CN102478429A

    公开(公告)日:2012-05-30

    申请号:CN201110262087.6

    申请日:2011-09-06

    Inventor: 舟本达昭

    Abstract: 本发明提供一种分光测量装置,该分光测量装置包括:发射在所述可见光波长区域无峰值波长、并且随着波长由短波向长波的增大光量增大的光的钨灯;发射在可见光波长区域具有峰值波长的光的紫色LED;将钨灯和紫色LED发射的光混合的光混合器;让在所述光混合器混合的光入射、并且使混合的光的入射光中的特定波长的光透过的标准具;接收透过标准具的光的光接收部;转换可透过标准具的光波长,并根据光接收部接收到的光来测量透过标准具的光的分光特性的测量控制部。

    谱峰完全重叠的双组分混合物同时测定的光谱分析方法

    公开(公告)号:CN101419159B

    公开(公告)日:2011-09-28

    申请号:CN200810233109.4

    申请日:2008-11-24

    Applicant: 杨季冬

    Inventor: 杨季冬

    Abstract: 本发明提供了一种谱峰完全重叠的双组分混合物同时测定的光谱分析方法,其特征在于:它是通过其中两组分标准物质的光谱分析建立待测双组分混合物的光谱分析模型,然后通过此模型用所述同一光谱分析测定所述待测双组分混合物的总量并计算得到其中两个待测组分的含量。本发明中的光谱分析方法操作简便,计算直接简单,结果可靠,可用于荧光光谱分析、紫外-可见吸收光谱分析、共振瑞利散射光谱分析或非线性二级散射光谱分析等,解决了分子光谱分析中谱峰完全重叠的双组分同时测定的问题,尤其适用于环境监测、药物分析和质量监控中的痕量双组分的同时测定。

    处理含残留催化剂的聚合物的方法

    公开(公告)号:CN102089350A

    公开(公告)日:2011-06-08

    申请号:CN200980126277.6

    申请日:2009-07-08

    CPC classification number: C08G63/823 C08G63/08 C08G63/90 G01N33/442

    Abstract: 使含有含Sn(II)、Sb(III)、Pb(II)、Bi(III)、Fe(II)、Ti(II)、Ti(III)、Mn(II)、Mn(III)或Ge(II)催化剂残留物的聚合物热稳定的方法,其通过在高于该聚合物熔融温度的温度下,用选自酮过氧化物、有机氢过氧化物、过酸、过氧化氢及其混合物的过氧化物处理该聚合物,其中所述过氧化物以基于该聚合物重量为小于0.2wt%的量使用,并且其中所述过氧化物的过氧官能团(p)与金属(M)的摩尔比为1~100;其中所述金属(M)选自Sn(II)、Sb(III)、Pb(II)、Bi(III)、Fe(II)、Ti(II)、Ti(III)、Mn(II)、Mn(III)和Ge(II)。本发明还涉及测定聚合物中金属残留含量的方法。

    显微镜和探测器模块
    257.
    发明授权

    公开(公告)号:CN1825157B

    公开(公告)日:2011-02-02

    申请号:CN200610009514.9

    申请日:2006-02-23

    CPC classification number: G02B21/362

    Abstract: 本发明涉及一种具有一个光源和一个探测器装置的显微镜,其中一个照明光程在该光源和一个试件之间延伸,一个探测光程(2)在该试件和该探测器装置之间延伸。该显微镜的特征在于,所述探测器装置是可装入到探测光程(2)中的、并且总体上可更换的探测器模块(1)。此外,本发明还涉及一种相应的探测器模块(1)。

    扩展形态学与正交子空间投影结合的端元自动提取方法

    公开(公告)号:CN101504315B

    公开(公告)日:2011-01-05

    申请号:CN200910078442.7

    申请日:2009-02-23

    Abstract: 一种扩展形态学与正交子空间投影结合的端元自动提取方法,步骤如下:(1)高光谱数据读入;(2)确定结构元素尺寸、初始与最大迭代次数;(3)由扩展膨胀、腐蚀操作计算结构元素邻域内混合度最低和最高的像元;(4)由步骤(3)得到的结果计算得到形态离心率指数值;(5)步骤(3)、(4)随迭代次数的增加不断重复,并利用步骤(3)扩展膨胀操作结果更新图像数据,直到达到最大迭代次数;(6)二值化MEI图像,得到端元数据集;(7)采用光谱角匹配方法计算得到第一个端元,并向得到端元的正交子空间投影更新端元数据集;(8)重复步骤(7),直到满足误差要求。该方法是一种稳定性强、可靠性高、精确度高的高光谱端元自动提取方法。

    基于摆动镜和透射光栅的光谱仪

    公开(公告)号:CN101551271B

    公开(公告)日:2010-08-25

    申请号:CN200910072117.X

    申请日:2009-05-25

    Abstract: 基于摆动镜和透射光栅的光谱仪,属于一种光谱仪。本发明的目的是解决目前用于工业流程在线检测用的光谱测量仪器在1000nm-1800nm的近红外波段为达到一定的分辨率会导致成本高、体积大的问题。本发明的平面透射光栅的后表面上有光栅刻痕,通过入射光纤的光束入射到双凸透镜内,经双凸透镜透射得到平行光,所述平行光入射到平面透射光栅的前表面,经前表面到达后表面被光栅刻痕第一次分光后入射到摆动反射镜内,经摆动反射镜反射后的光入射到平面透射光栅的后表面,被光栅刻痕第二次分光后再经过前表面入射到凹面反射镜内,经凹面反射镜反射后的光线被近红外探测器的输入端接收。本发明用作光谱分析仪器。

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