微阵列的化学成像系统与方法

    公开(公告)号:CN101147048A

    公开(公告)日:2008-03-19

    申请号:CN200580049276.8

    申请日:2005-04-08

    Abstract: 本发明涉及用于微阵列的化学成像的系统与方法。在一种实施形式中,本发明涉及用以对设于阵列(300)上的多个样本同时形成光谱图像的系统。此系统包括:为所述多个样本提供照明光子的照明光源(310),这些照明光子与所述多个样本中的各个相互作用而发射出相互作用光子;用来接受这多个样本的阵列(306),此阵列(300)所具外部尺寸能使这些样本在光学器件(320)的一致视场中,用来收集这些相互作用光子并将其导引给成像装置(350)的光学器件(320),此成像器件(350)同时地形成与这许多样本中的各个相对应的许多图像。

    光检测器
    272.
    发明公开

    公开(公告)号:CN101071077A

    公开(公告)日:2007-11-14

    申请号:CN200710102287.9

    申请日:2007-05-10

    CPC classification number: H01L31/02162

    Abstract: 当光入射光检测器(1)的天线层(11a、11b、11c)时,包含于入射光中的规定波长成分的光与天线层(11a、11b、11c)的表面等离子体振子结合,发生表面等离子体振子共振。由此,从天线层(11a、11b、11c)的贯通孔(13)输出近场光。从各贯通孔(13)输出的近场光通过受光面(4a、4b、4c)到达光吸收层(4)。光吸收层(4)产生与受光量相对应的电荷。由于天线层(11a、11b、11c)的凸部12的周期间隔(Λa、Λb、Λc)互不相同,在每个天线层(11a、11b、11c)与表面等离子体振子结合的光的波长成分都不同。因此,可以检测出多个波长成分的光。

    波长可调谐激光器的自动化测试控制系统及方法

    公开(公告)号:CN1995936A

    公开(公告)日:2007-07-11

    申请号:CN200510048295.0

    申请日:2005-12-31

    Abstract: 本发明涉及激光器技术领域,特别是一种波长可调谐激光器的自动化测试控制系统及方法。该系统,由计算机、通用接口总线(GPIB)板卡及数据线、光谱分析仪、程控可控电流源、直流电源、温度控制仪、热电致冷器、激光器、透镜和光纤组成,GPIB板卡连接于光谱分析仪和程控可控电流源,温度控制仪连接于热电致冷器,热电致冷器连接于激光器,光信号通过透镜和光纤传送到光谱分析仪,上述过程是用GPIB总线将计算机、程控电流源、光谱分析仪连接起来实现命令和数据的传输。

    干涉仪精确确定光学系统聚焦面的方法和装置

    公开(公告)号:CN1858632A

    公开(公告)日:2006-11-08

    申请号:CN200610027499.0

    申请日:2006-06-09

    Abstract: 一种采用干涉仪精确确定光学系统聚焦面的方法和装置,适用于对有限焦距的光学系统装调和检测。本发明的工作原理是将激光干涉仪发射的标准光通过被测光学系统后,使光反射回干涉仪。而且利用干涉仪易于在其“猫眼”位置得到干涉条纹的道理,确定光学系统的聚焦面。由于本发明利用了激光干涉仪的检测光,显著提高了光学系统聚焦面的定位精度。本发明可以实现照相物镜、显微镜、投影仪物镜、幻灯机物镜、电影放映物镜等光学系统的精密装调和检测,精确确定其聚焦面。可以显著提高装调和检测的精度,而且易于实施,易于调整,有效地解决了确定光学系统聚焦面的盲目性。

    数字绘制的配方色空间及其产生和使用方法

    公开(公告)号:CN1777795A

    公开(公告)日:2006-05-24

    申请号:CN200480010841.5

    申请日:2004-04-21

    CPC classification number: B44D3/003 G01J3/46 G01J3/462

    Abstract: 一种用色配方绘制色空间的方法,包括下述步骤:(a)用选择标准选择有限数量的色彩,与疏松材料一起使用;(b)用疏松材料配制选择的色彩和白色或黑色,产生多个色配方,这些多个色配方就提供所需体积的色空间;和(c)用算法计算另外的色配方,该算法反映色彩、白色和黑色对色的贡献及所述颜色增量替换。也揭示了该方法中的任选步骤。对于给定聚合物疏松材料来说,结果可以是填满色空间的所需区域、或甚至是全部的产生节点和计算节点的数据库。用途包括能建立、储存和传送产生节点、计算节点或两者的色配方,以通过配色电子商务供世界上的任何地方使用。

    基于长周期光纤光栅的扭曲绝对测量方法及装置

    公开(公告)号:CN1477371A

    公开(公告)日:2004-02-25

    申请号:CN03135393.2

    申请日:2003-07-09

    Applicant: 重庆大学

    Inventor: 饶云江 王义平

    Abstract: 基于长周期光纤光栅的扭曲绝对测量方法及装置,它是利用高频CO2激光脉冲在普通单模光纤中写入的长周期光纤光栅的谐振波长随着光栅扭曲而线性变化的特性,用这种长周期光纤光栅为传感元件制成新型扭曲绝对测量装置埋入智能材料中,实现对扭曲率的直接绝对测量,从而实现对工程结构扭曲的实时监控,具有广泛的应用前景。

    检测判级系统
    280.
    发明公开

    公开(公告)号:CN1470860A

    公开(公告)日:2004-01-28

    申请号:CN02126920.3

    申请日:2002-07-26

    Inventor: 张光华 林金霖

    Abstract: 一种检测判级系统,其是与一光学仪器配合以检测并判级一光学元件,且包括一数据接口、一检测模块、一标准数据库、一检测判级数据库、一判级模块以及一储存模块。其中,数据接口接收光学仪器测量光学元件所输出的一光学数据,检测模块依据光学数据产生一检测数据,判级模块比较检测数据与储存于标准数据库的标准数据以产生一判级数据,而储存模块将检测数据及判级数据储存于检测判级数据库中。本发明的检测判级系统直接透过数据接口接收光学元件的光学数据,所以能够利用自动化方式来检测并判级光学元件,以减少人为操作所导致的时间浪费及人为疏失。

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